Устройство для измерения деформаций

Номер патента: 718696

Авторы: Жабко, Ровков, Трощенко, Хамаза

ZIP архив

Текст

(11718696 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУСоюз Советских Социалистических Республик(45) Дата опубликования описания 28.02.8 1) М. Кл 01 В 7/ Государственный комите СССР. А. Хамаза, В. А, Ровков и Н, И, Жаб ститут проблем прочности АН Украинской ССР 71) Заявител ЕФОРМАЦИй(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕ Изобретение относится к измерительной технике.Известны устройства для измерения деформаций на малых базах, представляющие собой различные типы тензорезисторов, приклеиваемых на поверхность измеряемого объекта и преобразующйх деформацию в изменение электрического сигнала 1,Недостатком этих устройств является ограниченность измерений до 0,3%.Большие значения деформаций выводят устройства из строя.Наиболее близким по технической сущности к изобретению является устройство для измерения деформаций, содержащее опоры, размещенный на них корпус в виде замкнутой рамки, чувствительный элемент, связанный тремя стержнями с опорами 21.Недостатком известного устройства является то, что оно имеет низкую чувствительность и большую нагрузку на опоры. Это обусловлено тем, что концы опор связаны между собой дополнительными звеньями, которые увеличивают жесткость чувствительного элемента и снижают его чувствительность.Целью изобретения является повышение точности измерений.(72) Авторы изобретения В, Т. Трощ Это достигается тем, что в качестве чувствительного элемента использована одна из сторон рамки, соединенная стержнем с одной из опор, которая расположена внутри нее.На фиг. 1 показано предлагаемое устройство, вид сбоку; на фиг. 2 - то же, вид сверху.Устройство содержит опоры 1 и 2, корпус 3 в виде замкнутой рамки, одна из сторон которой является чувствительным элементом 4 и соединяется стержнем 5 с одной из опор 2, которая расположена внутри рамки. Чувствительный элемент оснащен тензорезистором 6.Работает устройство следующим образом,Перед измерением устройство устанавливают на измеряемый объект 7 с помощью опор 1 и 2 с таким расчетом, чтобы чувствительный элемент 4 был расположен перпендикулярно направлению предполагаемой деформации.Опоры соединяют с поверхностью объекта 7 с помощью клея, сварки или другим способом.При изменении расстояния между опорами 1 и 2 в результате деформации контролируемой поверхности происходит прогиб718696 Формула изобретения Риг.2 Составитель В, Пискарев Техред В, Серякова Корректор В, Петрова Редактор Е. Дайч Заказ 131/9 Изд.180 Тираж 810 ПодписноеНПО Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 чувствительного элемента 4, величина которого пропорциональна деформации и фиксируется тензорезистором 6. Благодаря малому весу и небольшой жесткости повышается запас прочности и чувствительность устройства. Запас прочности устройства позволяет повысить его чувствительность и довести коэффициент тензопередачи до значения, меньшего единицы. Устройство для измерения деформаций, содержащее опоры, размещенный на них корпус в виде замкнутой рамки, чувствительный элемент и стержень, о т л и ч а ющ е е с я тем, что, с целью повышения точ.ности измерений, в качестве чувствительного элемента использована одна из сторон5 рамки, соединенная стержнем с одной изопор, которая расположена внутри нее.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Анкудинов Д. Т. и Мамаев К, Н, Ма 10 лобазные тензодатчики сопротивления, ММашиностроение, 1968, с. 11 - 29.2, Горлин С. М. и Слезингер И. И. Аэромеханические измерения. М., Машиностроение, 1964, с. 490 - 491, фиг. 6,66 б15 (прототип),

Смотреть

Заявка

2648145, 26.07.1978

ИНСТИТУТ ПРОБЛЕМ ПРОЧНОСТИ

ТРОЩЕНКО ВАЛЕРИЙ ТРОФИМОВИЧ, ХАМАЗА ЛЕОНИД АНДРЕЕВИЧ, РОВКОВ ВИКТОР АЛЕКСАНДРОВИЧ, ЖАБКО НИКОЛАЙ ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 7/16

Метки: деформаций

Опубликовано: 29.02.1980

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-718696-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-deformacijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения деформаций</a>

Похожие патенты