Способ измерения комплексного коэффициента отражения от поверхности

Номер патента: 918886

Авторы: Вилькоцкий, Зинкевич, Кныш, Сергиеня

ZIP архив

Текст

(61)Дополнительное к авт. свид-ву- (22) Заявлено 200580 (21) 2927437/18-0 с присоединением заявки М 1) М. Кл.з 01 К 27/ осударствеииый комитет ссср по делай изобретеиий и открытий(71) Заявител ьский институт иим. А.Н.Севченко ауч сследовате проблемки ОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОМПЛЕКСНОГО КОЭФФИЦИЕН ОТРАЖЕНИЯ ОТ ПОВЕРХНОСТИ Изобретение относится к технике СВЧ и может использоваться для измерения коэффициента отражения различных объектов.Известен способ измерения комплек сного коэффициента отражения от,поверхности, при котором исследуемую поверхность облучают одновременво Электромагнитными и акустическими волнами и по измеренным парамет-. рам отраженных от исследуемой поерхности указанных волн определяют омплексный коэффициент отражения вк1) .Однако использование данного способа при неизвестном расстоянии от измерительной системы до исследуемой поверхности и для.поверхности сложной формы, для которой в пределах облученного участка нельзя применить плоскую аппроксимацию, дает большую ошибку .Цель изобретения - повышение .точности измеренийСогласно способу измерения комплексного коэффициента отражения от поверхности, при котором исследуемую поверхность облучают одновременно электромагнитными и акустическими волнами, и по измеренным парамет",рам отраженных от исследуемой повер.хности укаэанных волн определяюткомплексный коэффициент отражения,постоянные распространения электромагнитных и акустических волн выбирают равными друг другу, измеряюткомплексные амплитуды электроьагнитных и акустических волн, отраженных 10 от исследуемой поверхности, а комплексный коэффициент отражения опреде.. ляют, как отношение указанных измеренных амплитуд.Сущность способа заключается в 15 следующем.Как известно, электромагнитныйсигнал, отраженный от исследуемойповерхности, определяется комплекснымкоэффициентом отражения, При приемеотраженного сигнала на некоторомрасстоянии от исследуемой поверхности необходимо учитывать Фазовый набег при распространении. электромагнитной волны в свободном прстранстве, уменьшение амплитуды поля с расстоянием,Коэффициент отражения акустическихволн от жесткой поверхности, которойявляются границы раздела воздуха ибольшинства твердых и жидких тел,практически равен единице.91888 б Составитель А.КузнецовРедактор Н.Бобкова Техред М. Тепер Корректор М.Демчик Заказ 2132/29 Тираж 719 ПодписноеВНИИПИ Государстввнного комитета СССРпо делам изобретений и открытий11303,5, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП " Патент, г. ужгррод, ул. Проектная, 4 При выборе постоянных распространения электромагнитных и акустичесикх волн одинаковыми, фазовый набег и уменьшение амплитуд этих волн при распространении в воздушной среде одинаковы. Рассеивающие свойства поверхностей сложной формй в приближении физической оптики для электромагнитной и акустической волн одинаковы.Таким образом, создав одинаковые распределения предварительно откалиброванных подающих электронного и акустического полей.и измеряя комплексные амплитуды отраженных полей в одной и той же точке, можно опре- )5 делить комплексный коэффициент отражения электромагнитного поляЕ отонотргде Е - комплексная амплитуда отраженного электромагнитного поляРощр. - Комплексная амплитудаотраженного акустическогополя. Калибровка амплитуд падающих электромагнитного и акустического полей и фазовых измерений отраженных полей производится на математическом листе для которого известно, что В = 1 ,Следовательно,амплитуды падающих на металлический лист электромагнитного и акустических полей выбирают"ся так, чтобыБотр 3РопзрПредлагаемый способ обеспечиваетизмерение комплексного коэффициентаотражения от поверхности с высокойточностью.Формула изобретенияСпособ измерения комплексного оэффиЦиента отражения от поверхности,при котором исследуемую поверхностьоблучают одновременно электромагнитными и акустическими волнами и поизмеренным параметрам отраженных отисследуемой поверхности укаэанныхволн определяют комплексный коэффици.ент отражения, о т л и ч а ю щ и й -с я тем, что, с целью повышенияточности измерений постоянные распространения электромагнитных и акустических волн выбирают равными другдругу, измеряют комплексные амплитуды электромагнитных и акустическихволн, отраженных от исследуемой по-.верхности, а комплексный коэффициентотражения определяют, как отношениеуказанных измеренных амплитуд.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССРпо заявке В 2847141/18-09,кл. 6 01 Н 27/Об, 1979 (прототип) .

Смотреть

Заявка

2927437, 20.05.1980

НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ПРИКЛАДНЫХ ФИЗИЧЕСКИХ ПРОБЛЕМ ИМ. А. Н. СЕВЧЕНКО ПРИ БЕЛОРУССКОМ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ГОСУДАРСТВЕННОМ УНИВЕРСИТЕТЕ ИМ. В. И. ЛЕНИНА

ВИЛЬКОЦКИЙ МАРАТ АНТОНОВИЧ, ЗИНЬКЕВИЧ АЛЕКСАНДР ВЛАДИМИРОВИЧ, КНЫШ ВАЛЕРИЙ ПЕТРОВИЧ, СЕРГИЕНЯ СЕРГЕЙ ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 27/06

Метки: комплексного, коэффициента, отражения, поверхности

Опубликовано: 07.04.1982

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-918886-sposob-izmereniya-kompleksnogo-koehfficienta-otrazheniya-ot-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения комплексного коэффициента отражения от поверхности</a>

Похожие патенты