Способ оценки качества маскировки объекта

Номер патента: 67829

Автор: Болдырев

ZIP архив

Текст

СПОСОБ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА МАСКИРОВКИ ОБЪЕКТА Заявлено 24 мая 1945 года в НКВ.ЧФ за 0 о 7262 (339515) Опубликовано 28 февраля 1947 годаПредмет изобретения Способ оценки качества маскировки объекта, отличающийся тем, что об указанном качестве су. дят по величине предельной дальности видения объекта, определяемой, например, при помощи панкратиче ской зрительной системы, обладающей увеличением, меньшим единицы. 491 Предметом изобретения является способ оценки качества маскировки объекта по величине предельной дальности видения объекта, Для определения последней может быть применена панкратическая зрительная система, обладающая увеличением, меньшим единицы, и имеющая соответствующую отсчетную шкалу.Примерная форма выполнения панкратической зрительной системы, выполненной в виде бинокля, представлена на фиг. 1 и 2: на фиг. 1 дан общий вид; на фиг, 2 - продольный разрез трубки бинокля.Бинокль представляет собой телескопическую систему. Последняя состоит из объектива 1 и оборачивающей изображение системы, состоящей из двух линз 2 и 3 и окуляра 4, Линзы 2 и 3 оборачивающей си. стемы имеют возможность аксиально перемещатьсяпричем каждому их положению соответствует опреде ленное увеличение, большее или меньшее единицы, оптической системы бинокля.Линзы могут перемещаться плавно при помощи многозаходного винта, вращаемого за головку б,Для того, чтобы можно было определять увеличение бинокля по положению в нем линз 2 и 3, его снабжают соответствующими шкалами.Панкратический бинокль предназначен для оценки качества маскировки объектов путем рассматривания их при заданном увеличении,Если объект рассматривается на расстоянии Д, а увеличение, даваемое оптической системой, обозначить через Г, то объект рассматривается на эффективной дистанции,Д 1 ГД.Таким образом, при наблюдении из одной точки (при одном и том же расстоянии Д) можно оценить впечатление, создаваемое маскировкой на различных расстояних, что достигается изменением увеличения Г путем соответствующего изменения положения в бинокле линз 2 и 3.

Смотреть

Заявка

7232, 24.05.1945

Болдырев Н. Г

МПК / Метки

МПК: F41H 3/00

Метки: качества, маскировки, объекта, оценки

Опубликовано: 01.01.1947

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-67829-sposob-ocenki-kachestva-maskirovki-obekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ оценки качества маскировки объекта</a>

Похожие патенты