Способ определения дефектов в материале

Номер патента: 1056027

Автор: Грач

ZIP архив

Текст

. РЕСПУБЛИК ОВ (И)01 М 27/20. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ1 "-:".ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИИК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(56) 1. Авторское свидетельство СССРР 339855, кл. 0 01 0 27/82, 1966.2. Патент США 9 2728889,кл. 324-54, 1955 (прототип).;(54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФЕКТОВВ МАТЕРИАЛЕ, заключающийся в пропусканин через материал высокочастотного электромагнитного поля посредством игольчатого электрода, уставовленного перпендикулярно к поверхности материала, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью расзаиренияобласти йспользования, игольчатыйэлектрод помещают над поверхностьюматериала, устанавливают величинунапряжения между электродом и поверхностью материала, равную (0,85-0,95)напряжения пробоя, а деФекты определяют по изменению тока.45 Изобретение относится к Физикохимическому анализу, а конкретно кобласти исследования свойств материалов путем измерения электрическоготока, и может быть использовано длявыявления дефектов в материале типа 5внутренних трещин, пустот.Известен способ токовихревогоконтроля дефектов материала, заключающийся в том, что в контролируемомизделии токовихревым датчиком возбуждают модулированные по частотевихревые токи, параметры сигнала датчика измеряют электронным индикатором, из сигнала датчика с помощьюселективных детекторов выделяют гармонические составляющие, кратные частотам модуляции вихревых токов, поамплитудно-фазовому соотношению которых судит о результатах контроля (.1 3.Недостатками этого способа являются сложность аппаратурной .реализации способа и невысокие надежностьи точность контроля.Наиболее близким по техническойсущности к предлагаемому являетсяспособ определения дефектов в поверхности материала, заключающийся втом, что пропускают через материалвысокочастотное электромагнитное поле посредством игольчатого электро-да, установленного перпендикулярно 30к поверхности материала 23.Однако известный способ нельзяприменять для контроля дефектов в,проводящих материалах.Цель изобретения - расширение 35области исиольэования способа.Поставленная цель достигается тем,что согласно способу, заключающемуся в пропускании через материал,вы-сокочастотного электромагнитного поля посредством игольчатого электрода,установленного перпендикулярно к поверхности материала, игольчатыйэлектрод помещают над поверхностьюматериала, устанавливают величинунапряжения между. электродом и поверхностью материала, равную (0,850,95) напряжения пробоя, а дефектыопределяют по изменению тока.На чертеже приведено устройство,реализующее способ,На чертеже изображены контролируемое изделие 1, игольчатые электроды 2, между которыми и изделием 1генератором 3 создается высоковольтное напряжение высокой частоты. Разность контрольных сигналов снимается с образцовых сопротивлений 4 навход схемы 5 сравнения, с которойпоступает на усилитель высокой частоты 6, а с выхода усилителя б - 60на диод 7 и миллиамперметр 8, Дляодновременного контроля большихучастков поверхности изделия используют не один, а несколько игольчатыхэлектродов, включенных по аналогич- удельная провод ропроводящих игде мость электелий или . ной схеме, При этом последовательнос каждым иэ электродов включено оди"наковое образцовое сопротивление(о наличии дефектов судят по разности напряжений на выходах мостовыхсхем), которое при наличии дефектабудет не равным нулю,П р и м е р. Вблизи поверхностиконтролируемого изделия 1 - дюралиеЪвой пластины со скрытыми пустотамис помощью, например, одного игольчатого электрода 2, ось симметриикоторого расположена перпендикулярнок плоскости пластины 1, возбуждаютэлектромагнитные волны, в которыхвектор напряженности электрическогополя направлен по нормали к поверхности пластины. Расстояние междуповерхностью пластины 1 и концомэлектрода 2 и величину напряженияустанавливают такиими, чтобы отсутствовал разрядный процесс. В описываемом примере расстояние междуигольчатым электродом 2 иповерхностьюизделия 1 было равным 4 мм, а напряжение 1,3 кВ. После .этого изделиеперемещают относительно источникаэлектромагнитных волн, сохраняя расстояние между исследуемой поверхностью и электродом постоянным. Оналичии дефектов и их расположениисудят по изменению показаний миллиамперметра 8, включенного на выходеусилителя высокой частоты б последиода 7,Пределы изменения напряжения0,85 Оо( Н й 0,95 Удр 6 установлены экспериментально. При напряжении 0 ) Ог 95 Боров процесс контроля идет неустойчиво.,таК как в любоймомент может возникнуть искровойпробой и сгорание электрода, что не-.желательно. Поэтому верхняя границавеличины напряжения выбрана равнойОю 95 3 пробНижняя граница также выбрана эксериментально. При контроле изделийиз диэлектрика или полупроводника)напряжение прикладывается между игольчатыми электродами и металлическойподложкой, на которой находится изделие. Величина напряжения такжевыбирается в пределах(0,85-0,95 Ятак как при отсутствии поврежденийв изоляции искровой пробой не наблюдается (или индикатор ничего непоказывает.),. а при небольшом дефекте в контролируемом изделии (например, от прокола изоляции проводатонкой иглой) возникает искровой пробой в этом месте (стрелка индикатораотклоняется), Частота электромагнитного поля определяется из формулы1105 б 027 Составитель М. КривенкоРедактор Н. Лазаренко Техред С,Мигунова Корректор А. Ильин Заказ 9290/34. Тираж 873 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4электропроводящей подложки для изделий из диэлектрикаЬ - толщина контролируемогослоя;и" абсолютная магнитная проницаемость.5Преимуцества предлагаемого способа заключаются в том, что способ реализуется простым устройством, обладающим высокой чувствительностью10. и надежностью. Способ позволяет контролировать одновременно больыой участок иэделия, при этом позволяет нетолько обнаружить деФекты, но и определить их границы, местоположение иразмеры. Способ применим для контроля самых различных изделий из электропроводящего или непровсдящего токматериала, отличающихся размерамии конФигурацией.

Смотреть

Заявка

2980573, 10.09.1980

ФРУНЗЕНСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ

ГРАЧ ИОСИФ МАЙОРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 27/20

Метки: дефектов, материале

Опубликовано: 23.11.1983

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1056027-sposob-opredeleniya-defektov-v-materiale.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения дефектов в материале</a>

Похожие патенты