Устройство для исследования энерге-тического распределения b сечениисветового пучка

Номер патента: 538678

Опубликовано: 15.12.1976

Авторы: Михеев, Сорокин, Трофимчук, Черников, Шкваря

МПК: A01C 7/00

Метки: исследований, лабораторных, распределения, сыпучих

...с помощью шпоночного соединения закреплены поворотные кассеты 6 с установленными на них уловителями 7 сыпучего материала, представляющими собой пористыецилиндры или мешочки из фильтрующей ткани. Число положений шагового электромеханизма равно количеству уловителей на кассете. В верхней части вакуум-сборника имеется герметичная крышка 8 со шкалой 9 и указателем 10 угла поворота кассет, закрепленным на валу 5, На наружной поверхности вакуум- сборника имеются патрубок 11, подключаемый к вакуум-насосу 12, и патрубки 13, последовательно соединяемые гибким рукавом 2 с соплом 1 и закрываемые заглушками 14. На рукоятке сопла расположена контактная кнопка 15, соединенная электрической линией 1 б с шаговым электромеханизмом 4 и...

Номер патента: 648758

Опубликовано: 25.02.1979

Авторы: Менг, Шевченко

МПК: F16B 33/00

Метки: исследования, нагрузки, распределения, резьбе

...необходимая жесткость устройства,Усилия сжатия определяют с помощью тарировочных кривых по изменениям расстояний между шайбами 22, 23, 24, 25, 26 и опорными площадками 3, 1, 4, 5 и 6 соответственно(для контроля усилия сжатия можно такжеиспользовать тензодатчики, если их наклеить на одну из тарелок пакета пружин), Ввиду незначительных усилий, поворот нагружающих гаек 17, 18, 19, 20 и 21 при нагружении пружин осуществляется вручную спомощью штыревого ключа, вставляемогов радиальные отверстия гаек. Для измерения деформации на опытнойгайке 10 наклеиваются тензодатчики с одинаковыми параметрами и расположением.Изменение сопротивлений тензодатчиков фиксируется с помощью любого измерителя статических деформаций.Последовательность работ на...

Номер патента: 1318964

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Дудниченко, Дятел, Коваленко, Музыра, Пятак

МПК: G02B 5/04

Метки: излучения, интенсивности, оптический, преобразования, пучке, распределения, световом, элемент

...элемента.На фиг.1 изображена равнобедренная трапеция; на фиг.2 - оптический элемент, продольное сечение; нафиг.3 - зависимость интенсивностиизлучения на выходе из оптическогоэлемента 1(г ) от расстояния гот его оси для различных радиусов1элемента, определяемых величинойвысоты трапеции.Оптический элемент имеет две преломляющие конические поверхности 1и 2 и отражающую цилиндрическую поверхность 3, образованные вращениемравнобедренной трапеции 4 высотойвокруг ее меньшего основания 5.Высота Ь является радиусом оптического элемента.Оптический элемент работает следующим образом,На преломляющую поверхностьпадает световой поток 6, имеющий максимум 7 интенсивности в центральнойчасти, После преломления из поверхности 2 выходит световой...

Номер патента: 1282050

Опубликовано: 07.01.1987

Автор: Архипов

МПК: G02B 27/46, G02F 1/03

Метки: выравнивания, интенсивности, оптическая, пучка, сечению

...по сечению пучка на транспаранте 5 и на преобразователе 10 совпадают независимо от геометрии пучка (параллельный, схоР дящийся, расходящийся), поскольку эти элементы одинаково удалены от светоделительной пластины 3. Освещение полупроводникового фотослоя 13 вызывает уменьшение его сопротивления и перераспределение .напряжения П, в результате которого значительная его часть оказывается приложенной к электролюминофору 15, что вызывает его свечение. Причем распределение интенсивности свечения электролюминофора повторяет соответствующее распределение по сечению пучка, падающего на преобразователь. Спект 1282050ральный состав излучения электролюминофора выбирается с учетом спектральной характеристики фотопроводника 9. Таким образом, с...

Номер патента: 1462521

Опубликовано: 28.02.1989

Авторы: Михайлов, Резвов, Скляренко, Юдин

МПК: H05H 7/00

Метки: датчик, заряженных, ионизационный, плотности, поперечному, пучка, распределения, сечению, частиц

...полемизвлекающего конденсатора 2, образованного отражательным 3 и извлекающим 4 электродами, соединенными сразными полюсами источника 5 постоянного напряжения ионизационные час).тицы, например электроны параллель)Ф50но переносятся на плоскость извлекающего электрода 4. Электроны, попавшие в щель 1 О извлекающего электрода 4, образуют ленточный пучокпространственное распределение в котором в направлении вдоль щели 10соответствует распределению плотности исследуемого пучкав этомнаправлении. Поскольку в однородном а = еЕ - ускорение частицы в этом Ш поле .146252 Откуда 27 а Расстояние213 п 11 ЧТ "Ч 1и а а 2 еЕ 1ш Е-- Х = 2 - Хш еЕ Е 10 20 40 и максимальное удаление Е электрона от входной пластины анализирующего конденсатора 82 = --Х1...