Способ измерения параметров передаточнойхарактеристики компараторов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 842647
Автор: Готлиб
Текст
, по делам изобретений и открытий(71) Заявитель Институт электроники и вычислительной техники АН Латвийской ССР54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ПЕРЕДАТОЧНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ КОМПАРАТОРОВ Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для измерения параметров передаточной характеристики компараторов, например смещения нуля и шири 5 ны петли гистерезиса.Известны способыоснованные на сравнении измеряемого параметра испытуемого и эталонного устройств 1 .Недостатками известных способов являются невозможность измерения абсолютного значения измеряемого параметра и низкая достоверность измерения. Наиболее близким по технической15 сущности к предлагаемому является способ измерения параметров передаточной характеристики компараторов,основанный на воздействии на вход компаратора тестовых сигйалов: первого раэ вертывающего и второго, имеющего форму прямоугольных импульсов, и регистрации выходного сигнала компаратора 2 .25 Недостаток этого способа заключается в невозможности его использования для измерения параметров передаточной характеристики компараторов с гистерезисом передаточной характерис тики, т.е, функциональные возможно:тиданного способа ограничены.Цель изобретения - расширение функциональных возможностей.указанная цель достигается тем, чтов иэвестном способе, основанном на воздействии на вход компаратора тестовыхсигналов и регистрации выходного сигнала компаратора, в качестве первоготестового сигнала используют регулируемый сигнал, амплитуду второго тестового сигнала выбирают переМенной,сравнивают значения скважности выходного сигнала компаратора для различных значений амплитуд второго тестового сигнала, регулирование первого тестового сигнала осуществляют до получения постоянного значения скважностивыходного сигнала и по значению первого тестового сигнала в этот момент судят о величине смещения нуля, а ширинупетли гистерезиса определяют путем удвоения минимального значения амплитудывторого тестового сигнала.На чертеже представлены диаграммы,поясняющие сущность способа,На диаграммах обозначены границы1 и 2 гистерезисного участка передаточной характеристики 3 испытуемогокомпаратора, первый тестовой регули842647 Формула изобретения НИИПИ Заказ 5090/53 Тираж 732 Подписи Филиал Н "Патент", г.ужгород, ул,Проектная,4 руемый сигнал 4,второй тестовой сигнал 5 - 7 заданной, в данном случаетреугольной Формы и переменной амплитуды, временные диаграммы А,В,С и Р,иллюстрирующие входные и выходные сигналы испытуемого компаратора при различных значениях первого тестового5сигнала в процессе его регулированияи варьировании амплитуды второго тестового сигнала, выходные сигналы 8-1 Гиспытуемого компаратора, соответствующие амплитудам второго тестового сигнала 76,5 соответственно,Сущность способа состоит в следующем.Регулируют первый тестовой сигнал,например, путем его ступенчатого . 5Изменения, придавая ему поочереднозначения 4 А, 4 В, 4 С, 4 Р. В процессеего регулировки варьируют значенияамплитуды второго тестового сигнала.Сравнивают между собой значения скваж-щности выходного сигнала испытуемогокомпаратора. Из диаграмм на чертежевидно, что изменение амплитуды второго тестового сигнала приводит к изменению скважности выхлопного сигналаиспытуемого компараторе.и что скважность выходного сигнала испытуемогокомпаратора лишь при одном значениипервого тестового сигнала (именно 4 С)не зависит от амплитуды второго тестового сигнала. При этом прекращают регулировку первого тестового сигнала,Далее вычисляют значения параметровиспытуемого компаратора. Фиксируютконечное значение первого тестовогосигнала ( 4 С ) и принимают его эа смещение "нуля. Фиксируют минимальное значение амплитуды второго тестового сигнала ( 5 С ), удваивают его и эту величину принимают за ширину петли гистерезиса на частоте измерения. Способ позволяет снимать частотную характеристику ширины петли гистерезиса путем варьирования частоты второго тестового сигнала. Значение этой характеристики позволяет оптимизировать выбор компаратора для требуемого диапазона частот сравниваемых сигналов, повысив этим точи,сть и быстродействие устройств, использующих компараторы. Способ измерения параметров передаточной характеристики компараторов,например, смещение нуля и ширины петли гистереэиса основанный на воздействии на вход компаратора тестовыхсигналов и оегистоапии выходного сигнала компаратора,о т л и ч а ю щ и йс я тем,что,с целью расширения Функциональных возможностей,в качестве первого тестового сигнала используют регулируемый сигнал, амплитуду второготестового сигнала выбирают переменной,сравнивают эначения скважности выходного сигнала компаратора для различных значений амплитуд второго тестового сигнала, регулирование первого тестового сигнала осуществляют до полученияпостоянного значения скважности выходного сигнала и по значению первого тестового сигнала в этот момент судят овеличине смещения нул, а ширину петли гистереэиса определяют путем удвоения минимального значения амплитудывторого тестового сигнала,Источники инФормации,принятые во внимание при экспертизе1, Авторское свидетельство СССР9 417772, кл, С 05 В 23/02, 1972.2. Измерительная техника 1979,вып. 3, с. 35-36 (прототип),
СмотретьЗаявка
2771605, 28.05.1979
ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОНИКИ И ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОЙТЕХНИКИ AH ЛАТВИЙСКОЙ CCP
ГОТЛИБ ГРИГОРИЙ ИОСИФОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 31/28
Метки: компараторов, параметров, передаточнойхарактеристики
Опубликовано: 30.06.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-842647-sposob-izmereniya-parametrov-peredatochnojjkharakteristiki-komparatorov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения параметров передаточнойхарактеристики компараторов</a>
Предыдущий патент: Устройство для контроля импульсов
Следующий патент: Цифровой измеритель магнитного поля
Случайный патент: Головка, например, к агрегатному станку для обработки отверстий