Стереоскопический микроскоп

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 119) 111)э 1) 4 С 02 В 21/2 ПИСАНА ВТОРСНОМУ ИЗОБРЕТЕНИЯ точи асов кл.350 ОСКО к опт ль изобре- перспеко иэобраполях в ах наклои предРиг.1 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(54) СТЕРЕОСКОПИЧЕСКИЙ МИК (57) Изобретение относится ческому приборостроению. Ц тения - уменьшение влияния тивных искажений на качест жения при больших линейных пространстве предметов и у на оптической оси к плоско метов. Оптическая схема микроскопа состоит из двух одинаковых ветвей, оптические оси которых наклонены к общей плоскости предметов на угол ф . При наблюдении предмета возникает несовпадение иэображений точки В, создаваемых обеими ветвями при наблюдении череэ микроскоп. Перемещение одной из ветвей в двух взаимно- перпендикулярных направлениях параллельно плоскости предмета с сохранением угла наклона оптических осей к плоскости предметов и угла между оптическими осями ветвей вызывает сдвиг изображений друг относительно друга, приводящий к перераспределе- . й нию перспективных искажений по полю. 4 ил.074273Изобретение относится к оптическому приборостроению и может бытьиспользовано в разных областях народного хозяйства, где применяются стереоскопические микроскопы, в частности в биологии, медицине, микроэлектронике, металлургии и др,Бель изобретения - уменьшениевлияния перспективных искажений накачество изображения при больших линейных полях в пространстве предметов и углах наклона оптической оси кплоскости предметов.На фиг.1 изображена оптическаясхема стереомикроскопа при наблюде-.нии края поля зрения; на фиг.2 - линейное поле в пространстве предметовстереомикроскопа; на фиг. 3 - наблюдаемое изображение края линейногополя в пространстве предметов безперемещения ветви; на фиг.4 - наблюдаемое изображение края линейногополя после перемещения одной из ветвей.На фиг.2 - 4 приняты следующиеобозначения: А,В,С, О - точки предметов; А, Б, С, О, - изображениясоответствующих точек предмета вплоскости изображения Р компонентаизображения соответствующих точекпредмета в плоскости изображения Ркомпонента К 1 второй ветви. На фиг,4пунктиром обозначено положение ветвипосле ее перемещения для компенсацииперспективных искажений,Оптическая схема стереомикроскопафиг,1) имеет две одинаковые ветви,оптические оси которых наклонены кобщей плоскости предметов Р на, уголПлоскость Р проходит через точкупересечения оптических осей ветви -точку О. Каждая ветвь состоит издвух компонентов К 1 и К 2. Положительный компонент К 1 выполнен в виде положительной двусклеенной линзы, составленной из линз с оптическими силами противоположных знаков и отрицательного оптического, элемента, который находится на расстоянии от первой линзы,равном 1,25 - 1,3 фокусного расстояния первой линзы. Оптическая сила отрйцательного элемента является по абсолютной величине в 78 раз меньше оптической оси стереомикроскопа и в 1,8 - 2 раза большесилы первой положительной линзы. Компонент К 2 представляет телескопическую систему и установлен с возможностью разворота оптической оси вокруг центра выходного зрачка предшествующей системы компонента К 1 для обзора по всему полю зрения, не вводя при этом расфокусировку системы стереомикроскопа.При наблюдении предмета (фиг.2) из-за наклона оптической оси ветви и компонента К 1 в плоскостях изображения Р компонентов К 1 первой и второй ветвей возникают перспективные искажения. При наблюдении края поля зрения (фиг,1) видна картина (фиг,З), по которой видно, что отрезок СО наблюдается неискаженным, а для точки В перспективные искажения первой и второй ветвей выражаются в несовпадении изображений этой точки, создаваемых обеими ветвями при наблюдении через микроскоп, Это несовпадение приводит к изменению углового стереоскопического параллакса в прострастве изображений микроскопа или к непараллельности осей выходящих пучков, что при наблюдении выражается в потере качества и двоении изображения. Для данного стереомикроскопа при р= 83 - 85" и линейном поле зрения 2 У = (28-32) мм перспективные искажения достигают максимально допустимых величин а х с, и д (фиг, 3) .Для устранения неравномерности распределения перспективных искажений производится перемещение одной из ветвей в двух взаимно перпендикулярных направлениях параллельно плос. кости предмета Р с сохранением угла наклона оптических осей к плоскости предметов и угла между оптическими осями ветвей, При этом изображения сдвигаются. друг относительно друга (фиг. 4) что эквивалентно перераспределению перспективных искажений по полю таким образом, что для точки В они уменьшаются примерно в два раза, а для отрезка СО вводятся искажения, равные величине уменьшенных в точке В, где между всеми соответствующими точками изображения обеих ветвей перспективные искажения не превышают по величине половину допустимых. Наличие указанного перемещения ветви позволяет увеличить линейное поле компонента К 1 и 1,5 раза по сравнению со схемой, где перемещение отсутствует. Так, для данного стереомикроскопа линейное поле в пространстве 5 О 5 20 25 30 35 40 45 50 55/4 Тираж 522 ВНИИПИ Государственного по делам изобретений 3035, Москва, Ж, РаушПодпис аказ омитета СССР открытийая наб., д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная предметов составляет 42-45 мм, что приводит после перераспределения искажений к величинам, равным допустимым между всеми соответствующими точками изображений обеих ветвей. Формула изобретенияСтереоскопический микроскоп, имеющий две одинаковые ветви, оптические оси которых не параллельны и на клонены на один и тот же угол к плоскости, предметов, каждая из ветвей содержит два компонента, первый из них наклонен к оптической оси ветви и имеет положительную силу, а второй выполнен ввиде телескопической системы, о т -л и ч а ю щ и й с я тем, что, сцелью уменьшения влияния перспективных искажений на качество изображения при больших линейных полях впространстве предметов и углах наклона оптической оси к плоскости предметов, одна из ветвей выполнена свозможностью перемещения в двух взаимно перпендикулярных направленияхпараллельно плоскости предметов присохранении угла наклона оптическихосей к плоскости предметов и угламежду оптическими осями ветвей.