Способ измерения плоских концевых мер и диаметров шариков методом интерференции
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 78518
Автор: Коломийцев
Текст
И 78518 Класс 42 Ь, 12 СССР СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПЛОСКИХ КОНЦЕВЫХ МЕРИАМЕТРОВ ШАРИКОВ МЕТОДОМ ИНТЕРФЕРЕНЦИИ аявлено 28 ноября 1946 года в Минис и приборостроения заО 748 Опубликовано 28 февраля 1950 ерство машиностроения349912)года Предметом изобретения является способ измерения плоских концевых мер и диаметров шариков, основанный на явлении интерференции. Известны того же назначения способы измерения плоских концевых мер и диаметров шариков методом интерференции, основанные на двукратном отражении от противоположных поверхностей измеряемо го объекта одного из интерферирую щих пучков лучей,В предлагаемом способе измерения плоских концевых мер и диаметров шариков отраженный пучок лучей идет обратно по прежнему направлению, Блатодаря этому один из интерферирующих лучей дважды отр ажа ется от . противоположных поверхностей концевой меры, падая по нормалям к этим поверхностям. Это позволяет применить данный метод для измерения диаметров шариков.На фиг. 1 и 2 изображена оптическая схема интерферометра, ис пользуемого для осуществления способа, в двух вариантах исполнения.Я - лампочка накаливания 1. - конденсорная линза, М - коллиматор Кь Кь Кг и К 4 - кубики с полупрозрачной диагональю, Ж и У 2 - плоские зеркала с наружным алюминированием, Я - измеряемая плитка Иогансона, Р - стеклянная плоскопараллельная пластинка, Р, - клиновый компенсатор, Т в зрительная трубка.Кубик К, разделяет падающий на него параллельный пучок лучей на два пучка. Пучок 1 после отражений от диагоналей четырех кубиков падает в зрительную трубку Т,Пучок 11 проходит через кубик Кь отражается от первой по верхности калибра Р, после чего последовательно отражается от диаго.нали кубика Кот зеркал У 1 и фз, от диагонали кубика Кя и,падает на вторую поверхность калибра Я, от разившись от которой, проходит че.рю;кубик Кя и падает в зрительную трубку. Пучки 1 и П интерферируют между собой, Кубики Кз и К 4 служат для компенсации толщины стекла, проходимого пучком П в кубиках К и К 2, а также и для соответствующего ослабления пучка 1.В окуляр зрительной трубки видна система прямых интерференционных полос, ширину и наклон которых можно регулировать, например, поворотами кубика К 483178518 фог, 1 фиг. 2 р, мКА, И, Киселев Реда Первоначально устанавливают в положение Я эталонный калибр и совмещают пулевую интерференционную полосу с центральной нитью в окуляре, после чего заменяют эталонный калибр измеряемым. Если толщины этих калибров отличаются друг от друга, то интерференционные полосы сместятся в ту или другую сторону. Смещение нулевой полосы измеряют при помощи ввнтовсго окулярного микрометра или, в случае больших смещений, при помощищ компенсатора РИнтерферометр подобного типа может бытьйрименен также для измерения диаметров и эллиптич- ности шариков, что имеет большое значение для миниатюрных 1 йарико подшипников. В этом случае, (фиг. 2) прибор снабжается дополнительными объективами 01 и 02, собирающими падающие на них параллельные пучки лучей в одну точку, с которой совмещен центр измеряемого шарика Я.Телескопические системы 5, и 5 служат для компенсации толщины Отв. редактор М. М. Акиши стекла, проходимого пучком П в объективах О и 02,Установив в положение Я сначала эталонный, а затем измеряемый шарик, измеряют смещенне нулевой интерференционной полосы, Перемещение шарика вдоль оптической оси не вызывает смещения полос, а также мало сказывается и перемещение его перпендикулярно оси. Это позволяет быстро контролировать шарики, укладывая их один за другим в специальное гнездо. Предмет изобретения Способ измерения плоских концевых мер и диаметров шариков методом интерференции, . основанный на двукратном отражении от противоположных поверхностей измеряемого объекта одного из интерферирующих,пучков лучей, от л и ч а ю. щ и й с я тем, что, с целью устранения разности хода, этот интерферирующий пучок направляют по нормалям к отражающим поверхно-. стям.
СмотретьЗаявка
0748, 25.11.1946
Коломийцев Ю. В
МПК / Метки
МПК: G01B 11/08
Метки: диаметров, интерференции, концевых, мер, методом, плоских, шариков
Опубликовано: 01.01.1949
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-78518-sposob-izmereniya-ploskikh-koncevykh-mer-i-diametrov-sharikov-metodom-interferencii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения плоских концевых мер и диаметров шариков методом интерференции</a>
Устройство для измерения диаметра электронного луча
Номер патента: 494854
Опубликовано: 05.12.1975
Авторы: Бабяк, Каневский, Коломацкий, Сказочкин
МПК: H05H 7/00
Метки: диаметра, луча, электронного
...луча, в последовательность из чика импульсов и системы циф ции количества сосчитанных и указанные неыполнения сиследовательно длительности ого диаметру пульсов, счетровой индикампульсов, Пащели в 5 ного н му 1, п моуголь длитель коллект 0 от значИзобретение относится к вым приборам и может бы для измерения диаметра лу лучевых технологических устройствах.Известны устройства для измер ра электронного пучка с высок мощностью в кроссовере, содер му отклонения электронного луч тродный коллектор электронов, о родов которото выполнен в виде ной щели или кромки из тугопла ла, и систему регистрации с эле вым индикатором на выходе. йство работает следующим образом. аемый с нагрузки одного из электро- лектора 3 импульс, возникающий при вании...
Микропроцессорное устройство управления лучом плоской антенной решетки
Номер патента: 1206797
Опубликовано: 23.01.1986
Авторы: Ахтямов, Кутузаки, Мазуров
МПК: G05B 15/02
Метки: антенной, лучом, микропроцессорное, плоской, решетки
...снятия сигнала сбросас входа 15 сброса устройства начинается выполнение первым и вторыммикропроцессорами 16 команд, записанных соответственно в первом ивтором блоках 22, Первая командапрограммы, выполняемой первым микро процессором, обеспечивает запись управляющего слова из микропроцессорав регистр управляющего слова первого блока 21 по шине данных. Управляющее слово определяет работу первого и второго блоков 21 в режиме,при котором информация, поступающаяна первый блок 21 первой входнойшины данных, запоминается в буферном регистре соответствующего канала и сразу же передается на его выходы без стробирования. Для записиуправляющего слова в регистр управляющего слова с пятого выхода первого буферного регистра 17, вкотором хранится...
Устройство для управления лучом плоской антенной решетки
Номер патента: 249061
Опубликовано: 01.01.1969
Авторы: Майоров, Сычева, Хлюпин
МПК: G05B 15/02
Метки: антенной, лучом, плоской, решетки
...суммаделится на четыре, подсчитывается фаза излучения для каждого излучателя, а также включаются нужные фазовращатели (на чертежене показаны).При работе с ЦВМ (фиг. 3) сигналы величин А и В из нее последовательно подаютсяна узел 7 считываемого регистра, Из узла 7каждая из этих величин в виде определенногочисла импульсов подается на соответствующее множительное устройство 4 или 5. Работа остальных узлов аналогична вышеописанному,Предложенное устройство содержит узел 8управления. В состав узла 8 два аналогичныхждущих мультивибратора 9 и 10 (см. фиг. 4)с длительностью импульса т мксек и статический триггер 11 с раздельным входом.На вход узла 8 приходит импульс, которыйзапускает мультивибратор 9, С выхода мультивибратора 9 импульс...
Устройство для управления лучом плоской антенной решетки
Номер патента: 335692
Опубликовано: 01.01.1972
МПК: G05B 15/02
Метки: антенной, лучом, плоской, решетки
...вырабатывает импульсы суммировании, подаваемые в суммирующие счетчики строк и реверсивные счетчики столбцов и выдает команду считывание в реввр-пвные с гт,нки столбцов одновременно с поступлением импульсов суммирования.Узел управления вычислителем содержит генератор импульсов ГИ, три ждущих мульглвибратора б - 8, три статических триггера 9 - 11 с раздельными входами, четырехразрядный счетчик импульсов суммирования, выполненный на статических триггерах 12 - 15, две схемы совпадения 1 б, 17 и три усилителя 18 - 20.Команда пуск, поступающая на вход узла управления вычислителем, запускает усилители сброса 18, 19 и триггер 9 отпирающий при этом схему совпадения 1 б. В результате импульсы ГИ поступают на вход схемы совпадения 17 и на...
Устройство для измерения диаметра электронного луча
Номер патента: 862468
Опубликовано: 15.06.1990
Авторы: Веригин, Комиссаров, Петров, Резниченко, Шавырин
МПК: B23K 15/00
Метки: диаметра, луча, электронного
...тем, что в устройстве для измерения диаметра электронного луча, содержащем чувствительный элемент, привод его перемещения в . плоскости, перпендикулярной оси сим": - метрии луча, и .регистрирующий прибор, вход которого соединен с чувствительразно- котоо иа ель ногс з с х состыкованных ных материалов,д стык и 1 р расположена перпевлению перемещения стви элемента.На чертеже показана принципиальнаясхема устройства. ОбУстройство состоит из чунствит;:.ъного элемента 1 с приводом 2 его перемещения в плоскости, перпендикуляр- ,ф ной оси симметрии луча 3, и регист- ф рирующего прибора 4, вход которого у) соединен с чувствительным элементом 1 Элемент 1 выполнен из двух состыкованных пластин из разнородных материалов, что позволяет...
Предыдущий патент: Электрическое устройство для автоматического контроля и сортировки деталей по их линейным размерам
Следующий патент: Способ производства комбинированных кинематографических съемок
Случайный патент: Способ одновременного считывания информации по n адресам и устройство для его осуществления