Способ контроля динамики поликонденсации диэлектрических материалов

,.соаРь я Союз СоеетсеаСоциалист ицвсааРеспублик и 667943 К АВТОРСКОМУ СВИДВТВЛЬСТВУ(э) Приоритет Гкударетееваб кветет СССР в Лакан кмбратаей в вткфыткй(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ДИНАМИКИ ПОЛИКОНДЕН ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ Изобретение относится к области неразрушающих методов контроля и может быть приме нено при контроле степени поликонденсации в технологических процессах производства диэлек. трических материалов.Известны способы контроля поликонденсациидиэлектриков, заключающиеся в контроле электрических параметров в процессе отверждения диэлектрика, В качестве контрольного датчика может быть использован, например, емкостной датчик,.погруженный в диэлектрик до его нол ного отверждения 1),Недостатком этих способов является необходимость внесения в диэлектрик элементов кон. тролирующей системы.Ближайшим техническим решением к предлагаемому изобретению является способ контроля динамики ноликонденсации диэлектрических ма. териалов, заключающийся в измерении уровня сигнала с датчика оптического излучения разряда в контрольной разрядной оптической обклад. 2 В ке в токах высокой частоты 2.Регистрацию сигнала производят как визуаль. но, исследуя картину, адекватно отражающую структуру диэлектрика, так и с помощью любойрегистрирующей аппаратуры,Однако этот способ не позволяет осуществлятьконроль технологического процесса нри осу.ществлении динамики поликонденсации и пропигки связующими элементами диэлектрическихматериалов.Целью изобретения является обеспечение возможности определения момента достижения тре.буемой степени иоликонденсации.Это достигается тем, что по предлагаемомуспособу сигнал с датчика, снимаемый в процес.се проведения поликонденсации, сравнивают сэталонным сигналом, вырабатываемым датчикомв дополнительной разрядной оптической обкладке, установленной на эталонном образце,На чертеже изображено устройство для рекли.эации описываемого способа,Устройство содержит матрицу 1, пуансон 2,между которыми помещено полнмеризирующе.еся изделие 3. Контролирующая разрядная оптическая обкладка 4 устанавливается при помо.щн втулки 5, запресованной в матрицу 1. В об.кладке 4 имеются прозрачный электрод 6 инт",роектная 3датчик 7 оптического излучения, Выход датчика 7 подключен к блоку 8 сравнения, к кото.рому подключен и датчик, установленный в дополнительной разрядной обкладке 9, установленной на эталонном образце 10, закрепленном наэлектроде 11, Обе обкладки 4 и 9 запитаныот одного генератора 12 тока высокой часто.ты,Способ осуществляется следующим образом.При подаче напряжения от высокочастотного,генератора 12 на пуансон 2, который при этомслужит одним из электродов обкладки 4, ипрозрачный электрод 6 в разрядном промежут.ке, величина которого может быть установленаповоротом обкладки 4 ло резьбе втулки 5, воз.никает свечение, которое регистрируется датчн.ком 7 оптического излучения, сигнал от кото.рого поступает в блок 8 сравнения, В это жевремя разрядно-оптическая обкладка 9, установленная на эталонный образец 10, представляющий собой вырезку из уже готового изделия иматериала (той же толщины, химического состава и степени поликонденсации), который ие.обходимо получить в процессе формированияпоследнего, и электрод 11, помещенный в туже вакуумную термопечь, что и контролируемоеизделие 3, подключены также к блоку 8 сравнения,Так как вся эта система разрядно оптическихобкладок подключена к одному генератору 12,то, сравнивая сигналы с датчика 7 оптическогоизлучения и обкладки 9, можно судить о степени поликонденсации контролируемого изде.лия 3. При достижении изделием 3 степени поликонденсации эталонного образца 10 блок 8 сравнения выдает сигнал на прекращение процес.са формования иэделия.Таким образом по предлагаемому способуможно контролировать степень поликонденсацииизделий непосредственно в процессе их формования, не прибегая при этом к контрольномувскрытию форм, которое применяется в настоящее время, и наблюдать динамику процесса про.питки иэделия связующим, а также произво.10 дить количественную его оценку по изменениюкартины свечения в разрядно оптической обкладке, которую можно наблюдать визуально илипри помощи фоторегистрирующих устройств. Формула изобретения 15 .Способ контроля динамики поликонденсации диэлектрических материалов, заключающийся в измерении уровня сигнала с датчика оптическо. го излучения разряда при помощи контрольнойо разрядной оптической обкладки в токах высо. кой частоты, отличающийся тем, что, с целью определения момента достижения требуемой степени поликонденсации, сигнал с датчика, снимаемый в процессе проведения по. эч ликонденсации, сравнивают,с эталонным сигна. лом, вырабатываемым датчиком в дополнитель. ной разрядной оптической обкладке, установленной на эталонном образце,Источники информации, принятые во внима. ние при экспертизе1. Любушин О. С. "Автоматизация производства стеклопластиков"ф,Химияфф, М., 1969. с, 176-177.2. Кнрлиан В, Х Кирлиан С. Д. "В,Мире чудесных разрядов". Знание", М., 1964, с. 32. Я