Способ оценки нестабильности характеристик тензорезисторов

Союз Советских Социалистических РЕспублик(22) Заявлено 2 1.03.78(21)2594489/25-28с присоединением заявки Нов(2 Э Приоритет осев мнтет рственвый к СССР елам нзобре н открытий(71) Заявитель 4) СПОСОБ ОЦЕНКИ НЕСТАБИЛЬНОСТИ ХАРАКТЕРИСТИК ТЕНЗОРЕЗИСТОРОБ 2 иэ ере- рези ензо нестабильторов, резисезис ензо гий лещают зист ры сли п елич ине ильность 20 25 Научно-исследовательсиспытательных мамин,Изобретение относится к нию механических всличи т торными преобразователями.Известен способ оценки ности характеристик тензар заключаюийся в том, что т торы устанавливают а упру мент, нагружают его и поме термокамеру, затем тензоре подключают к еременому и таянаму напряжению и по в напряжения оценивают неста 1 . Но такой способ отличается длител; ностью и невысокой тачостью оценки нестабил насти характеристик тенэореэисторов и вбальщого времени установки теплового режима из - мерений и невысокой точности стабилизации температуры.Известен способ оценки нестабильности характеристик тенэорезисторов, :;аклк .яющийся в том, что тензорезисторы устанавливают на упругий элемент, который нагревают путем пропускания через него электрического тска, н,гружают его, затем тенэорезистары подклнчают к переменно-му напряжению питания и по величине и конструкторский институт боров и средств измерения маснапряжения оценивают их нестабильность 2.Однако для опенки нестабильнссти характеристик тензорезисторов из-за необходимости испытания тензарезисторов при двух различных температурах, требется значительнй промежуток времени,Цель изобретения - сокращение времени оценки нестабильности характеристик тенэореэисторов.Указанная цель достигается эа счет того, что величину напряжения питания устанавливают в зависимости от заданной температуры нагрева тензорезисторов, измеряют нелинейные искажения напряжения на выходе и входе тензорезисторов, по разности которых определяют величину нестабильности их характеристик.Сущность спас:оба заключается в том, что при питании тензорезисторов переменным апряжеием питаия с изменением мгновенной амплитуды напряжения меняется мгновенная мощность и количество тепла выделяемого тенэорезистором, а значит, и его температура. Из-эа незначительной массы тензореэистора его температура будет пропорциоальна выделяемой684294 Формула изобретения 20 Редаткор Б.ЕвстратовРедактор С.Головенко Техред С,Мигай Корректор В,сутяга Заказ 5267/29 Тираж 866 Полписнс 1 е ЦНИИПИ Государственного комитета ССГ по делам иэобретсний и аккре.;1 ии 113035, Москва, Ж, Рау к.кая нас .,; 4,:Филиал ППП ф Патент , г, уж о; с,г, ;11;.,мощности. Тенэорезисторы подбирают с одинаковыми сопротивлениями (с малым разбросом сопротивлений), наклеивают на упругий элемент и включают в мостовую схему. В результате температуры нагрева тензорезисторов оказываются равными, с высокой точ ностью и изменяются синхронно с удвоенной частотой. При наличии разницы в температурных коэффициентах тензореэисторов на выходе мостовой схемы появляется вторая гармоника 10 питающего синусоидального напряжения. Так как температурный коэффициент сопротивления тензорезисторов является нелинейной величиной, то, кроме второй гармоники, в выходном сигнале будут присутствовать и другие высшие гармоники синусоидального напряжения. Для того, чтобы форма напряжения питания не влияла на точночть оценки нестабильности характеристик тенэореэисторов, величину нелинейных искажений напряжения питания вычитают иэ величины нелинейных искажений на выходе тенэорезисторов.Процесс измерения нестабильности характеристик тензорезисторов по предла гаемому способу э а н има ет н есколько минут. Способ оценки нестабильности характеристик тензорезисторов, заключающийся в том, что текзорезисторы устанавливают на упругий элемент, нагружают его, затем тензорезисторы подключают к переменному напряжению питания и по величине напряжения оценивают их нестабильность, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью сокращения времени оценки, величину напряжения питания устанавливают в зависимос -и от заданной температуры нагрева тензореэисторов, измеряют нелинейные искажения напряжения на выходе и входе тенэореэисторов, по разности которых определяют величину нестабильности их характеристик.Источники информации, принятые во внимание при экспертизе1. Испытательные приборы и стенды. М 3, 1974, с, 23-31.2. Исследование температурных напряжений. М., Наука, 1972, с. 133-140.