Устройство для тепловых испытаний микросхем

ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскмхСоциалнстическикРеспублик рщ 711553(51)М. Кл.2 с присоединением заявки М С 05 Р 23/30 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий(088,8) Опубликовано 25.01.80 Бюллетень Йо 3 Дата опубликования описания 280180(71) Заявитель 54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ТЕПЛОВЫХ ИСПЫТАНИЙ МИКРОСХЕМИзобретение относится к испытатель ному об оруд ова нию, и редна знач енному для испытаний иэделий электронной техники, в частности, интегральных микросхем на теплоустойчивость,и обеспечивает возможность измерения статических и динамических параметров испытуемых изделий при заданном температурнсм режиме, а также по дачу на них испытательных электрических нагрузок .Известно устройство для тепловыхиспытаний, в которых объекты испытаний размещены в держателях, обеспечивающих электрическую связь выводовизделия с контактами разъемов, расположенных на наружных поверхностяхустройства 1,Существенным недостатком такогоустройства является значительнаядлина проводников, соединяющих выводы объекта испытаний с наружнымиразъемами установки.Наиболее близким по техническомук предлагаемсиу устройству решениюявляется устройство для тепловых испытаний микросхем, содержащее тепло"изолирующие корпус и крышку с размещенными в них датчиками температурыи нагревателями, связанными с объектом испытаний, электрические выводы которых подключены к токосъемникам, связанным с переходной колодкой измерителя 2 .Недостатком данного устройства является то, что провода, идущие от токосъемников, соединенных с выводами объектов испытаний, к переходной колодке измерителя, увеличивают электрическую емкость и индуктивность при измерении динамических параметров объектов испытаний, понижая достоверность результатов испытаний,.Целью изобретения является повышение точности устройства для тепловых испытаний микросхем.Для этого в устройстве для тепловых испытаний микросхем, содержащем теплоиэолирующие корпус и крышку с размещенными в них датчиками температуры и нагревателями, связанными с объектом испытаний, электрические выводы которого подключены к токосъемникам, связанным с переходной колодкой измерителя, токосъемники выполнены в виде расположенной в теплоизолирующей крышке П-образной пружины с двумя упругими контактами, один иэ которых подключен к переходной колодке измерителя.711 553 Формула изобретения Составитель Б. Козлов ктор О. Стенина Техред О. Андрейко Корректор МПоТираж 956 ЦНИИПИ Государспо делам из 3 5, Моск ва, ЖЗаказ 9010/35 Подписн ного комитета С тений и открыти аушская наб доеССР б Патент 1, г, Ужгород, ул, Проектная, 4 Филиал П На чертеже изображено устройстводля тепловых испытаний микросхем,общий вид,Устройство для тепловых испытаниймикросхем содержит теплоизолирующиекорпус 1 и крышку 2 с размещеннымив них датчиками 3 температуры и нагревателями 4,связанными с объектом 5испытаний, электрические выводы бкоторых подключены к токосъемникам 7,связанным с переходной колодкой 8 измерителя 9, при этом токосъемники 7выполнены в виде расположенной в теплоизолирующей крышке 2 П-образнойпружины 10 с двумя упругими контактами 11.Устройство для тепловых испытаниймикросхем работает слеДующим образом,При откинутой.теплоизолирующей крышке 2 объект 5 испытаний укладываетсясвоими электрическими выводами б впазы платы, зажимается между двумя 20нагревателями 4, один из которых под- .пружиненный, при этом электрическиевыводы б ее касаются верхних упругихконтактов 11, а объект 5 испытанийзаключен в малом объеме, образованном теплоизолирующей крышкой 2 и теплоизолирующим корпусом 1, П.ри этомверхние концы контактов 11 упругоприжимаются к элек трич еск им выводам6 объекта испытаний, а ниже - к пере- ЗОходной колодке 8, При подключенииустройства к внешнему регулятору тем-.пературы в объекте 5 испытаний поддерживается заданный температурныйрежим.35С помощью переходной колодки 8устройство может быть соединено с измерителем статических и динамическихпараметров, что позволяет проводить измерение параметров при различныхтемпературных режимах, При этом электрическая связь элеютрический выводобъекта испытаний - измеритель оказывается наикратчайшей, уменьшаютсяее емкостное и индуктивное сопротив -ления (ввиду отсутствия проводов иразъема), что дает возможность обеспечить получение более точной информации об испытуемом изделии на этапах его разработки, периодических испытаниях, а также при входном контроле,Устройство для тепловых испытаний микросхем, содержащее теплоизолирующие корпус и крышку с размещенными в них датчиками температуры и нагревателями, связанными с объектом испытаний, электрические выводы которых подключены к токосъемникам, связанным с переходной колодкой измерителя, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности устройства, токосъемники выполнены в виде расположенной в теплоизолирующей крышке Б-образной пружины с двумя упругими контактами, один из которых подключен к переходной колодке измерителя. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе1, Авторское свидетельство СССР 9 468228, кл. С 05 Р 23/30, 1975,2, Авторское свидетельство СССР Р 575947, кл. 6 05 Р 23/30, 1975 (прототип).52 б