Способ электромагнитного контроля ферромагнитных изделий

1 1024820 2Изобретение относится к неразруша" динамическая криваяющему контролю и может найти приме- ния контролируемогонение для дефектоскопии ферромагнит- Способ электромагных материалов,и изделий. Ферромагнитных изделИзвестен способ двухчастотного 5 в следующем.электромагнитного контроля ферромаг. Контролируемое фенитных изделий, в котором изделие изделие помещается внамагничивают полями высокой и низ- магнитное поле с крукой частот в нелинейной области и Й, амплитуда которопо первой гармонике высокой частоты 10 на для нелинейного ивыходного сигнала преобразователя образца вплоть до сосудят о качестве изделия 11 . ния.К недостатку способа относится 8 определенные монечувствительность к дефектам попе и Ь кратковременречной ориентации, что снижает дос С 4 и 1периодическитоверность контроля.частотой низкочастотНаиболее близким по технической изделие воздействуютсущности к изобретению является спо- частотными полЯми ссоб элеКтромагнитного контроля фер- ми Ю 4 и Ю, одна изромагнитных изделий, заключающийся 20 мер вторая, в четноев том, что на контролируемое изде- ше другой. Для частнлие воздействуют низкочастотным .2 Ю 0. Причем полемполем при максимальной его величине частоты И воздействна изделие кратковременно воздейст- времени Ь 4, соответсвуют высокочастотным полем и по высо мальным значениям никочастотной составляющей ЭДС преоб", поля, а вторым полемразователя определяют контролируемые в моменты времени 6параметры Г 2 ,щие значениям коэрциНедостатком известного способа . Время воздействияявляется низкая надежность контроля ,З 0 ными полями, определиз-за селективной чувствительностими "Т 4 и Г, выбираетк дефектам лишь определенной ориентации.Целью изобретения является повыше Т)Ч: (0 Я. 2.ние надежности контроля,40 Поставленная цель достигается тем, что согласно способу электро, магнитного контроля ферромагнитных изделий, заключающемуся в том, что на контролируемое изделие воздействуют низкочастотным полем, при ,максимальной его величине на изделие кратковременно воздействуют высокочастотным полем и по высокочастот ной составляющей ЭДС преобразователя определяют контролируемые параметры, при величинах низкочастотного поля, соответствующих коэрцитивной силе материала изделия, на изделие кратковременно воздействуют дополнительным высокочастотным полем, частота которого меньше частоты первого поля в четное число раэ. ФНа чертеже представлены эпюры напряженностей низкочастотного и двух высокочастотных возбуждающих полей . и соответствующая этому воздействию перемагничива"изделия.нитного контроляий заключаетсярромагнитноенизкочастотноеговой частотойго Н я,1 достаточ"еремагничиваниястояния насыщементы временино с интерваламисинхронно сного поЛя надвумя высоко"круговыми частотакоторых, напричисло раз менього случая Щ 4более высокойуют в моментытвующие макси-зкочастотногочастоты И- соответствуютивной силы.высокочастотяемое интервалася из условийО)Т20) Тщ,где ТЯ - период низкочастотного поля;ТЯИа- периоды высокочастотныхполей.Соотношение между указанными параметрами определяется требуемыми точностью и помехозащищенностью.В результате взаимодействия указанных полей с ферромагнетиком на выходе преобразователя формируютсясложные спектры, содержащие раэяич",ные компоненты низкочастотного и высокочастотных возбуждающих полей.В качестве информативного параметра выбирают. компоненты высокочастотного сигнала преобразователя,имеоцие частоту :высокочастотногополя; Проводя, например, амплитуднофазовый анализ полученных сигналов,в моменты , и Ь получают необходимую информацйю о годности контролируемого изделия.В пределах каждого низкочастотного цикла осуществляется контролькак по первой гармонике одного возСоставитель И. Ардашева РедакторР. Цицика Техред А.Бабинец. Корректор А. Повх евееаюаете еиетевеа веем в Ф аффей Заказ 4384/40 Тираж 873:Подписное 8 НИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Иосква, В,. Раушская наб д. 4/5филиал ППП "Патентц, г, Ужгород, ул. Проектная,3 10248 буждающего высокочастотного поляНц, так и по второй гармонике, но уже второго высокочастотного поля Н, когда Щ 2 щС другой .сторонй теоретические й ф экспериментальные исследования двух- частотного метода применительно к дефектоскопии показывают, что контроль по первой гармонике высокочас" тотного поля исключительно пригоден ф для выявлейия продольных (по направлению возбуждающих полей) дефектов, а по второй гармонике поперечных.Правильный выбор моментов 6и 1 воздействия высокочастотных полей, ф а соответственно и моментов, когда производятся измерения в пределах иизкочастотного цикла, позволяет существенно повысить чувствительность :к дефектам.фТак оптимальными при ,В контроле продольных дефектов являются 20 4моменты Ф когда напряженность низкочастотного поля принимает мак" симальные значения, что соотвегству" ет лучшей отстройке от неоднородностей магнитной проницаемости по длине образца. Для поперечных дефектовэто моменты времени Ь , соответствующие коэрцитивной силе, где и чувствительность к дефектам и уровень сигнала второй гармоники наибольшие.Сокращение времени контроля, которое определяется интерваламии Ь, повышает помехозащищенность апособа .в условиях действия коммутационных помех. Таким образом, изобретение облада" ет рядом существенных преимуществ по сравнению с известными способами электромагнитного неразрушающего контроля.