Образец для ультразвуковой дефектоскопии слоистых материалов

СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИРЕСПУБЛИН ц 4 с 01 и 29 ГОСУДАРСТ ПО ДЕЛАМ ЫИ КОМИТЕТ СССРНИЙ И ОТКРЫТИЙ АНИЕ ИЭОБРЕТЕ ОРСК СВИДЕТ СТ(56) Авторское свидетельство СССРУ 561130, кл. С 01 Х 29/04, 1974,Дефектоскоп АД. Техническоеописание Иа, 2778-110, Кишинев, завод "Электроприбор", 1978,черт. Иа, 5. 170,022,(54) ОБРАЗЕЦ ДЛЯ УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ДЕфЕКТОСКОПИИ СЛОИСТЫХ МАТЕРИАЛОВ(57) Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и можетбыть использовано для дефектоскопиислоистых материалов, например стеклопластиков. Целью изобретения является повышение удобства эксплуатацииза счет обеспечения возможности контроля дефектов, расположенных на разной глубине и точности определенияразмеров дефектов за счет лучшей имитации дефекта в образце. Образец содержит прямоугольные пластины материала, соединенные между собой слояЯ 012247 ми клея, размещенные в последних между пластинами модели дефектов, образующие соответственно два параллельных боковым поверхностям ряда моделей дефектов с монотонно изменяющимися в каждом ряду размерами. Каждая модель дефекта выполнена в виде двух слоев пленки из материала с акустическим сопротивлением близким к акустическому сопротивлению материала пластин, первый иэ которых соответствует по размерам и форме дефекту и размещен на поверхности одной иэ пластин, а второй превышает по размерам первый и приклеен к нему и а пластинам. В процессе контроля изде лия сравнивают максимальную амплитуду огибающей сигналов от дефекта и ширину ее раскрытия на заданном уровне с величинами этих же параметров, полученных для различных моделей дефектов на образце, по равенству величин первого параметра определяют глубину залегания дефекта, а по равенству величин второго параметра - размер дефекта. 2 нл,Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для определения размеров и глубины залегания дефектов типа непроклея в слоистых материалах, например, в стеклопластиках.Цель изобретения - расширение функциональных возможностей образца и повышение точности определения размеров дефектов, путем обеспечения 1 О возможности контроля дефектов, расположенных на разной глубине и эа счет лучшей имитации дефекта типа непроклея в образцеНа фиг. 1 изображен образец для 15 ультразвуковой дефектоскопии слоистых материалов, вид сверху; на Фиг2 - то же, разрез, вид сбоку.Образец содержит прямоугольные пластины 1-3 материала, соединенные 2 О между собой слоями 4 клея, размещенные в последних между пластинами 1 и 2 модели 5-7 дефектов и между пластинами 2 и 3 модели 8-10 дефектов, образующие соответственно два парал лельных боковым поверхностям 11 и 12 ряда моделей дефектов с монотонно изменяющимися в каждом ряду на шаг, равный заданной точности изме рения, размерами, причем размещенные ЗО на разной глубине одинаковые по размерам модели 5 и 8, 6 и 9, 7 и 10 дефектов, образуют ряды, параллельные боковым поверхностям 13 и 14 образца, Каждая модель дефекта выпол- З иена в виде двух слоев 15 и 16 пленки из материала с акустическим сопротивлением, близким к акустическому сопротивлению материала пластин, причем слой 15 пленки соответствует по размерам и форме дефекту и размещен на поверхности одной из пластин, а слой 16 пленки превышает по размерам слой 15 пленки и за счет наличия липкого слоя 17 на его поверх - ности прикреплен к слою 15 пленки и пластине, При этом непроклей создается только между пластиной слоем 15 пленки. В качестве пленки может быть использована полнхлорвиниловая пленка толщиной 0,05-0,1 м,Позициями 18 и 19 (Фиг, 1) обозначены ультразвуковые преобразователи,.Образец использу 1 от следующим образом.Наклонными преобразователями 18Я и 19 в процессе их перемещения по поверхности образца, сначала симметрично относительно ряда моделей 5-7 дефектов, затем относительно ряда моделей 8-10 дефектов, излучают и принимают ультразвуковые колебания, измеряют при этом амплитуды сигналов от каждого дефекта, строят их огибанищъв, измеряют максимальную амплитуду огибающей и ширину ее раскрытия на заданном уровне, например, равном 0.5 от максимальной амплитуды, сравнивают их с величинами этих же параметров сигналов, полученных ири той же базе измерения на контролируемом изделии и по равенству максимальных амплитуд, огибающих, определяют глубину залегания дефекта в изделии, а по равенству величин ширины раскрытия - его размер.Такни образом, образец для ультразвуковой дефектоскопии слоистых материалов обладает более широкими Функциональными возможностями вследствие. обеспечения возможности контроля дефектов, расположенных на разной глубинеи позволяет повысить точность определения размеров дефектов за счет лучшей имитации реальных дефектов типа непроклея в образце,Формула изобретенияОбразец для ультразвуковой дефектоскопии слоистых материалов, выполненный в виде двух склеенных между собой прямоугольных пластин материала с моделями дефектов, размещенных в нем, в параллельном его боковым поверхностям ряду, в порядке монотонного изменения нх размеров, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей образца и повышения точности определения размеров дефектов, образец снабжен по меньшей мере одной дополнительной пластиной, склеенной с одной нз основных и соответственно по меньшей мере одним рядом моделей дефектов, аналогичным первому, ряды моделей дефектов размещены между разными пластинами в клеевом слое и образуют параллельные другой боковой поверхности образца ряды моделей дефектов одинакового размера, размещенных на разной глубине, причем каждая модель цефекта выполнена в виде двух слоев пленки из материала с акустическим сопротивлением, близким к акустическому сопротивлению материала пластин, первый из которых соответствует по размерам н Форме дефек.Волови ед Тираж 778 ВНИИПИ Государственно по делам изобретен 113035; Москва, Ж, 44 ПодписноеСССР аказ го ий т тийнаб., д. 4/5 от ушскПроизводственно-полиграфическое предприятие г.ужгород, ул.Проектная ту и размещен на поверхности однойиз пластин, а второй превышает по 122471 б 4 размерам первый и приклеен к нему и пластинам.