Устройство для контроля параметров жидкокристаллических индикаторных панелей

(504 С 09 С И ТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ СТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ,Аасся кных и аметрамиышениедостигика, втммутато1 ил. т е рогоа и УДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ ПИСАНИЕ ИЗОБР(71) Всесоюзный научно-исследовательский институт геофизических методов разведки(72) А.Б. Беклемишев и М.И, Алексее (53) 681,325 (088.8)56) Авторское свидетельство СССР У 427354, кл. С Об К 15/18, 1972.Вистиня Л.К. и др. Об измерении контрастных и временных характеристик жидкокристаллических устройств отображения: Межвуз. сб. Жидкие кристаллы. 1976, с. 140-143. 54) УСТРОЙМЕТРОВ ЖИДКПАНЕЛЕЙ(57) Изобретение относ ти проектирования матр каторов с заданньки па Цель изобретения - пов родействия устройства введением второго счет дешифратора, ключей, к функциональных связей.,Изобретение относится к проектированию жидкокристаллических (ЖК) матричных индикаторов с заданными параметрами.Цель изобретения - повышение 5 быстродействия устройства.На чертеже представлена функциональная схема устройства.Устройство содержит первый счетчик 1, первый дешифратор 2, синхро низатор. 3, второй счетчик 4, второй дешифратор 5, ключи 6, коммутатор 7, элементы 8 сопряжения, делитель 9 напряжения, датчик 10 эталонных напряжений, горизонтальные 11 и вер тикальные 12 шины ЖК-индикаторной панели и шину 13 нулевого потенциала.Синхронизатор 3 выполнен в виде генератора прямоугольных импульсов, 20 подключенного к входам счетчиков 1 и 4Процесс контроля, оценки и оптимизации параметров ЖК-матриц с помощью предлагаемого устройства осу ществляют следующим образом,Сначала подготавливают ЖК-матрицу, представляющую собой две ваку- умно напыленные стеклянные подложки с заданной конфигурацией строк 30 и столбцов.Делитель 9 напряжения через элементы 8 сопряжения соединен с горизонтальными и вертикальными шинами ЖК-индикаторной панели.35После подключения источников питания (не показаны) устройство готово к работе. Контроль, оценку и оптимизацию характеристик ЖК-материалов начинают с установки в режиме сброса первого 1 и второго 4 счетчиков и частоты синхроимпульсов.Затем в режиме счета наблюдают (и при необходимости регистрируют) результат автоматического формирования за данного подсистемой символа. Повторяют процесс, изменяя в широком диапазоне уровни возбуждающих (стирающих) напряжений, частоту синхроимпульсов. Заданные уровни напряже 39 1ния и частоты позволяют количественно оценить времена переключения,их соотношения, эффективность считывания, пороговые характеристики,крутизну вольт-контрастной характе"ристики. Устройство позволяет автоматизировать и ресурсные испытанияобразцов ЖК-материалов с применениемпромьшленных герметиков, при этомколичественно контролируется деградация электрических и оптическиххарактеристик.В результате удается достаточнобыстро установить пригодность тогоили иного ЖК-состава для матричнойиндикации и оптимизировать параметрыреальной матрицы и управляющих орга"нов,Формула из обре те ния Устройство для контроля параметров жидкокристаллических индикаторных панелей, содержащее синхронизатор, выход которого подключен к входу первого счетчика, выход которого соединен с входом первого дешифратора, выходы которого соединены с горизонтальными шинами индикаторной панели, горизонтальные и вертикальные шины индикаторной панели через элементы сопряжения подключены к выходу делителя напряжений, вход которого подключен к датчику эталонных напряжений, о т л и ч а ющ е е с я тем, что, с целью повышения быстродействия устройства,оно содержит второй счетчик, вход которого подключен к выходу синхронизатора, второй дешифратор, вход которого соединен с выходом второго счетчика, ключи, первые входы которых подключены к выходам второго дешифратора, а вторые входы - к ши- Вне нулевого потенциала, и коммутатор, входы которого соединены с выходами ключей, а выходы - с соответствующими вертикальными шинами индикаторной панели.1254539 Состав Техред ель А. Горност Б,Кадар Ко Редактор А. О тор Л, Патай. Заказ 4724/55 зводственно-полиграфическое предприятие,г. Ужгород оектная Тираж 455 ВНИИПИ Государственног по делам изобретений 113035, Москва, 3-35, Рауш