Способ определения структуры абра-зивного инструмента

Номер патента: 1164041

Опубликовано: 30.06.1985

Автор: Чмшкян

МПК: B24B 3/02

Метки: абразивным, заточки, инструмента, инструментом, многолезвийного

...и производительности, а такжерасширение технологических возможностей путем заточки косозубых инструментов,Поставленная цель достигается 25тем, что согласно способу заточкимноголезвийного инструмента абразивным инструментом, которому сообщаютдвижение резания вокруг своей оси,скрещивающейся с осью затачиваемогомноголезвийного инструмента, абразивный инструмент выполняют в видеторроидного червяка, при этом затачиваемому многолезвийному инструменту сообщают вращение вокруг своей35оси, согласованное с вращением абразивного инструмента, а одному изинструментов дополнительно задаютдоворот в направлении сближенияконтактирующих поверхностей инструментовКроме того, одному из инструментов сообщают дополнительное поступа 041 гтельное перемещение...

Номер патента: 1308892

Опубликовано: 07.05.1987

Авторы: Антонов, Бжезинский, Козлов, Лавренов, Плесский

МПК: G01N 29/04

Метки: акустических, волн, поверхностных, распространения, скорости

...в коллиматор 2, с помощью которого апертуру пучка уста навливают соизмеримой с размером исследуемого участка поверхности эвукопровода 5. Полученный пучок модулируют по интенсивности с частотой Гпри помощи модулятора 3, подключенно.го к генератору 8, частота которогоможет меняться. Частота Г выбираетсяв области частот ПАВ-устройств иобычно лежит в пределах 40-200 МГц,,При этих же частотах наиболее эффективно работают акустооптическиемодуляторы. Модулированный пучок оптического излучения направляют понормали к решетке 4, примыкающей кисследуемому участку поверхностизвукопровода 5, Монотонно изменяют 8892 2 частоту Г модуляции интенсивкост,оптического излучения. В тот момент,когда частота модуляции Г такова, чтодлина ПАВ Д =...

Номер патента: 624157

Опубликовано: 15.09.1978

Авторы: Гранкин, Гриц, Посудин

МПК: G01N 29/00

Метки: акустических, волн, опделения, поверхностных, распространения, скорости

...0углом освещают поверхность образцасве овым когерентным лучом. Световойлуч дирагирует на Фазовой диФракционной решетке, которая образуется врезультате деФормации поверхности и 25изменения показателя преломления среды. Измеряя угловую зависимость дифракции света на поверхностных волнах,определяют скорость РаспространенияЗОволн. по предно возатериалповерхчастотаозбуждесвещают световым лучи,дифи рескорость й волны624157 д,= ь 1 п И )1. э 1 п(к- к, Му Составитель М .ИорданскийТехред А. Алатырев Корректор Л.Веселовская Редактор Е,яковчик Заказ 5176/35 Тираж 1112 ПодписноеЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д.4/5 Филиал ППП фПатент, г.ужгород, ул.Проектная, 4...

Номер патента: 1270582

Опубликовано: 15.11.1986

Автор: Семенычев

МПК: G01H 5/00

Метки: акустических, волн, затухания, материале, скорости

...тригонометрическим Формулам получают.Л 1 Ук )аУка2 соэоМ А Г У5 П 11"о -С 1(К) 6-1А 1 "С"( Ч,-с 4,КЬ) -УВыбирая первый момент измерениятаким, чтобы ордината колебаний впервой на пути распространения точкеравнялась в этот момент времени нулю, при К=ЗУ = ЛУ - А,= -"У3 2 УВторое измерение проводят в момент времени 1.", когда ордината колебаний во второй точке на пути распространения волны равна нулю;Из последнего соотношения с учетом обозначений для сЭ ,находят: о 3Ч - =сй В/агссо 5 ( - " - .гУ 1 У,Отсюда рассчитывают скорость Ч и коэффициент затухания М по формулам: МЬу фйагссо 5с= - 3 (-+ ),УУзгде У 5, У 2 - ординаты колебаний впервом измерении;, 1У 5, 11 - ординаты колебаний вовтором измерении;- шаг длины измерений;1 , 2 р,/,)-...

Номер патента: 1651103

Опубликовано: 23.05.1991

Авторы: Бучин, Семенычев

МПК: G01H 3/00, G01H 5/00

Метки: акустических, волн, затухания, материале, скорости

...расстояние между контролируемыми точками;х 1 - расстояние от точки ввода исследуемой акустической волны в образец материала до первой контролируемой точки поверхности образца.Сущность способа измерения скорости и затухания акустических волн в материале заключается в том, что на поверхности материала в трех равноотстоящих точках в направлении распространения волны дважды измеряют смещение в волне, измеряют расстояние от точки ввода акустической волны в материал до ближайшей из контролируемых точек поверхности, в которых измеряют смещение, расстояние между контролируемыми точками выбирают меньше длины исследуемой волны, а интервал времени между первым и вторым измерениями смещений устанавливают меньше периода исследуемой волны, определяют...