Устройство для контроля линейных размеров изделий

Номер патента: 1800477

Опубликовано: 07.03.1993

Авторы: Ветярис, Йокужис, Лукошявичюс

МПК: G11B 5/455

Метки: геометрических, головки, магнитного, магнитной, напряженности, поля, размеров, распределения

...14, где аналоговый видеосигнал преобразуется в бинарный (изображение А), Уровень бинаризации устанавливается таким, чтобы можно было бы четко различить доменную структуру пленочного магнитооптического датчика 6. С выхода компаратора видеосигнала 14 бинарный сигнал поступает на вход данных 21 блока кадровой памяти 15. По первому кадровому синхроимпульсу, следующему за сигналом "Измерение", командный блок 13 начинает отсчет времени, Через время задержки (необходимое для установления переходных процессов устройства) кратное периоду кадрового синхроимпульса, по сигналу управления, поступающего с выхода 19 командного блока 13 на вход управления 20 блока кадровой памяти 15, работающего синхронно с видеокамерой 12, блок кадровой памяти 15...

Номер патента: 567141

Опубликовано: 30.07.1977

Авторы: Белоусов, Дубнищев

МПК: G01P 3/36

Метки: движущихся, поля, скорости, сред

...неопределенностью направлений волновых векторов падающего (Кы- ЬК;) и рассеянного (Кзо-(-ЬК,) световыхпучков. Дифференцируя равенство (2) по Ои переходя от дифференциалов к приращениям, можно получить для оценки инструментальной ширины спектра допплеровских частот: Отсюда относительная инструментальная ширина допплеровского спектра равна:Ьо)ии =-Ьс 1 дЦ,диДля измерений необходимо, чтобы относительная инструментальная ширина допплеровского спектра была бы меньше допустимой относительной погрешности измерения скорости: Отсюда получается условие, которому должна удовлетворять угловая ширина выделенного рассеянного пучка;(6)с 1 д 9 Поэтому в оптической системе, формирующей изображение рассеивающей области, установлен низкочастотный...

Номер патента: 632897

Опубликовано: 15.11.1978

Авторы: Аронов, Зельман, Ляшенко, Нодиев

МПК: G01B 11/10

Метки: движущихся, поперечного, размера, тел, цилиндрических

...измерения другого канала. Блоки смещения 9 и 10 подключены к формирователям 3 и 4, измерительного импульса,блоки коррекции 11 и 12 подключены к блокам смещения 9 и 10 в своихканалах и формирователям 3 и 4 в других каналах. Выходы блоков коррекции11 и 12 подключены к суммирующим блокам 5 и 6 других каналов. Все блоки,имеющие нечетную нумерацию, относятск первому каналу, имеющие четную нумерацию - ко второму.Изделие может иметь нвконтролируемые смещения, которые вызывают изменение величины оптических проекций, Вобщем случае, величина , на которуюнужно скорректировать размер 3 в соответствующей фотоголовке, являетсяфункцией конструктивных параметров устройства Я (расстояние от иэделия до фотоголовки) и(фокусное расстояние фотоголовки) и...

Номер патента: 911122

Опубликовано: 07.03.1982

Автор: Ушков

МПК: G01B 5/00

Метки: линейных, наконечник, размеров, устройствам

...элементом 2, упор 3, установленный в корпусе 1 на шарнире 4,15 ось которого расположена на оси сим-метрии корпуса, при этом продольнаяось упора смещена относительно осишарнира на величинуа. Упор закреплен в исходном положении (ось упорапараллельна оси корпуса и измерительного стержня устройства для линейных измерений) фиксатором, состоящим из направляющей 5 и пружины 6,установленных в углублении корпуса 125 по его оси симметрии, Сила поджатияпружины выбирается таким образом,чтобы момент этой силы на плече Ьбыл больше примерно в 1,5-2 разамомента силы поджатия измернтельногс30 стержня на плече а,911122 ставитель 3. СтрогановахредЕ.Харитончик Корректор В г Редактор Л. Лука Заказ .1094/20 4 Тираж ИПИ Государст о делам изобр сква,...

Номер патента: 1067416

Опубликовано: 15.01.1984

Авторы: Балабанов, Ковтун, Нежевенко

МПК: G01N 21/23

Метки: микронапряжений, монокристалле, полей

...может быть очень малой (не менее0,1 мм), что в свою очередь не позволяет измерять поля микронапряженийв исследуемом монокристалле с высоким пространственным (0,01 мм) разрешением. Кроме того, не обеспечивается воэможности получения и регистрации коноскопических картин одновременно от нескольких областей исследуемого монокристалла, что существенно увеличивает затраты временина проведение измерений полей микронапряжений в монокристалле. Приэтом устройство требует использования дорогостоящих линз Лазо и Бертрана, которые нуждаются в тщательнойюстировке,Цель изобретения - сокращениезатрат времени на измерение полей 0микронапряжений в. монокристалле.Цель достигается тем, что в устройстве для измерения полей микронапряжений в...