Способ одночастотного измерения сопротивления катодов электронных ламп

Номер патента: 111883

Автор: Соллогуб

ZIP архив

Текст

В. С. Соллогуб СПОСОБ ОДНОЧАСТОТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ СОПРОТИВЛЕНИЯ КАТОДОВ ЭЛЕКТРОННЪХ ЛАМП Завлево 27 феврал 1956 т ва М А,455844 в Минстерство рапиотехнеснойп ромы шлеи носп СССРИзооретение Относится к Техие измерения сопротивления атодов электронных ламп.Приемно-усилительные лампы в процессе эксплуатаци часто Выхо дят из строя вследствие увеличения сопротивления прослойки между подложкой и оксидным покрытием катода,Наблюдаемое в лампах образование доползТельного промежуточного сопротивления вызывает уменьшение крутизны, а также изменение статических и динамических параметров ламп, которые при этом резко ухудшают свои широкополосные свойства и становятся нестабиаьньпи в работе.Известное двухчастотное измерение сопротивления промежуточного слоя катодов, заключающееся в сравнении значений измеренной на низкой и высокой частотах крутизны характеристики лампы, требует вычислений либо применения градуированного потенциометра.Двухчастотное измерение основано на шунтированип сопротивления прослойки емкостью промежуточного слоя на вь 1:окой частоте и поэтому не позволяет измерять малые величины сопротивлений (меньпе 10 ом), так как в этом случае шунтирование получается пез 1 дчительным, Результаты двухчастотного измерения существенно зависят от емкости промежуточного слоя и величины применяемых частот;сами измерения весьма кропотливы и занимают много времени.Известное импульсчое измерение сопротивления промежуточного слоя состоит в том, что прямоугольный импульс, проходящий через ампу, катод которой имеет сопротивление промежуточного слОя, претерпевает искаженя, об.ьясняемые наличием емкости промежуточного слоя, шунтирующей измеряемое сопротивление.Величина и форма этих искажений, наблюдаемых на экране осциллографа дают возможность судить о величинах сопротивления и емкости промежутоного слоя окисдного катода. Им пульсное измерениетребует еще большего времени для измерений и дает менее точные результаты, чем двухчастотное.Описываемый сгособ одночастотного измерения сопротивления катодов не имест указан:Ых недостатков и может оыГь применен ко Всех триодам, тетродад и пентолам как прямого, так и косвенного накала.Способ одночастотного измерения сопротивления катодов электронных ламп обладает следующими преимуществами перед существующими:а) чувствительность измерений достигает одного - двух омов, а при измерениях малых приращений сопротивления катода - десятых долей ома;б) резульгаты измерений нсзав:симы от величины емкости промежуточного слоя;в) схема упрощается и исключается дополнительная погрешность, связанная с применением второй высокой частоты (5 - 10 лггц при двухчастотном методе)г) измерения просты и занимают мало времени вследствие непосредственной стрелочной индикации измеряемой величины сопротивленгя катода.Описываемое одночастотное измерение сопротивления оксидных катодов основано на использовании первой сетки испытуемой лампы в качестве зонда. Использование первой сетки возможно вследствие того, что сеточный ток при небольшом положительном напряжении на сетке сльпо зависит от потенциала катод-сетка.Сущность изобретения поясняется чертежом.В процессе измерения сопротивления катода Й на первую сетку испытуемый лампы подается положительный потенциал; сеточный ток при этом ограничивается последовательна включенным сопротивлением Р,.Йспытываемая лампа находится в триодном включении и на се анод подается положительный потенциал Е Величина последнего определяет величину постоянного анодного тока Упротекающего через лампу, При подаче на анод испытываемой лампы переменного синусоидального звукового напряжения С, с частотой порядка 1000 г 1, через лампу будет течь переменный анодный ток У, - , где Р, - внутреннее сопротивление лампы в триодном включении. Протекая по сопротивлению промежуточного слоя оксидного катода, ток У,. создает на нем падение напряжения С, - г,. Я Напряжение С 7, действующее между катодом и первой сеткои, повлечет появление переменной составляющей сеточного тока. При включении (последовательно) в цепь катода испытуемой лампы источника добавочного синусоидального напряжения У равного по величине и противоположного по фазе напряжению К;, полученное суммарное и действующее между сеткой и катодом синусоидал- ное напряжение будет равно нулю, а переменная составляющая сеточного тока будет близка к нулю.Добавочное напряжение С получаемое в результате усиления с- нусоидального напряжения, создаваемого сеточным током на сопротивлении й, возможно лишь при соблюдении условий, при которых коэффициент усиления будет достаточно большим и усилитель будет обеспечивать поворот фазы напряжения на 180.При этих условиях вышеприведенное равенство Ь, = - К; соблюдается автоматически. Напряжение С, является, таким образом, ме рой сопротивления промежуточного слоя оксидного катода; вследствие этого становится возможным производить измерения общего =опротивМ 1 11883 ления катода посредством стрелочного прибора, проградуированного в омах.Влияние переменного анодного напряжения на сеточный ток испытуемой лампы и связанное с ним отклонение стрелки прибора сравнительно невелики и легко могут быть компенсированы посредством использования двух потенциометров. Для более полного устранения по. мех и высших гармоник, индикатор ГУ снабжен избирательным усилителем, настроенным на основную частоту.Измеритель сопротивления катодов, работающий по описанному способу, может найти широкое применение при контроле технологии изготовления и работы электронных ламп, а также при испытании ламп на долговечность в цехах и лабораториях электровакуумных предприятий.Предмет изобретенияСпосоо Одночастотного измерения сопрот 1 вле 11 ия 1,атодов электронных ламГ, 0 т и и 1 а 10 ш и Й с я тем,. что, с цс 1 ь 10 повышения точности измерений, на анод испытуемой лампы подают синусоидальное напрякение звуковой частоты и переменным катодным током создают на сопротивлении катода напряжение обратной связи, которое подают на управляющую сетку и компенсируют равным ему, но противоположным по фазе 11 апряжснием, Г 1 ро 11 орщ 1 с;:а-ь 11 ыхГ сопротнвленн;о катода.Юр

Смотреть

Заявка

455844, 27.02.1956

Соллогуб В. С

МПК / Метки

МПК: H01J 9/42

Метки: катодов, ламп, одночастотного, сопротивления, электронных

Опубликовано: 01.01.1958

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-111883-sposob-odnochastotnogo-izmereniya-soprotivleniya-katodov-ehlektronnykh-lamp.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ одночастотного измерения сопротивления катодов электронных ламп</a>

Похожие патенты