Способ измерения коэффициента пропускания образца оптического материала
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
+макс ми кс де его нания. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПо ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ 3619558/2 11,07.8 З 23.06,85. Б.Е.Лисян .Морозова 535.24(08(56) 1. Рондарев В.С. Погрешностьфотометрирования в лазерных ИК микрскопах.-ОМП, 1980, М 7, с.3-5.2. Прокопенко В.Т., Рондарев В.СИзмерение оптической прозрачностис использованием когерентных излучателей. - "Измерительная техника",1979, М 12, с.28-30прототип ).(54)(57) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЮЕНТА ПРОПУСКАНИЯ ОБРАЗЦА ОПТИЧЕСКОГОМАТЕРИАЛА, включающий пропусканиечерез клиновидный образец оптического материала параллельного пучкакогерентного излучения и регистрациюинтенсивности прошедшего излучения,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что,с целью повышения точности измерений 8013632 коэффициента пропускания обра регистрируют максимум Эмакс мум Эми интенсивности одно полос интерференционной карти чения, прошедшего через образ клиновидностью р, причем в(3) ---2 п 8,где Й - длина волны излучении - показатель преломлен риала образЦа; а - размер облучаемой об образца,коэффициент пропускания об пределяют по соотношениюргмакс минЭ Кф-максмакс минминЭамино- интенсивность падаюобразец пучка излуч1163218 Составитель Г.КоломейцевРедактор И.Николайчук Техред И,Надь Корректор О.Луговая Заказ 4098/43 Тираж 897 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д.4/5Филиал ППП "Патент", г,ужгород, ул.Проектная,4 ние толщины образца в исследуемой облаСти составляет дскб = 1,2 мкм, т.е. в 210 раз меньше, чем при известном способе, поэтому составляющей погрешности,д в предлагаемом способе 5 можно пренебречь.Составлыощая погрешности дц исключается за счет того, что при измерении С и Т и вычислении величины 2 используется информация 10 об отражательных и поглощательных свойствах образца, заложенная в распределении интенсивности излучения в полосах равной толщины, т,е. в данном случае интерференционные 15 полосы являются не мешающим фактором, а используются непосредственно для измерений.Таким образом, при предлагаемом способе измеренийсоставляющие 20 погрешности дц и д 1 существенно меньше, чем при известном способе,что обеспечивает более высокую точность измерений.Кроме того, при предлагаемом способе возможно проводить измерения коэффициента пропускания плоскопараллельных образцов, всегда имеющих небольшую клиновидность из-за неточности изготовления, которая, как правило, не превышает 1-2 .Погрешность измерений при предлагаемом способе определяется, в основном, аппаратурной составляющей, в частности такими факторами, как нестабильнссть излучения лазера за время измерений, нестабильность коэффициента передачи сканирующего преобразователя изображения и собственная погрешность регистрирующего устройства. Вклад в общую погрешность методической составляющей, обусловленной способом изшерений, незначителен, что подтверждает эффективность предлагаемого способа.
СмотретьЗаявка
3619558, 11.07.1983
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8584
ЛИСЯНСКИЙ БОРИС ЕФИМОВИЧ, МОРОЗОВ ПАВЕЛ АНДРЕЕВИЧ, МОРОЗОВА СВЕТЛАНА ПЕТРОВНА
МПК / Метки
МПК: G01N 21/59
Метки: коэффициента, образца, оптического, пропускания
Опубликовано: 23.06.1985
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1163218-sposob-izmereniya-koehfficienta-propuskaniya-obrazca-opticheskogo-materiala.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения коэффициента пропускания образца оптического материала</a>
Способ измерения коэффициентов излучения, пропускания и отражения полупрозрачных материалов в ик-области спектра
Номер патента: 1408246
Опубликовано: 07.07.1988
Автор: Холопов
МПК: G01J 5/50
Метки: излучения, ик-области, коэффициентов, отражения, полупрозрачных, пропускания, спектра
...стенки камеры 1, для этого зеркало 9 устанавливают вположение, показанное на фиг. 1 штрихами,образец 5 вводят между черными телами (положение черных тел 3 и 4 любое) и фиксируют величину сигнала по отсчетному устройству 2.Выводят образец 5 из объема между чер 0 ными телами и измеряют яркость 1 образца на фоне стенки камеры. После этогочерные тела 3 и 4 устанавливают в положение, при котором черное тело 4 находитсямежду черным телом 3 и зеркалом 7. Обра 15 зец 5 устанавливают между черными телами. При этом черным телом 3 облучак)т однунз поверхностен образца 5, а черным телом4 - другую поверхность образца, обращенную к фотоприемному устройству 10. Зеркало 9 устанавливают в положение (пока 20 зано на фиг. 1 сплошными линиями),...
Способ комплексного измерения коэффициента температуропроводности и теплоемкости твердых материалов на образцах в виде пластины
Номер патента: 920489
Опубликовано: 15.04.1982
Автор: Рыков
МПК: G01N 25/18
Метки: виде, комплексного, коэффициента, образцах, пластины, твердых, температуропроводности, теплоемкости
...1,38 с 1,"о 5 где с 1 - коэФФициент температуропроводности испытуемого образца мс 3Й - толщина образца м 3 То - время достижения полови ны максимального значения температуры задней поверхности образца(см. Фиг,1) с 3,По формулам (1) и (3) определяют теплоемкость испытуемого образца, и его коэффициент температуропроводности, При определении теплоемкости не нужно знать коэфФициент поглощения К поверхности испытуемого образца.Рассмотрим конкретный вариант реализации предложенного способа, Возьмем в.качестве испытуемого образца медную цилиндрическую пластинку с радиусом й5 10 1 10- м и толщиной й = 10 ф 1(Г м. Эталонный ф образец представляет собой медную пластинку с такими же геометрическими размерами, посеребренной передней поверхностью...
Способ измерения коэффициента яркости диффузно отражающих поверхностей, имеющих неоднородно отражающие элементы
Номер патента: 1396008
Опубликовано: 15.05.1988
МПК: G01N 21/47
Метки: диффузно, имеющих, коэффициента, неоднородно, отражающие, отражающих, поверхностей, элементы, яркости
...делать при условиях распределения освещенности на образце,отличных от задаваемых выражениемЕ (х,у).Координатно-зависимое распределение освещенности Е(х,у) на образце обеспечивается например, установкой в параллельный и равномерныйпучок излучения, формируемый осветителями, нейтрального нерассеивающего,ослабителя с координатно-зависимымкоэффициентом пропускания (сеТчатого ослабителя, плоскопараллельнойпластины из двух соединенных на оптическом контакте светофильтров с переменной толщиной смежного слоя ит,п.). Параметры ослабителя рассчитываются по известным в фотометрии формулам для коэффициента пропусканияоптических материалов.При установке, например, в нормально падающий (М = 0) на образец световой пучок, коэффициент пропускания...
Способ измерения монохроматического коэффициента излучения материалов
Номер патента: 1608444
Опубликовано: 23.11.1990
Авторы: Данилов, Игнатьев, Леготкина, Царев
МПК: G01J 5/52
Метки: излучения, коэффициента, монохроматического
...поле с круговой частотой в 1. Тем самым задается и локальный объем образца 1, из которого извлекается информация о его истинной температуре.Глубина д 1 этого объема может быть най дена по формуле1608444 д =(иоов) Составитель А,БашаринРедактор А.Коэориз Техред М,Моргентал Корректор Т.Палий Заказ Зб 07 Тираж 429 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКН 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Т СССР роизводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 где,ио- магнитная постоянная; о- электропроводность материала образца 1.Величина д может составлять менее 5 0,01 мм, Затем приводят образец 1 во вращение и определяют среднее за один оборот значение температуры Т 1,...
Способ определения коэффициента излучения неметаллических материалов
Номер патента: 200295
Опубликовано: 01.01.1967
МПК: G01K 7/04, G01N 25/00, G01R 17/10
Метки: излучения, коэффициента, неметаллических
...коэффициента излучения,На чертеже показан один из вариантов устройства для осуществления предлокенного способа.Металлическую проволоку 1 с нанесенным на ее поверхность покрытием прпварпвают к металлическим державкам 2 и , помещают в вакуумную камеру 4 и нагревают электрическим током от источника постоянного тока, питающего измерительную схему. Сопротивление проволоки и подводящих проводов в цепи измеряется мостом постоянного тока 5. Температура по всей длине проволоки 1 постоянна, так как концы ее подогреваются с помощью подогревателей б и 7. Температура на концах пр ятермопарами 8, 9,Для определения коэффициента излучениякамеру 4 откачивают до низких давлений. Тепловой поток свободной конвекцни от проволоки должен быть...
Предыдущий патент: Способ определения прозрачности атмосферы
Следующий патент: Устройство для контроля оптических искажений в прозрачных объектах
Случайный патент: Сушилка для сыпучих материалов