Способ калибровки и поверки импульсных устройств для магнитного контроля
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(Ф 9) (И) А с яочности е с ъв 2,и й Способ тличняют ампов маги У и М с я тем, чиброванных т ду калполяи пов тног к 4 Рм,ф ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР( 71) Институт прикладной изикиАН БССР( 56) Авторское свидетельство СССРУ 706768, кл, О О 1 В 33/12, 1979.Мельгуй М.А. Магнитный контрольмеханических свойств сталей, "Науки техника", 1980, с. 162 - 168(54)(57) СПОСОБ КАЛИБРОВКИ И ПОВЕРКИ ИМПУЛЬСНЫХ УСТРОЙСТВ ДЛЯ МАГНИТНОГО КОНТРОЛЯ, заключающийся в том, что измеряют амплитуду и длительность намагничивающих импульсов устройства, имити. руют поле остаточной намагниченности магнитных меток на контролируемом объекте подем меры и измеряют воздействие этого поля на первичный измерительный преобразователь уст(56 01 й 2790 6 01 В 33/00,ройства, о т л и ч а ю щ и йтем, что, с целью. повышения. ткалибровки и поверки, в качествеполя меры используют два импульсныхмагнитных поля, направленных вдольобщей оси симметрии навстречу другдругу и калиброванных по амплитуде и длительности, частоту этих импульсных полей выбирают равной частоте намагничивающих импульсов, а идлительность 3 выбирают из условия тяженность магнитного п на при намагничиван статике,- скорость контролируем екта;- длительность намагнич щих импульсов. повторяют процесс калирки.Поставленная цель достигается тем, что согласно способу калибровки и поверки импульсных устройств для магнитного контроля, заключающемуся в том, что измеряют амплитуду и дли,тельность намагничивающих импульсов устройства, имитируют поле остаточной намагниченности магнитных меток на контролируемом объекте полем меры и измеряют воздействие этого поля на первичный измерительный преобразователь устройства, в качестве поля меры используют два импульсных магнитных поля, направленных . вдоль общей оси симметрии навстречу друг другу и калиброванных по амплитуде и длительности, частоту этих импульсных полей выбирают равной частоте намагничивающих импульсов, а 40 55 Изобретение относится к неразруша ющему контролю и может быть использовайо для метрологического обеспечения средств импульсного магнитногоконтроля. 5Известен способ калибровки,дефектоскопа, заключающийся в том, что модулируют частоту автогенератора и по соотношению фаз огибающей и модули рующего сигнала определяют состояние 1 О дефектоскопа.Недостатком известного способа является невозможность калибровки и поверки всего дефектоскопа, включая первичный блок намагничивания и счи тывания.Наиболее близким к изобретению по технической сущности является способ калибровки и поверки импульсных устройств для магнитного контроля, 20 заключающийся в том, что измеряют амплитуду и длительность намагничивающих импульсов устройства, имитируют поле остаточной намагниченности магнитных меток на контролируемом 25 объекте с помощью меры градиента маг" нитного поля с однородным градиентом и измеряют воздействие этого поля на первичный измерительный преобразователь устройства, 30Однако этот способ не обладает не обходимой точностью калибровки и поверки, так как не позволяет воспроизводить форму магнитного пятна, наносимого на контролируемый объект и учесть влияние скорости сканирования поверхности этого объекта.Цель изобретения в . повышение точ ности калибровки и поверки. их длительность 7 .выбирают из условия7Ч )где 5 - протяженность магнитного пят"на при намагничивании в статике,скорость контролируемого объ"екта,- длительность намагничивающих импульсов.Кроме того, измеряют амплитудукалиброванных импульсов магнитногополя и повторяют процесс калибровки,На чертеже изображена Функциональная схема устройства, реализующая предлагаемый способ.Устройство для калибровки и поверки импульсных, устройств для магнитного контроля содержит калиброваннуюиндукционную катушку 1, импульсныйвольтметр 2, измеритель 3 длительности импульсов, расположенный вдольобщей оси симметрии, две меры 4 и 5градиента магнитного поля, подключенных к генератору 6 калиброванныхпо амплитуде и длительности импульсов. Выход индукционной катушки 1подсоединен к входу импульсноговольтметра 2, измерителя 3 длительности импульсов и входу генератора 6калиброванных импульсов, выход которого подключен к мерам 4 и 5 гради"ента магнитного поля.Способ осуществляют следующимобразом. Вставляют одну из намагниченных катушек средства импульсного магнитного контроля в калиброванную индукционную катушку 1 и измеряют амплитуду намагннчнвающих импульсов импульсным вольтметром 2, а их длительность определяют измерителем 3 длительности импульсов, Обе измеренные величины должны соответствовать записанным в паспорте поверяемого . средства контроля, так как эти пара" метры влияют на величину и форму магнитных меток, наносимых на контролируемый материал.Устанавливают магниточувствительные элементы средства контроля, обеспечивая их взаимодействие с двумя мерами 4 и 5 градиента магнитного поля.Генератор 6 калиброванных импульсов Формирует импульсы установленной амплитуды и длительности с частотой,1029070 оррек тор Е. Рошко Редактор Е.Месропова Техред М.Паро Пат г.Ужгород,илиал ктная равной частоте намагничивающих ж= пульсов, причем длительность этих им пульсов устанавливают равнойл фЧгде- протяженность магнитногопятна на изделии при намагничивании в статике;У - скорость, с которой будетдвигаться изделие при контроле;- длительность намагничивающих импульсов.фСредством контроля измеряют величину считываемых калиброванных импульсных полей, Изменяют амплитуду калиброванных импульсов и снова проводят измерение средством контроля, что позволяет установить пределы из" мерения, обеспечивающие линейность измерений, Таким образом, производится калибровка и поверка средства импульсного магнитного контроля.Указанный способ позволяет воспроизвести прохождение реальных маг- . з 8128/2 Тираж ВНИИПИ Государственн по делам изобретен 113035, Москва, Жнитных пятен мимо магниточувствитель"ных элементов с учетом скорости движения контролируемого материала,так как частота, с которой магнитныепятна будут проходить мимо магниточувствительных элементов, равна частотенамагничивающих импульсов независимо от скорости движения, а время,за которое магнитное пятно проходит 10 мимо магниточувствительного элемента, определяется размерами пятна принамагничивании в статике, и размыванием пятна вследствие смещения контролируемого изделия за время действия намагничивающего импулЬсаеи е,Ч ЧПредлагаемый способ позволяетповысить точность калибровки и поверки средств импульсного магнитногоконтроля за счет точной имитациивеличины и формы магнитных пятен,наносимых на движущееся ферромагнитное изделие, независимо от скорости движения этого изделия. 896 Подписного комитета СССР и и открытииРаушская наб д, 4/5
СмотретьЗаявка
3333155, 26.08.1981
ИНСТИТУТ ПРИКЛАДНОЙ ФИЗИКИ АН БССР
МЕЛЬГУЙ МИХАИЛ АЛЕКСАНДРОВИЧ, МАТЮК ВЛАДИМИР ФЕДОРОВИЧ, ЛЕОНОВ ИЛЬЯ ГЕННАДЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/90
Метки: импульсных, калибровки, магнитного, поверки, устройств
Опубликовано: 15.07.1983
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1029070-sposob-kalibrovki-i-poverki-impulsnykh-ustrojjstv-dlya-magnitnogo-kontrolya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ калибровки и поверки импульсных устройств для магнитного контроля</a>
Предыдущий патент: Устройство для контроля качества изделий
Следующий патент: Устройство для определения прочности бетона
Случайный патент: Способ получения производных пиперидина