Самопишущее устройство

Номер патента: 781539

Опубликовано: 23.11.1980

Авторы: Иванов, Первых, Размахнин

МПК: G01B 5/30

Метки: давлением, контакта, металлов, обработке, параметров

...площади контакта.указанная цель достигается тем,что образец из деформированного металла подвергают электролизу в раст-воре солей металлов, стоящих в рядуэлектрохимическихпотенциалов дальшеисследуемого металла, определяют площадь пятен выделившегося из соли металла на исследуемом образце, по которой судят о фактической площади контакта.Сгособ осуществляется следующимобразом.При прокатке стального слитка определяется известными способами исредствами мнкрорельеф поверхности ивеличина шероховатости валка и прокатываемого металла, а также средняяСоСтавитель С. СурковРедактор А. Шандор Техред М.Петко Корректор М. Коста Тираж 801 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб.,...

Номер патента: 1472791

Опубликовано: 15.04.1989

Авторы: Аржаев, Щербинин

МПК: G01M 17/02

Метки: контакта, опорной, параметров, пневматической, поверхностью, шины

...канавкой 10, На раме 1 установлен фиксатор 11.На протекторе пневматической шины 6 установлен в пазу или закреплен, например приклеен снаружи, проводник 12 из экранирующей оплетки с резино" вым шнуром внутри или другой конструкции. В плоскости опорного стола 2 радиально от центра его поворота размещен резистивный элемент 13,Устройство работает следующим образом.Для измерения длины контакта Ь, шины с опорной поверхностью проводник 12 устанавливают на протектор шины вующее ему положение, проводят измерение координат цругих точек контура пятна контакта шины. 3 ил,6 в ее экваториальной плоскости, При этом длина проводника Ь может быть равной длине окружности шины, замеренной по ее экватору, если требуется.провести исследования шины в ее...

Номер патента: 382167

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: H01H 49/00

Метки: контактов, параметров, регулировочных, реле, стабилизации

...Однако в дальнейшем в процессе сборки реле первичная настройка изменяется и требуется дополнительная подрегулировка контактной системы, что трудно выполнить в собранных реле.Для упрощения процесса по предлагаемому способу тренировку производят струей сжатого газа (воздуха), которую периодически прерывакт.Струю газа прерывают с частотой, рднцой или превышающей раоочую чистоту коммутации контактов реле.ДяВлецие Газа Выоиря 1 от В зя В 1 ен мост 1 От контактного давления пружин, я для термостарения пружин гдз нагревают.На чертеже показано устройство для осу. ществления описываемого способа.Устройство содержит цоколь 1 реле с по,Вцжцой пружиной 2, воздушный ряспределцт,ль,.5 е тцерстием а, сопло 4 и установочное место (Од.ло дющую колодку)...

Номер патента: 1023434

Опубликовано: 15.06.1983

Автор: Комков

МПК: H01H 49/00

Метки: контактов, параметров, реле

...управления обмотками и прямые выходы дополнительных Д-триггеров подключены через логический элемент 2-2 И-ИЛИ к четвертому входу логического элемента 4 И каждой тактовой ячейки, а инверсный выход Д-триггера каждой тактовой ячейки и контакты тумблера управле ния каждой последующей ячейки через ее дополнительные логические элементы 2 И. соответственно подключены к входам многовходовых логических элементов ИЛИ, контакты тумблера управления первой тактовой ячейки и инверсные выходы Д-триггеров блока управления обмоткани через5 10логические элементы 2 И блока управления обмотками подключены к третьему входу выходных логических элементов 3 И, синхронизирующие входы дополнительных.Д-триггеров подключенык выходу генератора синхроимпульсов,а их...

Номер патента: 426232

Опубликовано: 30.04.1974

Авторы: Изобретени, Ладари

МПК: G06F 17/18

Метки: выбросов, параметров, процессов, случайных, статистических

...выходе О, если реализуется случайный процессх(1;) (Е, Импульсы с выходов знаковой схемы 2 проходят через схему логического умножения И 3 или 4, перебрасывая триггер5 в соответствующее положение, Триггер 5перебрасывается каждый раз, когдаЯдп х Я)да х (г - т),т. е. когда происходит переход преобразованного оператором Ядп случайного процесса через уровень Е. Если заранее зафиксировать число Й этих переходов, то оценка средней частоты выбросов Жф(Е) выразится какР (31 дп х (8;) )(Е) 1=1где 1 - время анализа случайного процесса, т. е, время, в течение которого произойдет зафиксированное число Й переходов случайного процесса через уровень Е, ааР Ядах(8, =1, если Ядах(1,) + Ядах(6 т), О, если Ядах(1,) = Ядах(Ь 1).Отсчет времени анализа 1...