Ультразвуковой способ измерения толщины слоя
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Союз СоветскинСоциадистичесиикРеспублик ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВтОвСкОмУ СвйдеавьСтву(23) ПриоритетОпубликовано 07.12.81, Бюллетень ЭЙ 45Дата опубликования описания 19. 12.8 101 В 17/02 авеудерстюай квинтет СССР . дв делам наабретеннй н еткрнтнй(54) УЛЬТРАЗВУКОВОЙ СПОСТОЛЩИНЫ СЛО ОБ ИЗМЕРЕНИЯ меряют времяи 1 т их распространения 123Недостаток известного способа эаклктчается в низкой точности измерения, связанной .с измерением времени распространения поверхностных волн. Кроме того,при реадизацик способа возникают сложности, связанные с необходимостью возбуждения трех видов уа тразвуковых волнпри помощи четырех отдельных датчиков.Целью изобретения является повышениеточности контроля.Цель достигается тем, что фиксируютна поверхности слоя точки прихода продольных и сдвиговых вотет после их отражения от нижней плоскости слоя, измеря-ют расстояния 3 и 3 . от этих точек доточки возбуждения и тотецину слоя рассчитывают по формуле2 й 11 зруш а- исподьы покры- вуковых овой способ конт- заключающийся ации отражателяканале и измеранения "эхо,.способа явдяет- .ости измерениятной скоростью Устройство относится к нера ющему контролю и может быть зовано для определения топцин тия иэделий с помощью ультраз води. Известен упьтразвукроля тотецины изделияв двусторонней эхолокв опорном акустическомренин времени распростимпульсов13.Недостатком этогося отсутствие возможнв материалах с неизвесультразвука. Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому результату является ультра звуковой способ измерения толщины слоя, закаочающийся в то)л, что в ксеттролируемом слое возбуждают продольные Ь и савиговые Т ультразвуковые волны, принимают эти волны после прохождения слоя и изугол ввода рьтразвуковых волнв иэделие;Тираж 645 ПоцписноеИИПИ Госуцарственнбго комитета СССРпо делам изобретений и открытийМосква, Ж, Раушская наб., д. 4/8 акаэ 10710ф1130 лиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 3 8879С- скорость продольных волн втериале преобразователей.У льтразвуковой способ измерения толщины слоя осуществляется слецующим образом. В материале изделия с помощью5 продольной ультразвуковой волны, падающей на поверхность под острым углом, возбуждают продольную и поперечную волны. Продольная волна при падении на нижнюю границу слоя отражается и трансфор мируется в продольную и поперечнук волны. То же происхоцит и при падении поперечной волны, Причем отраженная поде речная волна, возникающая при падении поперечной волны, параллельна отраженной И поперечной волне, возникающей при падении продольной волны, а отраженнаяпоперечная волна, возникающая при падении продольной волны, и отраженная продольная волна, возникающая при па пении поперечной волны, прихоцит в оциу точку. При контроле фиксируют точку и время 1прихода отраженной поперечной волны, возникающей при падении поперечной волны, и точку прихоца и вре% мя 11 отраженной продольной волны, возникающей при пацении продольной волны, Измеряют расстояния д и Вот этих точек цо точки возбуждения ультразвуковых волн и по предложенной формуле рассчитывают тощину слоя. 26 4Ультразвуковой способ позволяет с большей точностью измерять толщину слоя.формула изобретенияУльтразвуковой способ измерения толщины слоя, заключающийся в томф что в контролируемом слое возбуждают продольныеи сцвиговыет ультразвуковые волны, принимают эти волны после прохождения слоя и измеряют времяи 1 их распространения, о т л и ч аю щ и й с я тем, что, с целью повь"пения точности контроля, фиксируют на поверхности слоя .точки прихода продольных сдвиговых волн после их отражения от нижней плоскости слоя, измеряют расстояния 3 и Вт от этих точек цо точки возбуждения, и толщину слоя рассчитывают по формуле- угол ввода ультв иэделие;- скорость продольньтериале преобразовИсточники информации,тые во внимание при экспертизеАвторское свидетельство СССР657, кл, С 01 В 17/00, 1968вторское свидетельство СССР432, кл.01 В 17102, 1968
СмотретьЗаявка
2717622, 25.01.1979
КАУНАССКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. АНТАНАСА СНЕЧКУСА
ЮОЗОНЕНЕ ЛЮЦИЯ ВИНЦЕНТО, САЯУСКАС СТАНИСЛОВАС ИОНО
МПК / Метки
МПК: G01B 17/02
Метки: слоя, толщины, ультразвуковой
Опубликовано: 07.12.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-887926-ultrazvukovojj-sposob-izmereniya-tolshhiny-sloya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Ультразвуковой способ измерения толщины слоя</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения перемещений
Следующий патент: Способ ультразвукового контроля толщины оболочек
Случайный патент: Устройство к фрезерному станку