Устройство для определения магнитных и магнитооптических характеристик материалов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1022086
Авторы: Гуничев, Дружинин, Лошкарева, Самохвалов
Текст
) б 01 Й 33/12 ГОСУДАРСТВЕННЫЙПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕ МИТЕТ СССРИЙ И ОТКРЫТИЙ ТЕН мты уз";"фф ф ДЦЩОТИА ОПИСАН ИЗО СВИДЕТЕЛЬСТВ К АВТОРСКОМ 3398066/18-21 МАГНИТНЫХ И МАГНИТООПТ одеЯ(71) Институт физкого научного центр(54)(57) УСТРОЙ юл. % 21А, В, Дружин,н, Н, Н, Лошкарева ики металлов Уральса АН СССР088,8)свидетельство СССР01 К 33/00, 1978 н. Приборы для науч 1970, с. 11-17. СТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛ ЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МАТЕРИАЛОВсодержащее установленные на одной осиисточник монохроматического излученияблок создания магнитного поля, двухлучевуюполяризационную призму и фотоприемник, вход которого соединен с блокомпитания а выход через усилитель связанс самопишущим потецциометром, о т -,л и ч а ю щ е е с я тем, что, с цельюповышения точности измерения, в неговведены установленные на общей оси усэ.ройства оптически связанный с блокомоздания магнитного поля объектив, оптически связанный с поляризационной призмой противофазный модулятор и оптически связанный с ним второй объектив, атакже блок стабилизации излучения, выполненный в виде установленного на выходеблока создания магнитчого поля полупрозрачного зеркала,.оптически связанногс последовательно соединенными Фототектором и системой управления излуче.нием, установленной на выходе источ-.ника монохроматического излучения.Изобретение относится к области магнитных измерений и предназначено для. определения параметров и контроля магнит ных материалов.Известны устройства для определения магнитных параметров на основе эффекта Фарадея с ориецтацией плоскостей поляризации поляризатора и анализатора под45 сОднако эти устройства обладают низкой чувствительностью.Наиболее близкой к изобретению по. технической сущности является установка для непосредственной регистрации магнит; нооптической активности и магнитного 15 гистереэиса, состоящая из лампы, монохроматора, поляризатора, осветительного микроскопа, камеры образца, магнита, приемного микросхопа, призмы Волластона, фотоумножителей и системы регистра ции, состоящей иэ усилителя, источника питания фотоумножителей и координатно-: го самопишущего потенциометра 2.Однако использование в известной установке двух фотоумножителей существен но ограничивает чувствительность и рабочий спектральный диапазон, значительно усложняет ее изготовление, методику настройки и эксплуатацию.Бель изобретения - повышение точностиз 0 измерения.Поставленная цель достигается тем, что в устройство для определения магнитных и магнитооптических характеристик материалов, содержащее установленные35 на одной оси источник монохроматического излучения, блок создания магнитного лоля, двухлучевую поляриэационную призму и фотоприемник, вход которого соединен с блоком питания, а,выход через 40 усилитель связан с самопишущим потенциометром, в него введены установленные на общей оси устройства оптически связанные с блоком создания магнитного поля объектив, оптически связанный с поляризаци онной призмой противофазный модулятор и оптически связанный с ним второй объех тив, а также блок стабилизации излучения выполненньй в виде установленного на выходе блоха создания магнитного поля полупрозрачного зеркала, оптически свя 50 эанного с последовательно соединенными фотодетектором . и системой управления излучением, установленной на выходе источника монохроматического излучения.На чертеже приведена функциональная схема предлагаемого устройства.Устройство содержит источник 1 моно- хроматического излучения, поляризатор 2,блох 3 создания магнитного поля камеру 4 для образца, первый объетив 5, фокусирующий излучение в плоскости модулятора, двухлучевую поляризационную призму 6, противофазный модулятор 7, второй объектив 8, фокусирующий лучи в точку фотоприемника 9, и систему регистрации, включающую источник питания фотоприемнйка 10, усилитель 11 с синхронным детектором, самопишущий потенциометр 12, полупрозрачное зеркало 13, с фотодетектором 14 и системой 15. управления ин,тенсивностью падающего на образец излучения,.Устройство работает следующим образом.Луч света от источника 1(лампы с монохроматором, лазера и т. п.) поляризуется поляризатором 2, полость поляри зации составляет угол 45 о относительно плоскостей поляризации двухлучевой поляризационной призмы 6, затем прохо- дит через хамеру 4 с образцом, перемагничиваемым блоком 3 создания магнитного поля. Йвухлучевая поляризационная призма 6 разлагает пучок света на два пучка со взаимно перпендикулярными плос костями поляризации. Сфокусированные первым объектом 5 в плоскости противофазного модулятора 7 пучки модулируются и вторым объектом 8 фокусируются в одну то Гку на фотоприемнике 9. Йля стабилизации чувствительности установки часть светового потока полупрозрачным зеркалом 13 направляемя на фотодетектор 14, например фотодиод, сигнал хоторого управляет череэ систаюу 15 управления интенсивностью.падающего на обра- зец излучения таким образом, что интенсивность излучения, прошедшего через образец, остается постоянной.При отсутствии фарадеевского вращения в образце интенсивность обоих пучков на фотоприемнике 9 одинакова и переменная составляющая отсутствует. При наличии фарадеевского вращения интенсивность пучков становится разной и на выходе фотоприемника 9 появляется переменнаясоставляющая с частотой модуляции, фаза которой определяется знаком фарадеевского вращения.Сигнал с фотонриемника 9 усиливает:я селективным усилителем 11, детехтируется синхронным детектором, подается на двухкоординатный с(3 мошппущий потен3 1022086 ациометр 12, на вторую координату Кото- полю при исследовании температурньас ,рого подается сигнал, иропорциональный зависюйостей или петель магнитного времени, температуре или магнитному гистерезиса.Составитель М. КлыковаРедактор Г, Безвершенко ТехредВ. Оалекорей Корректор А, ПовхЗаказ 403538Тираж 710ПодписноеИНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж 35, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4
СмотретьЗаявка
3398066, 25.02.1982
ИНСТИТУТ ФИЗИКИ МЕТАЛЛОВ УРАЛЬСКОГО НАУЧНОГО ЦЕНТРА АН СССР
ГУНИЧЕВ АЛЕКСАНДР ФЕОФАНОВИЧ, ДРУЖИНИН АНАТОЛИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ, САМОХВАЛОВ АЛЕКСЕЙ АНДРЕЕВИЧ, ЛОШКАРЕВА НАТАЛЬЯ НИКОЛАЕВНА
МПК / Метки
МПК: G01R 33/12
Метки: магнитных, магнитооптических, характеристик
Опубликовано: 07.06.1983
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1022086-ustrojjstvo-dlya-opredeleniya-magnitnykh-i-magnitoopticheskikh-kharakteristik-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для определения магнитных и магнитооптических характеристик материалов</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения потерь в магнитном сердечнике
Следующий патент: Способ измерения магнитострикции образцов микронных толщин
Случайный патент: Пруток элеватора машин для уборки корнеклубнеплодов