Система подсветки микроскопа

ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ 990091 Союз СоветскихСоциалистическихРеслублнк К ПАТЕ Н 6 ) Дополнительны) к патенту455/18-10 ГосударственнмЯ комитет СССР ю Аслан изОбрстсниЯ и еткрытиЯ(088. 8) публнковано 15. 01 Дата опубликования ойнсання 15. 01 Иностранур Хьюбе) Авторизобрете Шумане фирмаорпоре Инрикан 1) Заявитель и 54) СИСТЕМА ПОДСВЕТКИ МИКРОСКО ение относит к системам п а чес под ую э, ю ала осве и в отсве" перенуюи 9,Изобрет ся к оптике, вчастности одсветки микроскопа.Известны системы подсвета микроскопа, содержащие последовательно установленные вдоль оси источник света, коллектор, полевую диафрагму,коллиматор, апертурную диафрагму иконденсор (1),Недостатком системы является невысокая равномерность освещенности.Известна также система подсветамикроскопа, содержащая последовательно расположенные по оптической осиисточник света, коллектор, выполненный из двух одиночных положительныхлинз, систему переменного увеличениявыполненную иэ двух одиночных плоско-выпуклых линз, установленных своэможностью перемещения оси, полевдиафрагму, систему осветительных линвключакщую двухсклеенную и одиночнулинзы, апертурную диафрагму и конденсор 2),Укаэанная система имеет недостаточно высокую равномерность освещения,Цель изобретения - повышение рав"номерностн освещения,Указанная цель достигается тем, что в системе, подсветки микроскопа, содержащей последовательно расположенные по оптической оси источник света, коллектор, выполненный иэ двух одиночных положительных линз, систему переменного увеличения, выполненную из двух одиночных плоско- выпуклых линз, установленных с возможностью перемещения в направлении вдоль оси, полевую диафрагму, систе му осветительныхлинз, включающую двухсклеенную и одиночную линзы, апертурную диафрагму и конденсор, плоско-выпуклые линзы обращены друг к другу плоскими поверхностями. На чертеже представлена опткая схема предлагаемой системысветки микроскопа,Система включает два канщения - в проходящем светераженном свете 2.Канал освещения в проходящте 1 состоит иэ источника свеколлектора 4, выполненного иэодиночных линз 5 и 6, системыменного увеличения 7, выполне990091 формула изобретения БИИИПИ Заказ 11164/79 Тираж 509 Подписн 1 Патент, г,ород, ул. Проектная финна обращенных плоскими сторонами друг к другу.Система переменного увеличения 7 установлена с возможностью перемещения вдоль оси.За системой переменного увеличе ния 7 установлена полевая диафрагма 10, за которой последовательно ус тановлены система осветительных линз 11, состоящая из двухсклеенной 12 и одиночной 13 линз, апертурная диаф рагма 14 и конденсор 15,Построение канала освещения в от- раженном свете идентично каналу в проходящем свете. Источник излучения 3 общий для обоих каналов. 15Система работавт следующим образом.Свет от источника света 3 через коллектор 4 поступает на систему с переменным фокусным расстоянием 7 и затем через полевую диафрагму 10, Э) систему осветительных линз 11, конденсор 15 попадает на объект 16.Апертурная диафрагма 14 располагается в задней апертуре конденсора 15, что позволяет работающему на д микроскопе оператору регулировать интенсивность подсветки. Полевая диафрагма 10 позволяет регулировать освещаемую площадь в соответствии с размерами объекта 16.для уменьшения продольных размеров системз направление оптической оси можно изменить, введя зеркальный элемент 17, установленный, например, между линзами 12 и 13 осветительной системы линз 11Укаэанная система проста по конструкции и улучшает условия освещения. Система подсветки микроскопа, содержащая последовательно расположенные по оптической оси источник света, коллектор, выполненный из двух одиночных положительных линз, систему переменного увеличения, выполненную из двух одиночных плоско-выпуклых линз, установленных с воэможностью перемещения вдоль оси, полевую диафрагму, систему осветительных линз, включающую двухсклеенную и одиночную линзы, апертурную диафрагму и конденсор, о т л и ч а ю щ а я с я тем, что, с целью повышения равномерности освещения, плоско-выпуклые линзы обращены друг к другу плоскими поверхностями. Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Скворцов Г.Е. и др. Микроско"пы. Л., Машиностроение, 1969,с. 299-301.2Там же, с. 254-255 (прототип),