Способ определения температуры поверхности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1255874
Авторы: Колотыркин, Петрова, Томашпольский
Текст
;ч 0 ЬЕ ИСА РСКОМ В 10 У 33 И.Я.Коло.8)ии Яф 50-21867,детельство01 К 7/40.ДЕЛЕНИЯ ТЕМП АТУР 57) Изобретурным измерить темперафотоэлектрощью фотоэлтого перед ние относится к ниям и поэволяе уру поверхности ином спектрометр ктронных спектро оздействием рен темпераизме-образцове с пов. Для геновУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ(54) СПОСОБ ОПРЕПОВЕРХНОСТИ ского излучения на исследуемую поверхность устанавливают диэлектричес"кий датчик, приводя его в тепловоеравновесие с ней,и регистрируют фотоэлектронный спектр датчика, а температуру поверхности определяют посдвигу линий фотоэлектронного спектра относительно положения линийспектра от незаряженной поверхностидатчика. В качестве датчика используют диэлектрическую поверхностьобразца. Для воспроизводимости результата необходимо соблюдать одинаковые условия облучения датчика ирегистрации спектров. Степень зарядки и сдвиг спектральных линий зависятот температуры поверхности. Сдвиглиний позволяет судить о температуреповерхности. 1 з.п. ф-лы, 1 илл.Изобретение относится к областитемпературных измерений.Целью изобретения явпяется измерение температуры поверхности образцовв фотоэлектронном спектрометре с помощью фотоэлектронных спектров.На чертеже представлена градуировочная кривая для измерения температуры.Диэлектрический датчик приводят втепловое равновесие с исследуемойповерхностью образца, помещенного вкамеру электронного спектрометра.Под действием рентгеновского излучения на поверхности датчика образует"ся стабильный положительный заряд,которьй.приводит к одновременномусдвигу всех линий фотоэлектронногоспектра датчика относительно положениялиний незаряженной поверхности. Длявоспроизводимости результатов необходимо соблюдать одинаковые условия облучения датчика и регистрации спектров,.Степень зарядки и, следовательно,сдвиг спектральных линий зависят оттемпературы поверхности. Таким обра-.зом, сдвиг линий позволяет судить отемпературе поверхности;Если 1. - смещение линии и интервале Ь 1 то температура, отвечающаяЬТэтому сдвигу Т "- 1,Здесь ЬТ = Т щ Т 1 ЬТ (Е- 7- ) - (1 - Е ), где 1, - таб.эичное значение положения линии в фогоэлектронном спектре на незаряженнойповерхности, . .1, - соответственно максимальное и минимальное смещения линии в диапазоне температур ЬТ,Для повышения точности измеренийследует пользоваться градуированнымграфиком (фиг.1),В случае измерения температурыповерхности диэлектрика в качестве датчика температуры служит сам исследуемый образец.П р и м е р , В качестве датчикаиспользуют монокристалл титаната бария ВаТхО. 11 ри комнатной температуре линии фотоэлектронного спектра этого кристалла сдвинуты на 11 эВ.10 При нагреве его до 500 К сдвиг линийуменьшается,до 1 эВ. Таким образом, в интервале температур 300-500 К линии сдвигаются на 10 эВ. Для измерения промежуточных температур строит ся градуировочная кривая.Формула изобретения1. Способ определения температуры 20 поверхности, заключающийся в воздействии рентгеновского излучения наисследуемый объект и регистрации фотоэлектронного спектра, о т л и ч аю щ и й с я тем, что, с целью расши ;н.ния температурного диапазона измерений, повышения точности, воспроизводимости и упрощения измерений, перед воздействием рентгеновского излучения на поверхность,исследуемогообьЗг екта устанавливают диэлектрическийдатчик, приводят его в тепловое равновесие с ней и регистрируют фотоэлектронный спектр датчика, а температуру поверхности определяют по 35сдвигу линий фотоэлектронного спектра относительно положения линийгспектра от незаряженной поверхностидатчика.2. Способ по и. 1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что в качестве датчика используют диэлектрическую поверхность образца,%у Тираж 778 ВНИИПИ Государственного к по делам изобретений и 113035, Москва, Ж, Рауш
СмотретьЗаявка
3775115, 31.07.1984
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-7629
ПЕТРОВА ОЛЬГА ВАЛЕНТИНОВНА, КОЛОТЫРКИН ИВАН ЯКОВЛЕВИЧ, ТОМАШПОЛЬСКИЙ ЮРИЙ ЯКОВЛЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01K 7/40
Метки: поверхности, температуры
Опубликовано: 07.09.1986
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1255874-sposob-opredeleniya-temperatury-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения температуры поверхности</a>
Предыдущий патент: Способ измерения температуры кирсановой и петрова
Следующий патент: Устройство для градуировки образцовых термопреобразователей в реперных точках
Случайный патент: Способ изготовления труб