Способ ультразвукового контроля изделий

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 19)ЯОа 1 3 4 с 01 11 29/О ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ о СССР 1976. с.79-80 КОНТРОЛЯ Изобретение относится к нщему контролю материаловыть использовано для опреипа обнаруживаемых дефект раз уш ет ония СУДАРСТ 8 ЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(71) Научно-производственное объединение по технологии машиностроения(54) СПОСОБ УЛЬТРАЗВУКОВОГО лью изобретения является повышение точности контроля путем выбора ново. го информативного параметра. Согласно способу ультразвукового контроля изделия в последнем возбуждают ультразвуковые импульсы с широким спектром частот, принимают сигналы, отраженные от дефекта, измеряют нх амплитуду А , анализируют спектр этого сигнала 3 измеряют амплитуду А, максимальной составляющей этого спектра, принимают сигнал, отраженный от эталонной поверхности, измеряют амплитуду Аэ этого сигнала, анализируют1его спектр, измеряют амплитуду А максимальной составляющей его спектра, а тип дефекта определяют по отно шению А, А,/А А, 1 ил.Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и может быть использовано для определения типа обнаруживаемых дефектов.Целью изобретения является повышение точности контроля путем выбора нового информативного параметра для определения типа дефекта.На чертеже приведена эксперимен тальная кривая зависимости коэффициента формы Д дефекта от отношения максимальных амплитуд спектров сигналов.Способ ультразвукового контроля 15 изделий осуществляют следующим обра- зоме С помощью широкополосного преобразователя в изделие излучают последовательность ультразвуковых импульсов с широким спектром частот и принимают отраженные сигналы, по которым определяют наличие дефекта. Измеряют величину А амплитуды сигнала от 25 дефекта, затем получают частотный спектр сигнала от дефекта, выделяют частотную составляющую с максимальной амплитудой и измеряют ее величиА, зО ну А . Определяют отношение -Ксе АИзвестно, что сигналы, отраженные от объемных дефектов, имеют монотонно изменяющиеся спектры с равномерным распределением энергии по составляющим,35 а сигналы, отраженные от наклонно ориентированных дефектов, имеют осциллирующие спектры, т.е, вследствие интерференционных явлений происходит перераспределение энергии в спектре 4 О отраженного сигнала по различным частотным составляющим. Причем амплитуда отдельных составляющих спектра сигнала, отраженного от плоскостного дефекта, может превышать амплитуду составляющих спектра сигнала от объемного дефекта в несколько раэ при одинаковой величине амплитуды сигналов. Затем принимают сигнал, отраженный от эталонной поверхности. При контроле изделий прямыми преобразователями целесообразно использовать в качестве эталонной поверхности донную поверхность самого иэделия или угол, образованный двумя перпендикулярными поверхностями, или одну из донных поверхностей ступенчатого образца, расположенную на той же, что и дефект, глубине. При контроле изделий наклонным преобразователем в качестве эталонной поверхности используется наклонная поверхность клинового образца. Измеряют величину его амплитуды Аэ . Получают частотный спектр этого сигнала. Выделяют для него частотную составляющую с максимальной амплитудой, измеряют ее величину А и находят соотношениеААэЗатем находят отношениеК .4.сАэКАэси по кривой определяют коэффициентт.е, тип дефекта. В практической работе для упрощения процесса обработки можно устанавливать сигналы, отраженные от дефекта и эталонной поверхности, одинаковой амплитуды, и тогда тип дефекта определяют по отношениюК: - "- АэсФормула изобретенияСпособ ультразвукового контроля изделий, заключающийся в том, что в контролируемом изделии возбуждают ультразвуковые импульсы с широким спектром частот, принимают сигналы, отраженные от дефекта, анализируют спектр этих сигналов и по параметрам спектра определяют тип дефекта, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности контроля, измеряют амплитуду А сигнала от дефекта и амплитуду А , максимальной составляющей его спектра, дополнительно принимают сигнал, отраженный от эталонной поверхности, измеряют его амплчтуду Аэ , анализируют частотный спектр этого сигнала и измеряют амплитуду А максимальной составляющей его спектра, а тип дефекта определяют с учетом соотношенияАс АэА Аэс1370548 07Составитель Г.федоров Редактор А.Маковская Техред М.Ходанич Корректор А.Зимокосов Заказ 414/44 тираж 847 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4