Акустический способ дефектоскопии
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
е 819709 Союз Советскик Социалистических Республик(61) Дополнительное к авт, сеид-ву 12 655961 (22) Заявлено 040679 (21) 2776535/25-28 с присоединением заявки Йо(51)М. Кл 6 01 й 29/04 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий(53) УДК 620.179, ,16(088.8) Дата опубликования описания 170481(72) Авторы изобретен и я В.М.Баранов и Е.М.Кудрявцев Московский ордена Трудового Красного 3 аменЙИВ(54) АКУСТИЧЕСКИЙ СПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИИ Изобретение относится к области неразрушающих испытаний и может быть использовано для контроля сплошности и однородности изделий.5Известен акустический способ дефектоскопии, заключающийся в том, что в контролируемом и эталонном объектах возбуждают резонансные механические колебания, определяют число резонансных пиков контролируемого объекта в заданном.частотном интервале, сравнивают с аналогичным числом для эталонного образца и по .разности и резонансных пиков судят о дефектности образца 1 ."15Недостатком известного способа является невозможность с его помощью определять размеры дефектов.Целью изобретения является расширение области применения. 20Поставленная цель достигается тем, что определяют разность частот между основным резонансным пиком, соответствующим эталонному образцу и дополнительным резонансным пи- ком, по которой судят о размерах дефектов.На фиг. 1 прнведана Функциональная схема устройства, реализующего способа; на Фиг. 2 - частотные спек тры беэдефектного образца и образца с деФектом.Устройство содержит последовательно соединенные генератор 1 звуковой частоты, пьезоизлучатель 2, стержень-звукопровод 3, образец 4, стержень-звукопровод 5, пьеэоприемник 6, усилитель 7, детектор 8, дифференцнрующее устройство 9, диод 10, формирователь 11 стандартных импульсов и частотомер 12, вход которого подключен к выходу генера" тора 1 звуковой частоты. С помощью генератора 1 звуковой частоты, частота которого меняется в заранее выбранных пределах, возбуждается пьезоизлучатель 2, закрепленный на стержне-эвукопроводе 3. Колебания, генерируемые пьезоизлучателем 2, распространяются по стержню-звукопроводу 3 и возбуждают колебания образца, регистрируемые через стержень-звукопровод 5 пьеэоприемником 6. При совпадении частоты генератора 1 с резонансами частоты колебаний испытуемого образца амплитуда колебаний последнего резко возрастает. Это напряжение усиливается усилителем 7.819709 Формула изобретения Акустический способ дефектоскопии по авт. св. Р 655961, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с цельюрасширения области применеиия,определяют разность частот между основным резонансным пиком, соответствующим эталонному образцу, и дополни тельным резонансным пиком, по которой судят о размерах дефектов.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССР 20 Р 655961, кл. С 01 й 29/04, 1977(прототип). оставитель Л.ЛУщенкоехред Е,Гаврилешко, Корректор М.Иароши7 и о Редактор Т.Зубко каз 3 1/23 Тираж 90 ВНИИПИ Государственн по делам иэобрете 113035, Москва, ЖПодпомитета СССРоткрытийУшская наб., д,н й ППП фПатент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 далее сигнал детектируется детектором 8, на выходе которого появляются импульсы, соответствующие прохождению .через резонанс исследуемого образца. При малых размерах дефекта исследуемый образец может иметь близкие резонансные пики. Чтобы разделить электрические импульсы отображающие амплитудно-частотную характеристику, они дифференцируются устройством 9 и выпрямляются диодом 10, Полученные импульсы поступают на формирователь 11 стандартных импульсов, который запускает часто". томер 12. Таким образом, в момент прохождения через резонансы иссле-. дуемого образца частотомер 12 регистрирует его резонансные пики. На Фиг. 2 представлена разностьчастот между основным резонанснымпиком 13, соответствующим эталонномуобразцу, и дополнительным резонансным пиком 14, которая зависит от размера дефекта.Использование способа дефектоскопии позволяет оценить размеры дефектов в контролируемых образцах.
СмотретьЗаявка
2776535, 04.06.1979
МОСКОВСКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАС-НОГО ЗНАМЕНИ ИНЖЕНЕРНО ФИЗИЧЕСКИЙИНСТИТУТ
БАРАНОВ ВИКТОР МИХАЙЛОВИЧ, КУДРЯВЦЕВ ЕВГЕНИЙ МИХАЙЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 29/04
Метки: акустический, дефектоскопии
Опубликовано: 07.04.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-819709-akusticheskijj-sposob-defektoskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Акустический способ дефектоскопии</a>
Способ измерения резонансных частот в ультразвуковом дефектоскопе-толщиномере
Номер патента: 104129
Опубликовано: 01.01.1956
Авторы: Богословский, Королев, Краковяк, Рахманов
МПК: G01B 17/02, G01N 29/12
Метки: дефектоскопе-толщиномере, резонансных, ультразвуковом, частот
...генератора дефектоскопа.При частотной модуляции лампового генератора на резонансных частотах в металле резко возрастает активная реакция среды на пьезоэлектрический щуп, что приводит к уменьшению добротности контура генератора. Изменение режима генератора проявляется в виде всплесков ац тока лампы и отмечается на экране электроннолучевой трубки.При наличии достаточной связи частотомерного устройства лампового генератора уменьшение доЛчч 104129 с 1 иг. 1 бротности контура генератора произойдет также на частоте, которая соответствует резонансу частотомерного устройства.В результате на экране трубки появится дополнительный, так называемый служебный, импульс. Перестраивая резонансный контур, можно перемещать по экрану служебный...
Резонансный ультразвуковой дефектоскоп-толщемер
Номер патента: 105224
Опубликовано: 01.01.1957
Авторы: Аузин, Голодаев, Ланге, Пророков, Шрайбер
МПК: G01B 17/02, G01N 29/12
Метки: дефектоскоп-толщемер, резонансный, ультразвуковой
...кварцевь,х фильтров 8 (фиг. 3), настроенных па эти частоты. На схеме (фиг. 3): 9 - частотный модулятор; 10 - огра ничитель; П - генератор тока; 12 - детектор;13 - усилитель; 14 - трип ер, 15 - устройство, запирающее триггер и возвращающее его в исходное состояние.Прямой отсчет толщины по градуированному лимбу осуществляется путем последоват ельного совмещения подвижной электронной метки с двумя резонансными пиками на экране прибора. При таком спосоое отсчета определяется разность частот между двумя любыми гармониками стоячих волн, которая однозначно определяет толщину. Это делает возможной градуировку лимба непосредственно в толщинах. На схеме отсчетного приспособления (фиг. 4): 16 - смеситель; 17 - измерительный гетородин; 18 -...
Способ изготовления образцов для настройки дефектоскопов при неразрушающем контроле
Номер патента: 1201755
Опубликовано: 30.12.1985
Авторы: Агеев, Выборнов, Калинин, Шамин
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектоскопов, контроле, настройки, неразрушающем, образцов
...113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5Филиал ППП "Патент", г.Ужгород, ул, Проектная, 4 1 1Изобретение относится к нераэру"шающему контролю и может быть использовано для изготовления образцов для настройки дефектоскопов при,например, тепловом ульраэвуковоми других видах неразрушающего контроля изделий с гаэотермическим покрытием.Целью изобретения является повышение точности настройки при контроле изделий с газотермическим покрытием.Способ осуществляют следущцим образом,В качестве материала для изготовления искусственного дефекта выбираютпорошкообразный материал с физикомеханическими свойствами, отличнымиот свойств основы и покрытия.На поверхности основы напылениемчерез маску порошкообразного материала выполняют искусственный...
Способ изготовления контрольных образцов для настройки дефектоскопов
Номер патента: 1267250
Опубликовано: 30.10.1986
Авторы: Гарькавый, Гольдин, Левченко, Сахно, Танцеров
МПК: G01N 27/84
Метки: дефектоскопов, контрольных, настройки, образцов
...нагревают последнюю до выбирают из соотношенияпластической деформации и нагружают 25азаготовку продольно-поперечным обжа- - 0,2 - 0,5,тием 21,где Ь - глубина дефекта,Недостаток данного способа состоитрадиус скругления между стенкамив невозможности получить поверхностиз соотношенияные дефекты (глубиной 0,1 мм) с за- З 0данными параметрами, так как при об- -Ьасжатии поверхностных слоев происходит 2неравномерная их деформация и, как 2 уследствие, нестабильная ширина дефек- а затем заготовку выпрямляют изгибом.та по его нысоте. Кроме того, перед выпрямлением заНаиболее близкйм к предлагаемомуготовки в канавку помещают немагнитявляется способ изготовления контро- ную пластину толщиной, равной заданльных образцов для настройки дефекто- ной...
Способ определения резонансных частот элементов
Номер патента: 377644
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G01H 13/00
Метки: резонансных, частот, элементов
...резонансную частоту известным способом возбуждения синусоидальной вибрацией, а также предлагаемым способом, Для выбранного типа реле резонансная частота нормально открытых контактов, определенная путем приложения гармонической силы, составила 1480 Гп.Затем резонансная частота нормально открытых контактов рэтого реле была определена предлагаемым способом. Исследуемое реле жестко закрепили к платформе ударного стенда. Функциональное состояние контактов реле контролировалось специальной схемой, фиксирующей кратковременное замыкание. В месте крепления реле был установлен пьезоэлектрический акселерометр. Амплитудно-временная зависимость ускорения, возникающего в момент удара, фиксировалась на фотопленке, Реле подвергалось последовательно...
Предыдущий патент: Ультразвуковой преобразователь
Следующий патент: Автоматический сигнализатордефектов
Случайный патент: Способ физического моделирования