Устройство для отбраковки мощных транзисторов

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(23) Приоритет Р 1 М К з С 01 Р 31/26 Государственный комитет СССР но делам изобретений и открытийОпубликовано 2 Ы" 82. Бюллетень Ио 47 533 УДК 621, 382, ., 2 (088. 8) Дата опубликования описания 231282(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОТБРАКОВКИ ИОЩНЫХ ТРАНЗИСТОРОВИзобретение относится к контрольно-измерительной технике и можетбыть использовано для контроля качества изготовления мощных транзисторов и отбраковки потенциально не 5надежных приборов.Известно устройство для выявлениятранзисторов с "горячими пятнами",содержащее источник коллекторногонапряжения, стабилизатор эмиттерноготока и инфракрасный иикрорадиометр 1).Недостатками указанного устройст-,ва являются его низкая производительность, большая стоимость и сложность настройки ИК микроскопа и неприменимость для полностью готовых приборовНаиболее близким техническим решением к изобретению является устройство для контроля качества иотбраковки мощных транзисторов с"горячими пятнами" содержащее стабилизатор эмиттерного тока, источник линейно нарастающего коллектор"ного напряжения и осциллограф Г 23.Недостатком устройства является его низкая эффективность из-за низкой точности определения напряжения на коллекторе, при котором происхо. дит образование "горячего пятна" ЗОЦелью изобретения является повышение точности измерения и быстродействия устройства.Поставленная цель достигаетсятем, что в устройство для отбраковки мощных транзисторов, содержащееклемм.у для подключения коллектораиспытуемого транзистора, соединенную с выходом генератора линейнонарастающего напряжения, клемму дляподключения эмиттера испытуемоготранзистора, соединенную с выходомстабилизатора тока, и клемму дляподключения базы испытуемого транзистора, соединенную с общей шиной,введены дифференцирующая цепь, блокформирования импульсов и вольтметр,котоРые последовательно соединены,вход дифференцирующей цепи подключенк выходу стабилизатора тока, а измерительный вход вольтметра соединенс клеммой для подключения коллектора испытуемого транзистора,На чертеже представлена структурная схема предлагаемого устройства.,Устройство содержит генератор 1линейно нарастающего напряжения,стабилизатор 2 тока, дифференцирующую цепь 3, блок 4 Формирования импульсов, вольтметр 5, работающий в983596 Формула изобретения Составитель Н. ЧистяковаГунько Техред С,Мигунова Корректо зят едак аказ 913/53 Тираж 717ВНИИПИ Государственного комитетагго делам изобретений и открыти 3035, Москва, )7-35, Раушская наб. ПодписССР. 4/ 1 П "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 филиал режиме внешнего запуска, три клеммы 6-8 для поцключения испытуемого транзистора и клемму 9 "запуск".Устройство работает следующим образом.При появлении сигнала "Запуск" 5 на клемме 9 (например, при нажатии кнопки) генератор 1 линейно нарастающего напряжения вырабатывает напряжение, поступающее на коллектор испытываемого транзистора, змиттер- "0 ный ток которого стабилизируется стабилизатором 2 тока, а база соединена с общей шиной.Напряжение, снимаемое с змиттера, ггоступает на дифференцирующую цепь 15 3, на выходе которой при образовании "горячего пятна" появляется короткий импульс, который затем усилинается и Формируется блоком 4 и поступает на запускающий вход вольтметра 5, 20 на измерительный вход которого пбступает коллекторчое напряжение испытываемого транзистора с клеммы 6, так что вольтметр 5 измеряет напряжение на коллекторе испытываемого транзистора н момент образования "горячего пятна".Технические характеристики блоков входящих в состав устройства, определяются типом испытываемого транзистора и требуемой точностью. Р частности нремя измерения измерительного вольтметра должно быть много меньше длительности импульса линейно нарастающего напряжения.35Производительность предлагаемого устройства составляет 300 шт./ч, погрешность измерения меньше 4 в отличие от известного устройства,погрешность которого составляет неменее 10. Устройство для отбраковки мощныхтранзисторов, содержащее, клеммудля подключения коллектора испытуемого транзистора, соединенную с выходом генератора линейно нарастающего напряжения, клемму для подключения эмиттера испытуемого транзистора, соединенную с выходом стабилизатора тока, и клемму для подключения базы испытуемого транзистора, соединенную с общей шиной,о т л и ч а ю щ е е с я тем, что,с целью повышения точности измерения и быстродействия, в него введены дифференцирующая цепь, блок Формирования импульсов и вольтметр,которые последовательно соединены,вход дифференцирующей цепи подключен к выходу стабилизатора тока,а измерительный вход вольтметра соединен с клеммой для подключения коллектора испытуемого транзистора.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Вел.сЬ В., На 1 спп Е. В, Нойзро 1 гпеггпаТ гез 1 з 1 апсе 1 п роыегСтапз 1 з 1 огз. - ТЕЕЕ Ттапз., Ч, 101 бг 1969 ф 2 р 166-1702. Кнурт Л,Я., Миндлин Н.Л. Диагностический неразрушающий контроль мощных микросхем. - "Электронная техника"., Сер. 2, вып-. 4, 1980,с. 74-79 (прототип).