Способ структуроскопии ферромагнитных изделий

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 7 19) 01)11 И 27/8 451) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ СУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ ВТОРСКОМУ С 8 ИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Ижевский механический институт(56) 1, Авторское свидетельство СССР538284, кл. б 01 11 27/86, 1976.2. Ломаев Г. В. и др, О новом методенеразрушающего контроля ударной вязкости горячекатанной стали. - В кн.: Методы и приборы автоматического неразрушающего контроля. Рига, РПИ, 1981,с. 93 - 98(54) (57) СПОСОБ СТРУКТУРОСКОПИИ ФЕРРОМАГНИТНЫХ ИЗДЕЛИЙ, заключающийся в перемагничивании изделия полем низкой частоты, регистрации акустических импульсов от скачков Баркгаузена при различных значениях величины поля перемагничивания, по параметрам которых определяют результат контроля, отличаюиийся тем, что, с целью повышения надежности контроля, изделие дополнительно перемагничивают высокочастотным полем, измеряют дифференциальной магнитной проницаемости и изменяют частоту высокочастотного поля обратно пропорционально этой величине.Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля качества проведения технологических операций, связанных с формированием структуры поверхностных слоев изделий: шлифование, упрочнение поверхностным пластическим деформированием, поверхностная закалка, химико-термическая обработка,Известен способ контроля качества ферромагнитных материалов и изделий из них, заключающийся в том, что контролируемое изделие перемагничивают одновременно низкочастотным и высокочастотным магнитными полями, индукционным методом регистрируют ЭДС от скачков Баркгаузена, измеряют ее мощность при различных значениях низкочастотного перемагничивающего поля, по величине которой судят о структурном состоянии контролируемого изделия 1.Однако в данном способе толщина поверхностного контролируемого слоя определяется глубиной проникновения в материал высокочастотного поля, возбуждающего совместно с низкочастотным полем скачки Баркгаузена, и затуханием электромагнитного поля от скачков,Баркгаузена, которое наводит ЭДС, Затухание обусловлено экранирующим влиянием поверхностных слоев материала, Оба фактора определяются электропроводностью и магнитной проницаемостью материала. Так как при перемагничивании низкочастотным полем изменяется магнитная проницаемость материала, то будут меняться как глубина проникновения в материал высокочастотного магнитного поля, так и затухание электромагнитного поля скачков Баркгаузена, Таким образом, различным значениям низкочастотного перемагничивающего поля будет соответствовать различная толщина поверхностного контролируемого слоя, что не обеспечивает достаточной надежности контроля.Наиболее близким к изобретению по технической сущности является способ структуроскопии ферромагнитных изделий, заключающийся в том, что контролируемое изделие перемагничивают полем низкой частоты, регистрируют акустические импульсы от скачков Баркгаузена при различных значениях величины поля перемагничивания, по параметрам которых определяют результат контроля. В известном способе толщина поверхностного контролируемого слоя будет определяться только глубиной проникновения в материал пе-. ремагничивающего поля, так как распространение акустических импульсов от скачков Баркгаузена в ферромагнитных материалах не испытывает затухания, и они регистрируются с любой глубины контро 40 4550 55 5 1 О 15 го г 5 30 35 лируемого изделия, В свою очередь, глубина проникновения в материал перемагничивающего поля зависит от скорости изменения магнитного поля, электропроводности и магнитной проницаемости материала 2.Недостатком известного способа контроля является то, что он не обеспечивает постоянства толщины контролируемого поверхностного слоя. Это объясняется тем, что при перемагничивании контролируемого изделия изменяется магнитная проницаемость материала, и различным значениям магнитного поля будет соответствовать различная глубина его проникновения. Изменение в процессе перемагничивания толщины контролируемого слоя приводит к погрешностям при оценке структурного состояния поверхностных слоев, особенно в тех случаях, когда это состояние существенно отличается от структурного состояния глубинных слоев материала. Следствием этого является неудовлетворительная надежность неразрушающего контроля,Цель изобретения - повышение надежности контроля.Поставленная цель достигается тем, что согласно способу структуроскопии ферромагнитных изделий, заключающемуся в перемагничивании изделия полем низкой частоты, регистрации акустических импульсов от скачков Баркгаузена при различных значениях величины поля перемагничивания, по параметрам которых определяют результат контроля, изделие дополнительно перемагничивают высокочастотным полем, измеряют величину дифференциальной магнитной проницаемости и изменяют частоту высокочастотного поля обратно пропорционально этой величине. На чертеже приведена блок-схема устройства, реализующего способ структуроскопии ферромагнитных изделий.Устройство содержит генератор 1 низкочастотного тока, генератор 2 высокочастотного тока с управляемой частотой выходного сигнала, намагничивающие катушки 3 и 4, измерительную катушку 5, низкочастотный усилитель 6, акустический датчик 7, высокочастотный усилитель 8, блок 9 измерения параметров импульсов от скачков Баркгаузена при различных значениях низкочастотного магнитного поля, индикатор 10.Устройство работает следующим образом.Контролируемоеизделие перемагничивают низкочастотным и высокочастотным магнитными полями. Глубина проникновения 8 высокочастотного поля, которое совместно с низкочастотным возбуждает скачки Баркгаузена, определяется электропроводностью 6 и магнитной проницаемостью,М материала, а также частотой 1 высокочас1165970 Составитель В. Филинов Редактор Г. Волкова Техред И. Верес Корректор И.Муска Заказ 4303/37 Тираж 897 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 1 3035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4тотного поля: Ю = т 2/у бТ. Измеряют магнитную проницаемость контролируемого изделия при различных значениях низкочастотного магнитного поля (так называемую дифференциальную магнитную проницаемость). Измеряют частоту высокочастотного поля обратно пропорционально величине магнитной проницаемости так, чтобы произведение Р 1 оставалось постоянным, Этим в соответствии с формулой обеспечивается постоянство глубины проникновения высокочастотного поля в материал, а следовательно, толщины поверхностного контролируемого слоя. Последнее обеспечивается также тем, что в способе реализуется регистрация акустических импульсов от скачков Баркгаузена, которые не испытывают существенного затухания в материале.Устройство работает следующим образом. На контролируемое изделие 11 воздействуют низкочастотное и высокочастотное магнитные поля, которые создаются соответственно генераторами 1 и 2 и намагничивающими катушками 3 и 4. Измерительная катушка 5 и низкочастотный усилитель 6 регистрируют ЭДС, пропорциональную дифференциальной магнитной проницаемости контролируемого изделия. Сигнал с выхода низкочастотного усилителя 6 подается на управляющий вход генератора 2.При этом частота генератора 2 изменяется обратно пропорционально выходному сигналу усилителя 6. Акустические импульсы 1 Оот скачков Баркгаузена преобразуются в ЭДС с помощью акустического датчика 7. ЭДС усиливаетя высокочастотным усилителем 8 и поступает в блок 9, где измеряют параметры импульсов при раз-5 личных значениях низкочастотного поля.Последнее реализуется с помощью электрической связи между выходом низкочастотного генератора 1 тока и вторым входом блока 9. Индикатор 10 служит для считывания результатов контроля.Предлагаемый способ структуроскопииферромагнитных изделий по сравнению с известным дает возможность задать необходимую глубину контроля и поддерживать ее неизменной в процессе измерений.