Оптический микрометр
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 104421
Авторы: Байбазаров, Коломийцев
Текст
Класс 42 о, 22 в; 10421 СССР САНИЕ ИЗОБРЕТЕАВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ В. Коломийцов и А. А. Байбазаро ИЧЕСКИЙ МИКРОМЕ 1954 г. за Ло 08391 453418 Заявлено Оптические микрометры для измерения диаметров и толщцн деталей, снабженные двойцым микроскопом, известны. Недостатком этик микрометров является то, чтс оцц не обеспечивают высокой точпюст измерения и имц невозможно производить изгмереция на двцжцгцкся деталях, например измерения дца 1 етра вращающейся детали в процессе ее обработки илц полосы прц поокатке.Предлагаемый оптический микрометр свободен от этих недостатков.Б цем пргмецены два двойцык микроскопа с независимыми источниками света, дающими дьа изображения светящейся щели в одном поле зрения.Микрометр, оптическая схема которого показана ца чертеже, имеет два двойнык микроскопа, известных как мгкрос:опы Линника, с дв 1 мя независимыми источнцкамц света 1 и 1, свет от которы. проходя через конденсорные линии 2 ц 2, диафрагмы 3 и Т со щелями, перпецдикулярнымц плоскости чертежа, и объективы 4 и 4 коллиматора, огражается от плоских зеркал 5 и 5, проходит через объективы 6 и 6 с зашитными стеклами 7 ц 7 и падает в точках А ц А ца противоположные стороны измеряемой детали о. Отраженные деталью лучи света проходят через объективы 9 ц 9 и отклоняющие призмы 1010 в первом двойном микроскопе, отражаются плоским зеркалом 11 ца полупрозрачную пластинку 12 второго двойного микроскопа, а в последнем -- отражаются этой пластинкой.Оба пучка лучей цдут от чолупрозрацой пластинки через призму 1 с) ц ооъектцв 14 к матовому стег;л 1 15, ца котором дают изображения щелей, рассматриваемые при помощи лупы 16.Паклоном зеркала 11 и пластинки 12 прибор регулируется так. чтобы прп наводке обоих двойцых микроскопов на поверхность измеряемой детали два цзооражения щели ца матовом стекле совпадалц.Если после этого диаметр (толщина) детали изменится на величину й, то изображения щелей ца матовом стекле разойдутся на расстояние а=уГ о ЬВ, где 3 отношение фокусных расстояний объективов 14 ц 9. Пользуясь этим уравнением,104421можно определять изменение диаметра детали, измеряя расстояния между изображениями щелей по шкале, нанесенной на матовом стекле.Измерение диаметра (толщ)п)ы) детали удооно производить, пользуясь микрометренным в)п)том, поворот которого перемещает в г)ротивоположных направлениях каретки, несущие первьш п второй двойные микроскопы. С помощью винта можно совместить два изображения щели, сделаь прп этом грубый отсчет по шкале па матовом стекле и дополнительный точный отсчет по шкале на барабане винта. Это позволяет измерять диаметры (толщины) в широких пределах (например от 0 до 100 мм) с большой точностью (например до 0,005 мм).Так же, как и при ранее известных конструкциях оптических измерителей диаметров цилиндров (например по авт. св.б 1932), и) результаты измерения предлагаемым микрометром не влияют небольшие перемещения дета;)и вдоль измеряемого диаметра (з-за оиения шпинделя при обработке и т. и.), вызывающие одинаковые смещеш)я оооих изображений щели. Наличие же в предполагаемом устройстве дв х пезавпс)гмых псточппкоь света позволяет увеличить в несколько раз, по сравнению с ранее известными конструкциями с одним источником света, освещенность изображений шсли п благодаря этому измерять детали нз материалов с низким коэффициентом отражения или с поверхностями низ,пх классов чистоты оораооткп и оолегчпть аьтоматизацп)о измерений с помощью фотоэлектрических устройств, а применение двух двойных микроскопов повышает вдвое точность измерения.Предмет изобретенияОптический микрометр для измерения диаметров и толщин деталей с двойным микроскопом, о т л и ч а юш, и й с я тем, что, с целью повышения освещенности изображения щели и повышеш)я точности измерения независимо от чистоты обработки поверхпосте, в нем применены два двойных микроскопа с независимыми псточпикамп света, дающими два изображения светящейся щели в одом поле зрения, с отсчетом измеряе. мых величин по )пкале прибора после совмещеш)я д)зух изображений щели с помощью микрометреппого винта.
СмотретьЗаявка
453418, 05.11.1954
Байбазаров А. А, Коломийцев Ю. В
МПК / Метки
МПК: G01B 11/02, G01B 11/08
Метки: микрометр, оптический
Опубликовано: 01.01.1956
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-104421-opticheskijj-mikrometr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Оптический микрометр</a>
Линзовый апохроматический объектив с плоской поверхностью изображения для микроскопа
Номер патента: 178136
Опубликовано: 01.01.1966
Авторы: Андреев, Грибанова, Ратг
МПК: G02B 21/02
Метки: апохроматический, изображения, линзовый, микроскопа, объектив, плоской, поверхностью
...значения коэффициентов средней дисперсиио .5 Первая фронтальная линза 1 представляетсобой плоско-выпуклую линзу, склеенную столстым меццсксм, причем для исправлениясферической аберрации высшего порядка, кривизны поверхности изображения, а такжеО уменьшения температурных напряжений присклейке, первая линза выполнена из стекламарки БК 8, а вторая из стекла СТК 9. Последующая часть объектива состоит из двухкомпонентов, разделенных воздушным промс 5 жутком, равным приблизительно пяти фокусным расстояниям всего объектива,Первый, сложный компонент включает двепростые флюоритовые линзы 7 и 12, образую.щие компоненты, между которыми заключеныО два склеенных компонента 19 и 20, склеенныхиз флюорита и свсрхтяжелого крона маркиСТК 9, Второй...
Ахроматический объектив с плоской поверхностью изображения для микроскопа
Номер патента: 263203
Опубликовано: 01.01.1970
МПК: G02B 11/20
Метки: ахроматический, изображения, микроскопа, объектив, плоской, поверхностью
...от вестных тем, что он снабжен установленны позади компенсатора двумя одиночными ложительными линзами,На чертеже представлена принципиальная оптическая схема предлагаемого объектива.Объектив состоит из пяти линз, ооразующих четыре компонента, сгруппированных в две группы положительных компонентов, первую из которых образуют ком,поненты / - у. Компонент / выполнен в виде мениска, обращенного вогнутостью к предмету, и служит компенсатором кривизны изображения. Комнен в виде ю к предме ночная дво компонент нент, склеен ельной 5 лие выпол нутость жит оди группу й компо положитпонент 2 такж ращенного во нентом 3 слу линза. Вторую положительны цательной 4 и изми поетен и я едмет изо Акр оматиче верхностью из держащий ме изображения,15...
Узел формирования изображения электронного микроскопа с возможностью изменения энергии электронов
Номер патента: 597030
Опубликовано: 05.03.1978
МПК: H01J 37/26
Метки: возможностью, изменения, изображения, микроскопа, узел, формирования, электронного, электронов, энергии
...образца 6, высоковольтный ввод 7, изолятор 8, электрод 9 и обмотку возбуждения 10.При подаче через ввод 7 высокого напряжения на башмак 2 между верхним торцом этого башмака и электродом 9 возникает тормозящее электроны электростатическое поле, которое используется для фокусировки освещаемого электронного пучка в плоскости образца. После прохождения через597030 Формула изобретения образец замедленные электроны ускоряютсяэлектростатическим полем, возникающим между торцами башмаков 2 и 3, до первоначальньх энергий, Это поле, совместно с локализованным в этом же зазоре магнитным полем используется как комбинированный объектив, формирующий первичное изображение образца,Узел дает возможность улучшить качество изображения за счет снижения...
Устройство для увеличения глубины резкого изображения микроскопа
Номер патента: 146527
Опубликовано: 01.01.1962
МПК: G02B 21/02, G02B 27/40, G03B 11/00
Метки: глубины, изображения, микроскопа, резкого, увеличения
...1 и окуляром микроскопа (на чертеже не показан) последовательно вводятся оптические системы, работающие с увеличением точно равным единице и состоящие из двух линз 2 и 3, разделенных воздушным промежутком, Оптические системы, перемещающие изображение вдоль оси микроскопа на различную величину, монтируются на вращающемся обтюрирующем диске, установленном на оси мотора 1 на чертеже не показано).При изготовлении и сборке оптических систем возможны отклонения от увеличения, равного точно единице, Устранение этого отклонения при сохранении величины перемещения изображения осуществляется посредством осевой подвижки линзы 3 каждой оптической системы. Для исключения при такой регулировке значительного изменения величины осевого...
Устройство для проектирования в отраженном свете кинематографических изображений
Номер патента: 13764
Опубликовано: 31.03.1930
Автор: Горностаев
МПК: G03B 23/14
Метки: изображений, кинематографических, отраженном, проектирования, свете
...картинами. На оси оукрепленной в стойке гнасажено колесо д, приводимое во вращение рукояткой г и передающее движение посредствоы ременной или цепной передачи оси о проходящей через угол светового фонаря. На оси о, укреплены наполовину затемненные обтюраторы с, с, освещаемые источниками света 8, 8, Призма 7 г снабжена с одной стороны радиально направленнымп ребрами ог, служащими вместе со штифтом е, укрепленном на одном из оотюраторов, для периодического передвижения призмы на один снимок, Для тор- ) можения призмы служит пружинящая пластинка у, укрепленная на доске а, 7 г, на которой смонтировано все устройство.Вращаемый посредством привода д обтюратор с зацепляет штифтом е ребро нг и приводит очередной снимок альную плоскость,...
Предыдущий патент: Способ изготовления цветных оптических измерительных клиньев
Следующий патент: Измерительный столбик к мультиплексу
Случайный патент: Сталь