Зондовая головка для измерения электрических параметров микросхем
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик п 790372(23) П рноритет по делам иэааретеиий и открытий(54) Я ГОЛОВКА ЙЛ ПАРАМЕТРОВ ЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСРОС ХЕМ Изобретение относится к области радиотехники и может быть использованопри контроле. микросхем на неразрезаннойпластине,Известны зондовые головки, содержащие размещенные в диэлектрическом корпусе зонды, в виде. заостренных стержнейс диэлектрическим покрытием, позволяющим уменьшить шаг между зондамиОднако введение диэлектрика междузондами приводит к увеличению паразитных емкостей системы, что значительноухудШает ее электрические параметры,Известны зондовые головки для измерения электрических параметров микросхемсодержащие зонды в виде заостренныхстержней, соединенные экранированным заземленным коаксиальным кабелем с измерительным прибором, позволящие измерятьдинамические параметры микросхем на неразрезанной пластине21,Однако эти зондовые голограниченный частотный диа в области высоких частот из-за наличия значительньпс; межконтактных паразитных емкостей между открытыми зондами.Цель изобретения - расширение частотного предела измерении динамических параметров микросхем.Поставленная цель достигается тем, что в зондовой головке для измерения электрических параметров микросхем, содержащей размещенные в диэлектрическомпусе зонды в виде заостренных стержс диэлектрическим покрытием, соедикор ней ненных экр белем с йз зонд снабж торая разме крытии, сое землена,На фиг,головки; на электрическ Зондовая ческий корп в которых зена схема з зонд для из лов 1 ерения ем. дектрими 2,е заос ттров микросходержит диэндодержателязонды в вид овки имеютпазон измере мик осхе я динамических параме анированным коаксиапь мерительным прибором ен металлической обол щена на диэлектричес динена с экраном кабе72 фпо высокочастотным параметрам. Введение единого критерия оценки приьоров на пластине и в корпусном исполнении позво. ляет выявить брак "годных" полупроводниковых приборов на ранних стадиях технологического процесса. 3 7903 ренных стержней 3 и экранированные коаксиальные кабели 4 для соединения с измерительным прибором 5. Контролируемая пластинарасположена на предметном столике,6.5Центрапьная жила 7 кабеля 4 соединена со стержнем 3 зонда, На поверхность стержня 3 нанесено диэлектрическое покрытие - пленка 8, например фторопластовая, а сам зонд размешен в металпической обо почке 9 ( напри мер. медь, серебро) . Металлическая оболочка 9 зонда соединена с экраном 10 кабепя и заземлена.Зонаовая головка работает следуюшим образом.35Зонды, число которых соответствует числу зондируемых точек прибора, размещают.в зондодержателях зондовой головки. Визуально проводится настройка зондов на контактные площадки пластины и переи мещением предметного столика осушествляется контактирование.Предлагаемая зондовая головка позвопяет наряду с контролем статических параметров проводить предварительные измере-5 ния динамических параметров высокочастотных микросхем на пластине до герметизации их в корпусах, т.е. позволяет свести к единому критерию оценки качества приборов как на пластине, так и в корпусеЗО формула изобретения Зондовая головка для измерения электрических параметров микросхем, содержашая размещенные в диэлектрическом корпусе зонды в виде заостренных стержнейс диэлектрическим покрытием, соединенныхэкранированным коаксиальным кабелем сизмерительным прибором, о т л и ч а -ю ш а я с я тем, что, с целью расширения частотного предела измерения динамических параметров микросхем, каждыйзонд снабжен металлической оболочкой,которая размещена на диэлектрическом покрытии, соединена с экраном кабеля изаземлена.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССРй 586577, кл, Н 05 К 1/04, 1975,2, Патент США М 3911.361,кл, 324-158, 1977 (прототип).
СмотретьЗаявка
2689459, 25.11.1978
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-7501
САФОНОВ ВАСИЛИЙ СЕМЕНОВИЧ, ВДОВКИН АНАТОЛИЙ ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: H01R 12/04, H01R 13/02
Метки: головка, зондовая, микросхем, параметров, электрических
Опубликовано: 23.12.1980
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-790372-zondovaya-golovka-dlya-izmereniya-ehlektricheskikh-parametrov-mikroskhem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Зондовая головка для измерения электрических параметров микросхем</a>
Предыдущий патент: Контактное устройство
Следующий патент: Способ монтажа печатной схемы
Случайный патент: Насадка для массообменных центробежных экстракторов