Магнитный дефектоскоп

СОЮЗ анЕТСНИХХЮИКЛРМЕСИИКРЕОПУБЛИК 04 А 1 й 27/87 УДАРСТ 8 ЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОЗЗРЫТИЙПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ угэлета.2. Дефе .ч ающи торец кол в форме с ктоскоп по п,1, о т л и й с я тем, что рабочий цевого магнита выполнен ферического пояса,)вам К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ/ (71) Институт прикладной физики АН Белорусской ССР(56) 1.Авторское свидетельство СССР В 412543, кл. 6 01 й 27/87, 1971.2. Журовский А.Г. и др. Йеразрушающий контроль анизбтропии магнитных свойств динамных сталей. - "За.водская лаборатория", 1978, М 8, с.992 (прототип) .(54)(57) 1. МАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП, содержащий корпус, магнит, магниточувствительный элемент и регистрирующий блок, о т л и ч а ю щ и й а я тем, что, с целью повиаениядостоверности контроля,.магнит выполнен кольцевьак и установлен в корпусе с возможностью вращения вокрсвоей оси, магниточувствительныймент закреплен на торце магнита ивыполнен по охи градиентомеров,ориентированных осями максимальнойчувствительности по касательной кокружности с центром на оси магниИзобретение относится к неразрушающим методам испытаний материалов и изделий магнитным методом и может быть использовано для контролякачества ферромагнитных изделий вмашиностроительной и металлургической 5промышленности,Известно устройство, содержащеекорпу:, установленный неподвижно вкорпусе магнит, магниточувствительный элемент, установленный в цилиндрической полости кольцевого магнита,и регистрирующий прибор 1 3.Однако зто устройство имеет невысокую чувствительность и достоверность контроля, обусловленную влиянием колебания зазора на конечныйрезультат контроля.Наиболее близким по техническойсущности к изобретению является магнитный дефектоскоп, содержащий корпус,.магнит, цилиндрический электро Омагнит, магниточувствительный элемент и регистрирующую аппаратуру,Электромагнит броневого типа установлен неподвижно, а в зазоре междуэлектромагнитом и изделием установлен с возможностью вращения немагнитный диск. На диске установлена прямоугольная измерительная катушка, осьмаксимальной чувствительности которой совпадает с направлением магнитно Ого потока( 2 .Недостатком данного устройства является низкая достоверность контроляФк дефектам контролируемой поверхности из-за чувствительности датчикак изменению зазора между датчиком иизделиям. Кроме того, оно чувствительно к внешним магнитным полям изза конструктивного исполнения датчика.Целью издбретения является повыше ние достоверности контроля.Поставленная цель достигается тем,что в магнитном дефектоскопе, содержащем корпус, магнит, магниточувствительный элемент и регистрирующий 45блок, магнит выполнен кольцевым и установлен в корпусе с возможностьювращениявокруг оси, магниточувствительный элемент закреплен на торцемагнита и выполнен по схеме градиеитомеров, ориентированных осями максимальной чувствительности по касательной к окружности с центром наоси магнита.Кроме того, рабочий торец кольцевого магнита выполнен в форме сферического пояса,На фиг.1 изображен дефектоскопдля контроля плоской поверхности;на фиг.2 - то же, вид сбоку; нафиг,2 - распределение магнитного поля дефекта в зазоре между магнитоми изделием; на фиг,4 - положение датчика над шаровой поверхностью.Магнитный дефектоскоп содержит корпус 1 датчика, кольцевой магнит 2,магниточувствительные элементы 3 и 4,выполненные по схеме градиентомеров, вал 5, регистрирующи блок б,Кольцевой магнит 2 установлен навалу 5 с возможностью вращения относительно оси 7, а магниточувствительные элементы 3 и 4 установлены на рабочей поверхности 8 кольцевого магнита 2 и сориентированы осями 9 максимальной чувствительности по касательной к окружности с центром на оси 7кольцевого магнита 2, расположенногонад изделием 10 плоской или шарбвойформы, имеющим дефект 11 с полем12 рассеяния,Магнитный дефектоскоп для контроляплоских изделий работает следующимобразом.Датчик дефектоскопа (фиг.1) устанавливают на контролируемую поверхность изделия 10,. приводят во вращение магнит 2 вокруг его оси 7 иперемещают датчик по поверхности контролируемого изделия 10. При этом магнит 2, намагниченный вдоль оси 7, намагничивает изделие в зоне расположения магниточувствительных элементов 3 и 4 нормально контролируемойповерхности. Если при перемещениипо изделию 10 датчика дефектоскопав намагничиваемую зону попадает дефект 11 (фиг.2), то он образует маг 1 яитное поле 12 рассеяния, Так какмагниточувствительные элементы 3 и 4сориентированы осями 9 (фиг.1) максимальной чувствительности по касательной к окружности с центром на оси 7кольцевого магнита 2, то при прохождении их над дефектом 11 на элементы 3 и 4 действует тангенциальнаясоставляющая магнитного поля 12 рассеяния, в результате чего на выходеэлементов 3 и 4 появляется ЭДС, которая регистрируется блоком б. Крометого, благодаря такой ориентации магниточувствительных элементов 3 и 4произьодится отсройка от влияния зазора между датчиком и изделием. Изменение зазора сопровождается изменени-"ем магнитного поля в зазоре. Однаковсе изменения происходят в рамкахтой симметрии, которую имеет магнитное поле кольцевого магнита, а силовые линии этого поля перпендикулярны направлению оси 7 максимальнойчувствительности магниточувствительных элементов 3 и 4,Соединение элементов 3 и 4 по схеме градиентомера способствует повышению отношения сигнала от дефектапомеха, т.е. повышению селективности устройства к дефектам,Магнитный дефектоскоп для контроля шаровой поверхности (фиг.З) работает следующим образом.Датчик дефектоскопа устанавливают на шаровую поверхность 10, приводят во вращение магнит 2 вокруг егооси 7, чем осуществляется сканирова1018004 12Фл.г Составитель А.Бродовехред С.Мигунова . КорректорМ,Шароши Редактор М.Петров акаэ 3529 42 Тираж 873 ПодписиВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 филиал ППП фПатент", г Ужгород, ул. Проектная, 4 ние элементами 3 и 4 поверхности шара. Одновременно вращают шар вокругего центра. При этом в зоне расположения элементов 3 и 4 шар намагничи-.вается перпендикулярно поверхности, .Дефект 11, оказавшийся в намагничиваемой зоне, образует магнитное полерассеяния, которое вызывает появление ЭДС на выходе элементов 3 и 4,регистрируемую блоком б. Изобретение обладает повышеннойдостоверностью контроля, достигаемой за счет снижения влияния помех, возникающих за счет колебаний, зазора между датчиком и иэделием и селективности при обнаружении дефектов;Кроме, того, дефектоскоп позволяетобнаруживать дефекты под немагнитным электропроводным покрытием толщиной более 2 мм.