Феррозондовый дефектоскоп

Союз Советскими Социалистических Республик(22) Заявлено (21) 2718480/25-28 с присоединением заявки Ио(23) ПриоритетОпубликовано 23,1180, бюллетень Йо 43 Дата опубликования описания 23, 11. 80 6 01 В 27/84 Гоеуяаретвеккиб коийтет СССР яо дави изобретений я открытий(72) Автор изобретения В, И. Франкфурт Минский Филиал Всесоюзного научно-исследовате 4 Ьскогоконструкторско-технологического института подшипниковойпромышленности(71) Заявитель 54) ФЕРРОЭОНДОВЫЙ ДЕФЕКТОСКОП 1Изобретение относится к устройствамнераэрушающего контроля и может бытьиспользовано для оценки структурногосостояния изделий, например деталейподшипников. 5Известен Феррозондовый дефектоскоп, содержащий источник намагничивающего тока для намагничивания объекта контроля, Ферроэондыгенератордля их возбуждения и последовательно 10соединенные усилитель второй гармоники тока возбуждения ферроэонда, детектор, селективный усилитель, настроенный на удвоенную частоту токанамагничивания, и индикаторное устройство 11 .Однако устройство обладает недостаточной чувствительностью иэ-эатого, что дефектоскоп реагирует наамплитуду удвоенной частоты намагни)чивающего тока,Наиболее близким.по техническойсущности. к изобретению является ферроэондовый дефектоскоп, содержащийнамагничнвающий блок для намагничивания изделия, Ферроэонды, высокочас-,тотный генератор для их возбуждения,последовательносоединенные усилитедьвторой гармоники тока возбужденияФеррозондов, детектор, селективный 3 О усилитель высшей гармонической составлюящей намагничивающего тока иамплитудно-Фазовый анализатор 2).Недостатком известного утсройстваявляется низкая точность контроляизделий небольших размеров, например деталей подшипников, Это связано со значительным влиянием мешающих факторов на результаты контроля,Цель изобретения - повышение точности.Цель достигается тем, что дефектоскоп Снабжен выпрямительным 1 преобразователем максимального значения,подключенным к детектору, и детектором отношения амплитуды гармоникик максимальному значению огибающей,входы которого связаны с селективным усилителем высшей гармоническойсоставляющей намагничивающего токаи выпрямительиым преобразователеммаксимального значения, а выходс амплитудно-фаэовым анализатором.На чертеже изображена блок-схемапредлагаемого Феррозондового дефектоскопа.Он содержит намагничивающий блок1 для намагНичивания изделия 2, ферроэонды 3, высокочастотный генера781689 Формула изобретения ВНИИПИ Заказ 8120/47 Тираж 1019 . Подписиое Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная,4 тор 4 для возбуждения ферроэонда ипоследовательно соединенные усилитель 5 второй гармоники тока возбуждения Ферроэонда, детектор б,селективный усилитель 7, настроенный на третью гармонику намагничивающего тока, детектор 8 отношения амплитуды гармоники и максималь ного значения, амплитудно-Фазовыйанализатор 9, а также выпрямительный преобразователь 10 максимального значения, включенный между детекторомб й вторым входомдетектора8 отношений.Работает дефектоскоп следующимобразом.Контролируемое иэделие 2 намагничивается блоком намагничивания 1низкочастотным синусоидальным магнитным полем, Сигнал с выхода ферроэонда 3 поступает через усилитель5 второй гармоники тока возбужденияферрозонда на детектор б. На выходедетектора б выцелвется огибающая модулированного сигнала феррозонда,сбдержащая гармоники, кратные час" "тоте" йамагничивающегооля. Амплитудаи фаза гармоник зависит от свойствобъекта контроля". С выхода детектора б сигнал поступает на селективныйусилитель 7, предназначенный для выделения третьей гармоники, и выпрямительный преобразователь 10, предназначенный для получения сигнала"постоянноготока, пропорциональногомаксимальному значению ЭДС огибающей, Сигналы с выходов усилителя 7и выпрямитегьного преобразователя10 поступают в детектор 8 отношенийи далее на амплитудно-Фазовый ана"лизатор 9,Контролируемый параметр пропорционален отношению амплитуды третьейгармоники поля к максимальному значению поля. Последнее, в свою очередь,йропорционально отношейию"амплитудытретьей гармоники намагниченностик максимальной намагниченности контролируемого изделия. Мешающие факторы (нестабильность положения объекта контроля, колебания его размеров) аналогичным образом влияют как на амплитуду третьей гармоники, так и на максимальное значение поля. В то же время контролируемый фактор (температура закалки) на указанные параметры влияет по-разному. С ростом температуры закалки амплитуда 3-ей гармоники намагниченности увеличивается, а максимальная намагниченность уменьшается (или остается неизменной).В этой связи увеличивается отношение сигнал/помеха, а следовательно и точность контроля. Ферроэондовый дефектоскоп, содержащий намагничивающий блок для на 2 О магничивания иэделия, ферроэонды, высокочастотный генератор для их возбуждения, последовательно соединеннйе усилитель второй гармоники токавозбуждения феррозондов, детектор,селективный усилитель высшей гармонической составляющей намагничивающего тока и амплитудно-фазовый анализатор, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью повышения точности:он снабжен выпрямительным преобразоЗО вателем максимального значения, подключенным к детектору, и детекторомотношения амплитуды гармоники к максимальному значению огибающей, входыкоторого связаны с селективным усилиЗ 5 телем высшей гармонической составляю-.щей намагничиваюшего тока и выпрямительным преобразователем максимального значения, а выход - с амплитуднофазовым анализатором.40 Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Авторское свидетельство СССР9 345428 С 01 0 27/86, 19702, Авторское свидетельство СССР М 515985, 6,01 Ы 27/82, 1976 (прото-ип) .