Способ оценки качества поверхности мягких материалов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1379597
Авторы: Бабак, Зубков, Кибальченко, Овчинников, Терещенко
Текст
Ф СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИА ЛИСТИЧЕСНИРЕСПУБЛИН 1)4 С 01 В 5/28 НЫЙ КОМИТЕТ СССРОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИИ ОСУДАРСТВЕ ПО ДЕЛАМ ИЗ,а 1ЯЬЛИОТЛ Л ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН СВИДЕТЕП АВТО ности на лийии ного наконечни датчика. Датедуемой поверу с заданной ния исследуемой повер перемещенид . мерител ка и опоры контактног У 9аумана А.И.Ов,П,Бабак чик переме хности на скоростью такта по о Число пере таким, чторяемого памерений негрешности измерений ния измеря измерений, левое изме ают по и длин иным ннико силием контраектории, а выбирают ной и той ж ещений датч ССС1984 ачений иэм оследних и ое свидл, С 0 ельст 7/34 пускаемо о 54) СПОСОБ ОЦЕНКИ ОСТИ МЯГКИХ МАТЕР 57) Изобретение от ельной технике и м КАЧЕСТВА ПОВЕРХИАЛОВосится к измерире зуль ость э ела от окет быть качества алов. Цел вышение т сп и оль- поверхью изоб- очности т ее н зованоностиретени онтрол ают на ьн гкиявл атер ся п значениеределяют кпоследнего значениеследуемополусуммуреэульта снк ности эа счет ния и упроче тва пов чета з сгл(56) АвторскУ 1231399, к бы разность з раметра двух превышала до измерений. По строят эависи емого парамет экстраполиру рение и получ а фактическое параметра оп начального и в измерений.Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь 10 где А -и А , - соответственно эначения исследуемого пазовано для контроля качества поверхности мягких материалов.Целью изобретения является повыше ние точности оценки качества поверхности,На чертеже показана зависимостьзначения измеряемого параметра отчисла измерений,Способ осуществляют следующим образом.Многократно перемещают контактныйдатчик с опорой по исследуемой поверхности на базовую длину с заданнойскоростью по одной и той же траектории.Усилия, с которыми датчик перемещают по исследуемой поверхности, выбирают для каждого исследуемого материала с учетом напряжения 6 в соот"ветствии с неравенством 0,01 Ь . 6О, 14, где Ь- предел упругости. При многократном действии датчика на контролируемую поверхность мягких материалов опора и измерительныйнаконечник датчика деформируют поверхностный слой. По мере сглаживаниявозникающих неровностей на линии 30перемещения опоры и упрочнения исследуемой поверхности резко уменьшаетсяизменение высоты микронеровностей налинии перемещения измерительного наконечника.35Число перемещений датчика выбирают таким, чтобы разность значенийизмеряемого параметра двух последнихизмерений не превышала половины допускаемой погрешности измерений, т.е. 40число измерений исследуемого параметра выбирают из условияО- " - 100 с Г/2,Аь раметра при и-м и(и)-м измерениях,с- допускаемая относительная погрешность.По результатам измерений строят зависимость значения измеряемого параметра от числа измерений, зкстраполируют ее на нулевое измерение (выделено пунктиром на чертеже) и получают начальное значение исследуемого параметра, а фактическое значение исследуемого параметра определяют по формулеАо+Ап 2 где А, - начальное значение исследуемого параметра.Формула и э о б р е т е н и яСпособ оценки качества поверхности мягких материалов, заключающийся в том, что многократно перемещают контактный датчик с опорой по исследуемой поверхности на базовую длину с заданной скоростью по одной и той же траектории с постоянным усилием контакта и по зависимости значенияизмеряемого параметра от числа измерений путем ее экстраполяции на нулевое измерение получают начальное значение исследуемого параметра, о т - л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности оценки качества поверхности, число перемещений контактного датчика с опорой по ис-. следуемой поверхности выбирают таким, чтобы разность значений измеряемого параметра двух последних измерений не превышала половины допускаемой погрешности измерений, а фактическое значение исследуемого параметра определяют как полусумму начального и последнего результатов измерений.1379597 Ра,Составитель В.ХаритоновТехред М.Дидык Редактор О,Юрковецкая Корректор С,Шекмар Заказ 969/41 Тирах 680 ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д.4/5
СмотретьЗаявка
4121448, 22.09.1986
МВТУ ИМ. Н. Э. БАУМАНА
ТЕРЕЩЕНКО ЛЕОНИД МИХАЙЛОВИЧ, ОВЧИННИКОВ АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ, КИБАЛЬЧЕНКО АЛЕКСАНДР ВАЛЕНТИНОВИЧ, БАБАК СЕРГЕЙ ПЕТРОВИЧ, ЗУБКОВ НИКОЛАЙ НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 5/28
Метки: качества, мягких, оценки, поверхности
Опубликовано: 07.03.1988
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1379597-sposob-ocenki-kachestva-poverkhnosti-myagkikh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ оценки качества поверхности мягких материалов</a>
Устройство для измерения параметров поверхности
Номер патента: 1739194
Опубликовано: 07.06.1992
Автор: Титов
МПК: G01B 21/00
Метки: параметров, поверхности
...углц дифрак- Чзв ции света;чзв - скорость звука в АОМ;2 тК= - волновое число;б - размер щелевых диафрагм 8 и 6;н; К 1.Чзвр =2 к" Ъ - Кд,й,/Ь+1/ Фазометр 10 измеряет сдвиг фаз Ьр = р 1 - рг между сигналами на выходах фотоприемников 9 и 7, Тогда с учетом (2) и (3) получаемЛр=2 ю " Ь а - Кй,бЬЬ, (4) Как видно из выражения (4), фазовый сдвиг, измеряемый фазометром, пропорционален углу а, характеризующему иепрямолинейность или конусность поверхности. Второе слагаемое в (4) при а 0 компенсируется установкой нуля фазометра 10. Оценим точность устройства,можно получить; Из (4) мощью коллиматора 2, В результате дифракции света на бегущих в АОМ ультразвуковых волнах получим на его выходе дифрагированные пучки, Дифрагированные пучки через...
Устройство для измерения параметров магнитоэлектриков
Номер патента: 1275328
Опубликовано: 07.12.1986
Авторы: Литвинов, Лозяной, Пика, Прудкий, Сафонов, Юров
МПК: G01N 22/00, G01R 27/06
Метки: магнитоэлектриков, параметров
...и может быть использовано для измерения комплексной диэлектрической и компонентов тензора магнитной проницаемости вещества, 5Цель изобретения - повышение точности измерений.На чертеже представлена структурная электрическая схема устройства для измерения параметров магнитоди 1 О электриков.Устройство для измерения параметров магнитодиэлектриков содержит усилитель 1 СВЧ, первый направленный ответвитель 2, резонатор 3, образован" ный из исследуемого материала в виде правильного цилиндра из магнитозлектрика, размещенный в магнитном поле, фазовращатель 4, второй направленный ответвитель 5, частотомер 6, измеритель 7 добротности, подключенные к резонатору 3, нанример, через третий направленный ответвитель 8, электромагнит 9 и источник 10...
Способ измерения параметров датчика r, с или l
Номер патента: 1347035
Опубликовано: 23.10.1987
Авторы: Алексеенко, Крылович, Логвинович
МПК: G01R 27/02
Метки: датчика, параметров
...для В получают Для Си Ь аналогично получаютНа входе фазосдвигающей цепи (фиг. 1) формируется опорный гармонический сигнал. Определяют величину параметра В . Для простоты рассчетовхпреобразователь содержит неизменный фазосдвигающий элемент и резистор В, который может изменять свою величину от нуля до максимального значения. т,е. модулировать амплитуду сигнала на измеряемом элементе. Передаточная Функция преобразователя имеет вид 35,балх цС.(В+В ) + и)С (В+В ) ( )К,1 -1 +,С,( + где М= 2 Г, Аргумент передаточной функции 1Ч(оз) = агс 1 д () (2)50(3) 11 =1 К) Если до начала измерения выполняется условие В =со , фаза сигнала с выхода измерительного преобразователя совпадает с фазой входного сигнала. 11 ри изменении В до О на...
Способ измерения параметров rc-двухполюсника
Номер патента: 1677659
Опубликовано: 15.09.1991
МПК: G01R 27/02
Метки: rc-двухполюсника, параметров
...напряжения с круговой частотой в и амплитудой О через него будет протекать активный ток величиной соответ1677659 ственно при одном переменном и комбинированном напряжении где , Я(-) - начальное значение проводимости без и при постоянном напряжении, г, г(-) - постоянная времени затухания тока абсорбции без и при постоянном напряжении; 6 - сквозная проводимость, по величине обратная омическому сопротивлению двухполюсника 6=1/Во. Этот ток определяется двумя составляющими 1 а= аабс+1 скв Ь(-)=Зддбс(")+)скв, ГДЕ 1 аабс аабс(-) - активная составляющая тока абсорбции и при постоянном напряжении; 1 скв - ток сквозной проводимости,Поэтому по величине активной составляющей тока абсорбции можно судить об активном сопротивлении току абсорбции, ПО...
Устройство для бесконтактного измерения параметров вибрации
Номер патента: 494623
Опубликовано: 05.12.1975
Авторы: Арбузов, Васильев, Карпов
МПК: G01H 11/00
Метки: бесконтактного, вибрации, параметров
...входы ласти из Изобретение относится к об. мерения параметров движения.Известны устройства для бесконтактного измерения параметров вибрации, содержащие токовихревой датчик с обмотками измерения и возбуждения, электрически связанными с разночастотными генераторами, фильтры и блоки измерения.Однако такие устройства не позволяют одновременно измерять вибрацию, перемещение и крен контролируемого объекта.С целью устранения этого недостатка предложенное устройство снабжено двухкоординатным измерителем угла, подключенным через фильтры к выходу измерительной обмотки датчика, и блоком измерения перемещений, электрически связанным с выходом одной из обмоток возбуждения, При этом измерительная обмотка расположена симметрично и ортогонально...
Предыдущий патент: Способ образования шаблона криволинейной поверхности
Следующий патент: Устройство для измерения пространственных перемещений
Случайный патент: Способ изготовления отражательных дифракционных решеток