Контактное устройство

64 А СОВЕТСНИХ ОСЦЕПЮЮ ЕНВ ЛИН(51) 1/58 елью повырования,в виде цио основанмной коро ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТИЙ(72) П,С.Яуляев и И.Г.Учайкин ,(71) Мордовский ордена Дружбы народов государстенный университет им." Н.П. Огарева(56) 1. Патент СШАУ 4105280,кл. 339-273, 1975.2, Авторское свидетельство СССР У 930407, кл. Н 01 Н 1/58, 1980 (прототип).(54)(57) КОНТАКТНОЕ УСТРОЙСТВО для подключения штыревых полупроводниковых приборов, содержащее корпус и контактный узел с подпружененными силовыми контактами, о. т л н ч аю щ е е с,я тем, что, с цшения надежности контактиконтактный узел выполненлиндрического токоведущегс контактным пояском, съеки. е контактными лепестками, установленной на токоведущемсоосно с ним, токоведущеля с контактным пояском,ного коаксиально с токовванием, гибкой перемычкиной одним своим концом щим основанием, другим конковедущим толкателем,и.поизолированного контакта,ного коаксиально с токовекателем,основании го толкатерасположен едущим осно соединен с токовед цом - с то дпру:кнненно расположен дущим тол1160477 1Изобретение относится к радиотехнике и может быть использовано дляподключения к измерительной аппаратуре полупроводниковых приборов (дио. дов и транзисторов)штыревой конструкции с.жесткйми объемными выводами.. Известна конструкция злектроконтактного устройства, содержащая корпус, разъемную втулку и конусныйштырь 11 10Однако это устройство не обеспечивает надежного контактирования.Наиболее близким к изобретениюявляется контактное устройство дляподключения,штыревьи транзисторов 15к измерительной аппаратуре, содержащее корпус и контактный узел сподпружиненными силовыми контактами.С 23Недостатком известного устройства 20является малая надежность контактирования, обусловленная тем, что примногократном циклировании износ вшарнирных соединениях как самих контактов, так и двуплечих рычагов не 25обеспечивает одинаковый прижим контактов к испытуемым приборам. Крометого, контактирование толькоо боковой поверхности вывода полупроводникового прибора не обеспечивает доста-ЗО,точной, надежности.Цель изобретения - повышение надежности контактирования.Поставленная цель достигается тем,что в контактном устройстве для подключения полупроводниковых приборов,содержащем. корпус и контактный узелФс подпружиненными силовыми контактами, контактный узел выполнен в видецилиндрического токоведущего основания с контактным пояском, съемнойкоронки с контактными лепестками,установленной на токоведущем основании соосно с ним, токоведущеготолкателя с контактным пояском, расположенного коаксиально с токоведущим основанием, гибкой перемычки,соединенной одним своим концом с .токоведущим основанием, другим концом - с токоведущим толкателем, иподпружиненного изолированного контакта расположенного коаксиально стоковедущим толкателем,На чертеже показано предлагаемое 55 контактное устройство в рабочем состоянии с испытуемым полупроводниковым тиристором. Устройство содержит съемную коронку с лепестками 1, закрепленнуюна токоведущем основании 2, в котором свободно в осевом .направленииперемещается токоведущий толкатель 3с вмонтированным в нем контактом 4Юцепи измерения падения напряженияна полупроводниковом приборе. Наизолированной траверсе 5 " основание 2 закреплено пружиной 6 с помо"щью токоведущего вывода 7, прижатоговместе с гибкой перемычкой 8 гайкой 9к основанию, другой конец гибкой перемычки соединен с толкателем 3. Пружина10 прижимает толкатель к основанию 2,а пружина 11 обеспечивает перемещение в осевом направлении контактацепи измерения падения напряженийна полупроводниковом приборе, Дляиспытания тиристоров на основании 2закреплен изолированный кольцевойконтакт 12 цепи управления тиристора через пружину 13,Устройство работает следующимобразом.При опускании траверсы толкатель3 вместе с контактом 4 центрируетиспытуемый полупроводниковый прибор в осевом направлении и перемещается вверх, затем коронка с лепестками 1 вьиодит в зацепление свыводом полупроводникового прйбора,а основание 2 прижимается к выводу .полупроводникового прибора по еготорцовой поверхности контактным пояском. При дальнейшем Опускании траверса пружины 5 сжимается, выводотходит от траверсы и основание 2вместе с толкателем 3 устанавливается на оси полупроводникового прибора. Прижим толкателя к выводу полупроводникового прибора .обеспечивается за счет пружины 9, а контакта 4 - за счет пружины 10, При подъеме траверсы толкатель 3 под действием пружины 9 выталкивает полупроводниковый прибор из коронки с лепест.ками. В предлагаемом устройстве по сравнению с известными упрощена конструкция за счет использования деталей конструкции как контактных элементов и выполнения ими других функций, увеличена надежность путем увеличения контактируемой поеврхности с выводом полупроводникового прибора и исключения дополнительньи деталей, подвергаемых быстрому износу, а при-,1160477 . 4менение подпружиненного контакта це- использование дополнительных контактпи измерения падения напряжения на .ных элементов в испытательной аппа.полупроводниковом приборе исключает ратуре. В.КоротковЛ,Коцюбняк Составнтел Редактор .О,Черниченко Техрректор М.Макеимиеиие Тираж 679 Подписосударственного комитета СССРам изобретений и: открытий3-35, Раущская, наб., д, 4/5 Заказ 3834/50. 13035, Моск тент" город, ул. Проектная,