Устройство для исследования процессов шлифования
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Сфюэ СеветскнкСоцнвлнстнческниРеспублнк оо 666469(51)М. Кл.2 6 01 Ы 3/58 Государственный комитет СССР ио делам изобретений и открытий.154(088.8) Дата опубликования описания 050679(54) УСТРОЙСТВО дЛЯ исслеДОВАНИЯ ПРОЦЕССОВ ШЛИФОВАНИЯУс ройство состоит из основания 1, перемещающейся по шариковым направ-, ляющим 2 платформы 3 и по направляющим 4 платформы 5, которые могут поворачиваться вокруг оси 6 на 90 относительно платформы 3 и закрепляться в этом положении винтами 7, На платформе 5 закреплен шпиндельный узел 8, получающий вращение через ременную передачу 9 от электродвигателя, На планшайбе 10 крепится с помощью клеющей мастики шлифуемый образец 11. Основание закрепляется на станке посредством прихвата 12. Прижим образца 11 к шлифовальному кругу 13 осуществляется грузами 14 через трос 15 и систему блоков 16 18. Рукоятка 19 служит для перемещения платформы 3 относительно круга 13. Индикатор 20 регистрирует перемещение платформ 3 и 5 в результате сошлифования образца. Изобретение относится к исследованиям изнашивания материалов в процессе шпифования,Известно устройство для исследования работающих торцом алмазных кругов,5состоящее из платформы, прижимаемойгрузом к кругу, шпиндельного узла,сообщающего вращение образцУ (1)Известно устройство для исследования процессов шлифования, включающее основание, платформу, установленную на основании с возможностьювозвратно-поступательного перемещения,шпиндельный узел со средствами длякрепления образца (2), 15Данное устройство является наиболее близким по технической сущностик достигаемому эффекту.Недостатком известных устройствявляется невозможность исследованияпроцессов изнашивания при работе кругов как торцом, так и периферией.Цель изобретения - расширение технологических возможностей устройствапри исследовании шлифования на станке,Указанная цель достигается тем,что устройство снабжено второй платформой, установленной на первой свозможностью поворота на 90 о относительно нее, а йпиидельный узел закреплен на второй платформе.На Фиг.1 приведено устройство для исследования процессов шлифования торцом круга; на Фиг.2 - устройство в положении для шлифования периферией круга.666469 устройство работает следующимобразом. 1 О 15 Составитель В.Даниловедактор А,Мурадян Техред М. Келемеш Корректор А. Грицен по делам изобретений и открытий5, Москва, Ж, Раушская наб., д,4 Заказ 3174/35 Тираж 1089 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР лиал ППП Патент, г.Ужгород, ул. Проектна При исследовании процесса шлифования торцом круга образец 11 прижимается к торцу круга 13 с помощью грузов 14, которые через. трос 15 и систему блоков 16-18 перемещают платформу 5 по направляющим 4 в направлении к кругу 13. Образец 11 приводится во вращение. Величина сошлифованного слоя регистрируется индикатором 20. Продольная подача образца осуществляется перемещением платформы 3 по направляющим 2 с помощью рукоятки 19. При исследовании процесса шлйфования периферией круга 13 платформа 5 поворачивается вокруг оси 6 на 90о относительно платформы 3 и фиксируется в этом положении винтами 7. Формула изобретенияУстройство для исследования процессов шлифования, включающее основание, платформу, установленную на основании с возможностью возвратно- поступательного перемещения, шпиндельный узел со средствами для крепления образца, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью расширения технологических возможностей устройства при исследовании шлифования на станке, оно снабжено второй платформой, установленной на первой с возможностьюОповорота на 90 относительно нее, а шпиндельный узел закреплен на второй йл ат форме .Источники информации, принятые во внимание при экспертизе1. Синтетические алмазы. Вып.5, 1973, с,47.2 . Патент США 92093650, кл.73-7, 1937.
СмотретьЗаявка
2341963, 30.03.1976
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1172
ШАПИРО МИХАИЛ КОНСТАНТИНОВИЧ, ЛАВИТ МИРИАМ БОРИСОВНА
МПК / Метки
МПК: G01N 3/58
Метки: исследования, процессов, шлифования
Опубликовано: 05.06.1979
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-666469-ustrojjstvo-dlya-issledovaniya-processov-shlifovaniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для исследования процессов шлифования</a>
Предыдущий патент: Устройство для определения накопленных усталостных повреждений конструкций
Следующий патент: Способ исследования образцов материалов
Случайный патент: Устройство для испытания воздухоочистителей