84903

Номер патента: 246875

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Палей

МПК: G01B 5/14

Метки: несоосности, общей, оси, относительно, поверхностей, разнесенных

...способ отличается от известного тем, что для повышения точности измерения последовательно базируют деталь по одной из проверяемых поверхностей, несоосность которой необходимо определить, измеряют относительно принятой базовой поверхности несоосность в среднем сечении другой поверхности, а затем определяют искомую несоосность по разработанной для этого способа измерения формуле.Способ измерения несоосности разнесенных поверхностей детали поясняется схемой на фиг. 1; на фиг, 2 - схема геометрических построений для определения величины несоосности,Для измерения несоос ности разнесенных поверхностей А и Б детали измерительное устройство 1 базируют, например, по поверхности Л и измеряют несоосность поверхности Б в ее среднем...

Номер патента: 379828

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Вительгосударственный, Экспериментальный

МПК: G01B 13/12, G01B 13/18

Метки: несоосности, общей, оси, отверстий, относительно

...имеющие возможность перемещения и фиксации в кронштейнах перпендикулярно к направляющим, а на два других кронштейна 4 установлены жесткие базовые упоры 7 также с возможностью пе.ремещения перпендикулярно к направляющим. Для увеличения жесткости корпуса на ЗО направляющих размещены два сухаря 8, которые могут устанавливаться в любом месте. Скоба 2 с установленными на ней кронштейнами 9, несущими ролики 10, имеет возможность перемещения в радиальном, относительно контролируемых отверстий, направлении, т, е, перпендикулярно направляющим корпуса 1.Ролики 10 служат для поджима измерительных и базовых наконечников к контролируемым отверстиям и имеют возможность переустановки их в зависимости от параметров контролируемых отверстий, а для...

Номер патента: 448346

Опубликовано: 30.10.1974

Авторы: Мурашко, Уразаев

МПК: G01B 5/25

Метки: вращения, двух, детали, несоосности, общей, оси, относительно, поверхностей

...измеряют несоосность второй поверхности относительно общей оси при вращении детали относительно оси, проходящей через центр базирующей поверхности и перпендикулярной ее торцу.Предлагаемый способ отличается от известного тем, что измеряют в среднем сечении второй поверхности отклонение общей оси от оси вращения детали, измеряют в крайнем сечении второй поверхности отклонение ее оси от оси вращения детали и определяют величину несоосности второй поверхности относительно общей оси, как разницу величин второго измерения, взятого с постоянным коэффициентом, зависящим от геометрических пар а метров детали.Это повышает точность измерения за счет учета отклонения общей оси от оси вращения детали,Предлагаемый способ иллюстрируется чертежом.Для...

Номер патента: 605073

Опубликовано: 30.04.1978

Авторы: Берклайд, Фридлянд

МПК: G01B 5/25

Метки: общей, оси, отверстий, отклонения, относительно, соосности

...содержит резьбовые оправки 1и 2, подбираемые из набора и устанавлива емь 1 е в резьбовые отверстия проверяемой детали 3 без зазора. Цилиндрические цапфы оправок выполняются одинакового диаметра и соосно с резьбой. В корпусе устройства на осях 4 и 5 расположены вилки 6 и 7 с ноже выми опорами 8. Оси 4 и 5 размещены посередине ножевых опор 8 так, что проходят через осн оправок 1 н 2, установленных цапфамн на ножевые опоры 8. Ограничители 9 и 10 обеспечивают симметричное расположение 15 детали относительно устройства.На требуемом расстоянии ( от их осей 4 и5 качания вилок 6 и 7 установлены измерители 11.Устройство работает следующим образом.20 Оправки 1 и 2 ввертываются в контролируемые отверстия проверяемой детали 3. Деталь...

Номер патента: 827254

Опубликовано: 07.05.1981

Авторы: Кротов, Орловский, Сахнов

МПК: B22D 11/16

Метки: литья, непрерывного, оси, относительно, положениякристаллизатора, техноло-гической

...на оси 5, проходящей за боковой поверхностью 6 кристаллизатора 1, Ось 5 параллельна технологической оси 2 установки непрерывной разливки металла, Приемник излучения 3 установлен на кристаллизаторе 1 посредством кронштейна 7.В описываемом варианте источник излучения 4 и,приемник излучения 3 расположены в трубе-экране 8, закрепленном верхним концом в кронштейне, а нижним - в основаниями 9 машины непрерывного литья металла. Труба-экран 8 выполнена из двух частей 10 и 11, соединенных сильфоном 12.Приемнлк излучения 3 в описываемом варианте представляет собой позиционно- чувствительный датчик (фиг. 2), состоящий из четырех светочувствительных элементов 13 - 16, включенных попарно-встречно (13 с 15, а 14 с 16), оптический центр 17...