Прибор для измерения видимости

Номер патента: 288417

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Заморин, Субботин

МПК: G06F 13/14, G06F 9/50

Метки: вычислительной, запросов, общим, полем, приоритетное, системы

...обращение к слокям памяти, запятым дяицым приоритетиыы устройством и устройствами с более вы соким приоритетом.Схема 1 допуска срявппвдет рззрешеппы( запросы па шипе 17 и здиросы ця шипе 18 1 л выходе схемы 2 и выдзсг цо шине 19 сигцялы опросд мягязппл зяпросов 6, Бригяздп(ыс к ОГРСДСЛСП 1 М ТсКТОБ. СЦДГс 11 П 1 ПП (7 5 Оп)ОСЯ ОЛОКОВ ПЯМ 51 ТИ.Адрес запрося поступает из усгройсгвд обработки вычислитель цли устроСтво обмспл) по шипе 21. Адрес прицимястся ця одип из ПИЖПИХ ГС)ГПСТ)ОВ МЯГЯЗипс П ПО 1 СРС ,ОБГСТ ворецпя ззпросов перемещдется вверх. Прц этОм срочпость Зап)Осл Бозрлстлет; зц)ос цс- РСХОДт С П 111 110)я:в 1010 ЗдРОС 1 Д и 111 в срочного зарося и т. д. 11 омсра цриорпгстл Я Зпячит и колпчсство сро 1 пьх и 1 Б;)пПьх 15 ЗЯПРОСОБ,...

Номер патента: 1425734

Опубликовано: 23.09.1988

Авторы: Бузенков, Галай, Куликов

МПК: G06K 9/00

Метки: непостоянной, объектов, распознавания, фоне, цветоконтрастных, яркостью

...либо в системах автоматического контроля,Цель изобретения - повышение точности распознавания и упрощение уст" 10ройства.На чертеже изображена схема устройства.Устройство содержит источник 1одсветки, объектив 2, фотоприемник 153, блок 4 ограничения, амплитуд,инвертор 5 и пороговый элемент 6.Устройство работает следующим образом,При перемещении светового пятна 20о фону на выходе фотоприемника имется импульсный фоновый сигнал, котоый ограничивается пороговым элемен"ом по минимуму и иа выход устройствее поступает При освещении мешающео объекта комка) световым пятноммплитуда фонового сигнала уменьшатся и сигнал также не проходит черезороговый элемент. При попадании под световое йятно растения фоновый сигнал увеличивается, фиксируется...

Номер патента: 902720

Опубликовано: 07.02.1982

Авторы: Веденяпина, Дьячков, Кривошапова, Печенкина, Пронин, Розенблюм

МПК: A61B 3/08

Метки: бинокулярного, близком, зрения, исследования, прибор, расстоянии

...его аметропию, и призмы переменного действия с горизонтальным направлениемлинии вершина - основание, В осветитель вставляют тест. объект со шрифтом, соответствующимостроте зрения 0,7, Для полной характеристикирабочей зоны необходимо измерение границфузиоинон конвергенции (фузионных резервов)при разных состояниях аккомодации исследу.емого, что достигается помещением перед егоглазами "ферических положительных и отрицательных линз. Для практических целей достаточно измерение в трех точках: прн максимальной разгрузке аккомодации (т.е, максимальныхположительных нли минимальных отрицательных.линзах, с которыми возможно чтение пробноготекста), лри естественной нагрузке на аккомодацию. (прн змметропии беэ линз) и при мак.симальной нагрузке на...

Номер патента: 548126

Опубликовано: 30.11.1982

Авторы: Соминский, Цыбин

МПК: H05H 1/00

Метки: диагностики, полей, приборах, электрических, электронных

...отверстием 3, термокатод-поджигатель 4, торцовые катодные экраны 5 35 и 6, печку 7 источника нейтральных частиц, рабочее вецество 8, диафрагмы 9 и 10 источника, сетки 11 и 12 анализирующей системы, коллектор 13 ионов. .40Магнетронный прибор при включенных магнитном поле В и анодном напряжении О запускают током тер.(озмиссии с поджигателя. В установившемся режиме в направлении вдоль магнитного поля пропускают пучок нейтральных частиц, поперечные размеры которого должны быть много меньше расстояния между катодом и анодом. Пучок частиц формируют с помоцью источника, состоящего иэ печки 7 с рабочим вецеством 8 и диафрагм 9 и 10. При нагреве печки создают поток частиц, вылетающих через диафрагму 9.Интенсивностьпотока задают,изменяя...

Номер патента: 1372254

Опубликовано: 07.02.1988

Авторы: Богданов, Ковалев, Марков, Соминский, Ткаченко, Энгелько

МПК: G01R 29/00, H01J 9/42

Метки: диагностики, изоляцией, магнитной, полей, приборах, электрических, электронных

...измерения столкновений ионов где е ,я - статистические веса атомофного и ионного состоянийнейтральных частиц;- плотность потока нейтраль.ных электронов;- работа выхода;Юо - сродство к электрону;1 с - постоянная Больцмана;Т - температура поверхности.участка А ОЭ,В анализаторах для вьщеления малого полезного сигнала используютсявторично-электронные умножители (ВЭУ),регистрирующие непосредственно потокотрицательных ионов, или фотоэлектронные умножители (ФЭУ), регистрирующиепоток фотонов, возникающих на специальном экране под действием ионной бомбардировки. И в ВЭУ и в ФЭУпроисходит усиление сигнала за счетвторично-эмиссионного размноженияэлектронов, поэтому необходимо выделить полезный сигнал на фоне собственных шумов умножителей,...