Электромагнитный дефектоскоп
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 77717
Автор: Трахтенберг
Текст
77717 Класс 42 К 20 оз СССР ЗОБРЕ ВИДЕТЕЛЬ ОРСКОМ МСЕСбЯЪИЯ ИАТЕЙ ЙИ" 1 ЕИЕЧЕСЫ АЯЬИЬЯИО 11 О. В. Трахтенберг ДЕФЕКТОСКО аявлен ЭЛЕКТРОМАГНИТН ентября 1948 года в К при Совете Министро Опубликовано 31 Предметом изобретения является электромагнитный дефектоскоп для определения дефектов в изделии из ферромагнитного материала, по которому протекает постоянный электрический ток и возбуждается постоянный магнитный поток, измеряемый индикатором.В описываемом ниже изобретении, с целью повышения чувствительности прибора, применен в качестве индикатора магнитный усилитель, реагирующий одновременно на распределение тока в изделии и на распределение магнитного потока.На чертеже изображена принципиальная схема электромагнитного дефектоскопа.Над изделием 5, включенным в цепь постоянного тока, перемещается индикатор. Его магнитопровод состоит из двух Р-образных сердечников 1, длинные стороны которых образуют средний составной стержень - он же магнитный щуп.Обмотки переменного тока 2, расположенные на крайних стержнях, включены так, что каждая измерительная обмотка 3 среднего стержня и сигнальная обмотка 4 пронизываются двумя равными и противоположными магнитными потоками.Если в среднем стержне возникает постоянное магнитное поле, то оно в митет по изобретениям и открытияСССР за384546екабря 1949 гола течение каждого полупериода подмагничивает один из сердечников и размагничивает другой. Равновесие переменных магнитных потоков нарушается, и в катушках среднего сердечника наводятся переменные э. д. с. (схема является умножителем частоты в четное число раз).Для того, чтобы через сигнальную обмотку не протекал переменный ток, в нее включают частотный фильтр.Величина э. д. с наведенной в измерительной обмотке, зависит от напряженности постоянного магнитного поля. Последнее возбуждается в сердечнике двояким образом:во-первых, за счет тока, протекающего по сигнальной обмотке, присоединенной к электрическим щупам;во-вторых, за счет внесения магнитного щупа в магнитное поле.Таким образом, получается суммирование обоих сигналов - электрического и магнитного, т. е. падение напряжения и напряженности магнитного поля на проверяемом участке изделия в единое показание измерительного прибора.Суммарное подмагничивание вблизи дефекта за счет увеличения падения напряжения и магнитного рассеяния много больше, чем на здо 55577717 дактор М. М. Акиш едактор В. Н. Чисгов ровом участке; наличие дефекта выявляется по возросшему показанию измерительного прибора.При необходимости можно осуществить различную чувствительность к обоего рода сигналам, чувствительность к полярности сигнала и т, д,Индикатор, являясь своеобразным магнитным усилителем, осуществляет не только. суммирование сигналов, но и их увеличение, вследствие чего предлагаемый дефектоскоп обладает весьма высокой чувствительностью.Приведенная схема умножения частоты не является обязательной для магнитного усилителя, используемого в качестве индикатора, и может иметь ряд вариантов. Так же может меняться и схема всего дефектоскопа в целом, - например, он может работать и на переменном токе, для чего достаточно предусмотреть вторую сигнальную обмотку. При этом обе сигнальные обмотки питаются через выпрямители; одна попрежнему от электрических щупов, а вторая от индукционной катушки, заменяющей в этом случае магнитный щуп.Описанный дефектоскоп разрешает прием только одного сигнала - электрического или магнитного, т, е. может работать по любой из известных схем электромагнитных дефектоскопов (токовый дефектоскоп, магнитный и т. п.). Предмет изобретения Электромагнитный дефектоскоп для определения дефектов в изделии из ферромагнитного материала, по которому протекает постоянный электрический ток и возбуждается постоянный магнитный поток, измеряемый индикаторами, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения чувствительности прибора, в нем в качестве индикатора применен магнитный усилитель, реагирующий одновременно на распределение тока в изделии и на распределение магнитного потока.
СмотретьЗаявка
384546, 23.09.1948
Трахтенберг М. В
МПК / Метки
МПК: G01N 27/83, H03F 9/00
Метки: дефектоскоп, электромагнитный
Опубликовано: 01.01.1949
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-77717-ehlektromagnitnyjj-defektoskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Электромагнитный дефектоскоп</a>
Способ автоматической компенсации действия в заданной точке магнитного поля источника с постоянным распределением вектора относительной объемной намагниченности
Номер патента: 124527
Опубликовано: 01.01.1959
Автор: Михлин
МПК: G01R 33/02
Метки: автоматической, вектора, действия, заданной, источника, компенсации, магнитного, намагниченности, объемной, относительной, поля, постоянным, распределением, точке
...девять сигналов, определяющих составляющие поля помех в трех точках, где расположены эти зонды. Указанные сигналы подаются в специальный счетнорешающий узел, который автоматически обеспечивает требуемую компенсацию. В том случае, если направление оси одного из чувствительных зондов, располагаемых между источником и заданной точкой, совпадает с направлением поля в какой-либо точке источника, можно применить только один чувствительный зонд, выходной параметр которого используется для формирования только трех сигналов, которые и обеспечивают компенсацию действия магнитного поля источника в заданной точке.124527 Предмет изобретения Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Редактор Н, С. Кутафина Гр,...
Способ измерения распределения постоянного магнитного поля в ямр-томографе
Номер патента: 1712845
Опубликовано: 15.02.1992
Авторы: Лукьянович, Савицкий
МПК: G01N 24/08
Метки: магнитного, поля, постоянного, распределения, ямр-томографе
...вдоль оси У (фиг, 4) в течение времени Ту и импульсом градиента вдоль оси Х (фиг. 5) в течение времени 1 х. После этого воздействуют ВЧ магнитным импульсом, поворачивающим ядерные магнитные спины на 180 О, и затем изменяют амплитуду градиента вдоль оси Х (фиг. 4).Дискретные значения амплитуды сигнала эха регистрируют в запоминающем устройстве. При этом в момент времени,соответствующий максимуму эха, изменяетамплитуду градиента вдоль оси Х и частотудискретизации ва раз Е,(Х, Ууса/где Е - частотная производная неоднородности магнитного поля по координате х;10 1 - полоса пропускания канала регистрации данных;у- гиромагнитное отношение ядер образца;а - линейные. размеры исследуемой об 15 ласти образца.Нижняя граница для а определяется...
Водная магнитная паста для магнитной порошковой дефектоскопии изделий
Номер патента: 178557
Опубликовано: 01.01.1966
МПК: G01N 27/84
Метки: водная, дефектоскопии, магнитная, магнитной, паста, порошковой
...А, В, Жигадло, И. И. Кифер явитель НАЯ МАГНИТНАЯ ПАСТА ДЛЯ МАГНИТНОЙ ПОРОШКОВОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ИЗДЕЛИЙ ет изооретени 5 х хаг 1 титных пасдефектоскопии изый магнитный посмачивающие нз итной ио- содерждщелоч;и пчаюи(ая- СТВИТЕЛ ЬСОСТД В,1 Е 1 ИТНД 51 П 11 СТ 11 ектоскопнимдпштныйизделия ВещЦЕЛЬЮ НОВЫ ению дефект ДЛ 51 М 11 Г Ииэделий,порошок,ествд, отлВЕНи ЧУО 11, и;СТД повышения чувст ефектов составле к ферромдгнитиыи порошокбихромат калияКтЛЬЦИНИРОВДНН 1 Я 11,И ИН 15 од 16 16нд 9 16 6 суси ензи и, 15описываенце и смачиватель Известны составы водныдля магнитной порошковойделий, содержащие железнрошок, раствор, щелочи иделия вещества.Предлагаемая паста длявительности к выявлению дна из смеси (в %):ферромагнитный порошбихромат...
Счетный прибор для расчета распределения амплитуд напряжения (тока) вдоль линии с распределенными постоянными
Номер патента: 112259
Опубликовано: 01.01.1958
МПК: G06G 1/08
Метки: амплитуд, вдоль, линии, постоянными, прибор, распределения, распределенными, расчета, счетный
...подвижного диска 1, двух подвижных линеек 2 и 3, шарнирно связанных с подвижным диском 1, и внешнего неподвижного кольца 4. Кроме того, линейки 2 и 3 связаны между собой визиром 5, который при расчетах закрепляется на линейке 3 и может скользить в прорези линейки 2, Внутренний диск 1 может вращаться вокруг оси, расположенной в его центре.На внутреннем диске нанесена шкала аргумента коэффициента отра жения , (с пределами от 0 до 180); на линейке 2 - шкала искомой аплитуды (в относительных единицах от 0 до 2); на линейке 3 - шкала коэффициента отражения К (от 0 до 1) и на внешнем кольце 4 - шкала расстояний - . - (от 0 до 0,5)/,Расстояние между точками шарнирного закрепления линеек 2 и 3 принято за единицу и соответствует амплитуде...
Магнитный способ дефектоскопии стальных деталей
Номер патента: 271861
Опубликовано: 01.01.1970
Автор: Дорощков
МПК: G01N 27/84
Метки: дефектоскопии, магнитный, стальных
...картину мет изобрете 0 Магнитный сп деталей, заклю деталей, покрыт личасоисийся тем фовочных приж 5 до 120 лск толщ водят в магнит 1 б 00 в 18 а витфектоскопии стальных ся в намагничивании итной суспензией, отелью выявления шлихромовым покрытием амагничивание произоле напряженностью особ де чающий ых маги что, с ц огов под иной, н ном п ков(слс,Известны магнитные способы дефектоскопии стальных деталей, заключаюц;неся в намагничивании деталей, покрытых магнитной суспензией, с последующим визуальным контролем шлифовочных прижогов.Для выявления шлифовочных прижогов под хромовым покрытием толщиной до 120 мк предлагается намагничивание контролируемой стальной детали производить в магнитном поле напряженностью 1600 - 1800 а...
Предыдущий патент: Устройство для испытания ползучести материалов при высоких температурах
Следующий патент: Способ я устройство для измерения давления в шнековых прессах
Случайный патент: Цепной роликовый конвейер