Способ контроля технологического процесса
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
союз сонетснихсоциАлистичесникРЕСПУБЛИК дцВ 23 150 ТЕТ ССС И ОТНЯТ ОСУДАРСТВЕННЫЙ ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕ(54) СПОСОБКОГО ПРОЦЕСС ТРОЛЯ ТЕХНОЛОГИЧЕС ИСАНИЕ ИЭОБР АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Научно-исследовательский институт проблем машиностроения приМВТУ им. Н,Э. Баумана(56) Авторское свидетельство СССРУ 971620, кл. В 23 Я 15/00, 1981 801255 8(57) Изобретение относится к технологии механической обработки. Цельизобретения - повышение качестваповерхности, точности контроля,производительности обработки. Параметры волновых процессов измеряютодновременно с обработанной ювенильной поверхности и необработаннойповерхности. В качестве параметраволновых процессов выбирают электромагнитное излучение. По разнице полученных сигналов определяют режимыобработки. Это позволяет оценитьшероховатость поверхности детали.2 ил.рости распространения ВН (" 5000 м/с),а экзоэлектронная эмиссия имеетместо Только на обработанной поверхности по своей физической сути. Электромагнитное излучение от ВН несет информацию в основном о характере разрушения в зоне контакта инструмента с деталью, а электромагнитное излучение от экзоэлектронной эмиссии свидетельствует о состоянии поверхностных слоев обработанной поверхности - твердости, наклспа, шероховатости, Поэтому, проводя одновременно измерения электромагнитного излучения с двух поверхностей, можно повысить точность контроля технологического процесса, повысить качество обрабатываемой поверхности и производительность обработки за счет возможности повышения режимов обработки.П р и м е р. Датчики 1 и 2 электромагнитного излучения устанавливают на одинаковом расстоянии от оси инструмента 3 и на одинаковом расстоянии от поверхностей детали 4. Датчики выполнены в виде антенн электромагнитного излучения и могут иметь различное конструктивное оформление. При испытаниях применяют характерные индуктивные антенны. Для исключения влияния стружки корпуса датчиков заппвцают бронировкой. После предварительного усиления сигнал поступает в блок фильтров, где выбирается наиболее информативный частотный диапазон 60-1200 кГц. После обработки сигнала в амплитудном дискриминаторе, широкополосном усилителе, пиковом детекторе и интенсиметре сигнал запибывается на лентесамописца. В качестве информативныхпараметров записывается амплитуда иинтенсивность электромагнитного излучения. При наличии устройствасравнения на ленте самописца можно,непосредственно получать искомуювеличину разницы сигналов от датчика 1 и 2. На графике приведены зависимости амплитуды (А) и интенсивности (Н 1 сигналов электромагнитного излучения от датчика 1 (кривая а) и от датчика 2 (кривая о), а также измеренные значения шероховатости поверхности 1 (кривая 6) от времени обработки . Для материала ХН 77 ТЮ, обрабатываемого с режимами, скорость резания 11255387Изобретение относится к технологии механической обработки и можетнайти применение при изготовлениидеталей, к качеству поверхности которых и точности изготовления 5предъявляются повышенные требования.Цель изобретения - повышение качества поверхности, точности контроля и производительности обработкиза счет контроля параметров электромагнитного излучения с обработаннойювенильной поверхности и с необработанной поверхности и разницы между ними и управления режимами обработки по результатам контроля. 15На фиг, 1 изображена схема реализации способа", на фиг. 2 - графикизменения сигналов электромагнитного излучения амплитуды (А) и интенсивности Н) от времени обработ-, 20ки .Устройство для реализации способа содержит датчик 1, измеряющийэлектромагнитное излучение с необработанной поверхности, датчик 2,измеряющий электромагнитное излучение с обработанной ювенильной поверхности, инструмент 3, деталЬ 4.Обозначены также направление и 1 вращения детали и инструмента, записьо ЗОс датчика 1, запись 4 с датчика 2,кривая 6 - изменение шероховатостиповерхности, Ь . - разница сигналов .с датчиков 1 и 2.Сущность способа заключается вследующем.При механической обработке материалов резанием например, фрезерованием, точением, алмазным выглаживанием образуется новая ювенильная 40поверхность, качество которой в существенной мере зависит от режимовобработки - скорости, подачи инструмента, усилия прижатия интентора,глубины резания. 45Одним из информативных факторов,объективно отражающих состояние поверхности, является электромагнитное излучение, генерируемое в результате воздействия инструмента на материал. Основной вклад в уровеньэлектромагнитного излучения вносятволны механических напряжений (ВН)и экзоэлектронная эмиссия (ЭЭ).Причем, ВН способствуют одинаковомуэлектромагнитному излучению как собработанной так и с необработанной поверхности ввиду большой ско4 55387 4 Ь, 4 Ье 41 Ь МЦ Ф б1 3ФеР Составитель В.АлексеенкоТехред И.Попович Корректор М,Максимишинец ку едакт Заказ 4760/16 Тирах 826 Подписное ИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 13035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4оиэводственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проек 3 2 = 0,72 м/с, поцача 5 = 0,07 мм/об. глубина резания= 0,25 мм/об.Резец ВК 8.Из графиков следует, что при возрастании сигналов электромагнитного излучения от обоих датчиков шероховатость поверхности не изменяется 1 а, = ог , тогда как при увеличении разницы между измеренными сигналами ( д 1 = д 2 = д 3)ь 4 ь 5 шероховатость начинает расти, Следовательно, до врзмени ь не следует изменять режимы, а затем (время э ) необходимо выбирать другие режимы или прекращать процесс обработки.При необходимости назначать новые режимы на новые материалы необходимо построить кривые зависимости Я , И на нескольких произвольных режимах, определить разницу между показаниями датчиков 1 и 2 на каждом режиме и выбрать для обработки деталей режим, при котором разница. начинает увеличиваться через наибольшее время с начала технологическогопроцесса механической обработки,Формула изобретения5 Спссоб контроля технологическогопроцесса механической обработки,заключающийся в том, что измеряютпараметры волновых процессов, возни, кающих в зоне резания, и режимывыбирают из условия соответствия зна"чений параметров волновых процессовзаданным, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью повышения качест ва поверхности, точности контроляи производительности, одновременноизмеряют параметры электромагнитногоизлучения с обработанной и с необра.ботанной поверхности, определяют 20 разность между ними, а режимы обработки выбирают из условия соответствия заданным значениям полученнойразности.
СмотретьЗаявка
3876357, 03.04.1985
НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ПРОБЛЕМ МАШИНОСТРОЕНИЯ ПРИ МВТУ ИМ. Н. Э. БАУМАНА
КАМАЛОВ ВИЛЬСОН САХАПОВИЧ, БАРЗОВ АЛЕКСАНДР АЛЕКСАНДРОВИЧ, ВДОВИН АНАТОЛИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ЗАРУБИНА ОЛЬГА ВАСИЛЬЕВНА
МПК / Метки
МПК: B23Q 15/00
Метки: процесса, технологического
Опубликовано: 07.09.1986
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1255387-sposob-kontrolya-tekhnologicheskogo-processa.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля технологического процесса</a>
Предыдущий патент: Устройство для настройки инструмента на станках с чпу
Следующий патент: Фиксирующее устройство
Случайный патент: Способ управления спектральным диапазоном малоинерционного свечения твердотельного электронно-оптического излучателя.