Устройство для измерения пробивного напряжения р-п перехода

Номер патента: 654917

Авторы: Иванов, Погодин

ZIP архив

Текст

ОЙ ИСАН И Е ИЗОБРЕТЕНИЯ и 1165491 У ффЮЗ Соаетскик Сокиалистинеских Республик.10.77 (21) 2529149/18-25 2) Заявлен 1) М, Кл,сб 01 К 31/ рисоединением заявкиПриорит осударственнмй комитат СССРио делам изобретали и открытий(45) Дата опубликования описания 30.03.79 2) Авторы изобретения В. М. Иванов и В. М. Погодин 1) Заявитель(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ р-и-ПЕРЕХО ОБИВНОГО енератора 1 имегулируемой по Устроиство относится к области испытаний полупроводниковых приборов и можетбыть использовано для их отбраковки попробивному напряжению.Известно устройство для измерения пробивного напряжения полупроводников 1,содержащее высокочастотный и низкочастотный генераторы, смеситель, фильтр, фазочувствительное устройство и индикатор,причем момент пробоя регистрируют попрохождению высокочастотной фазовой характеристики р - и-перехода через нуль.Недостатком данного устройства являетсямалая помехоустойчивость.Известно также устройство для измерения пробивного напряжения полупроводников 2, содержащее источник напряжения,короткозамкнутую цепь, компаратор, индикатор и схему задержки, причем при возникновении пробоя испытуемого образца 20для предотвращения его разрушения срабатывает короткозамыкающая цепь, управляемая от компаратора.К недостаткам данного устройства относится то, что испытуемый образец в течение 25некоторого времени, определяемого быстродействием короткозамыкающей цепи, находится в состоянии пробоя,Наиболее близким к изобретению по технической сущности является устройство 31, зо содержащее генератор импульсного напряжения и измерительное устройство, а также стабилитроны, ограничивающие напряжение на испытуемом образце при его пробое, Недостаток устройства состоит в возможности теплового пробоя испытуемого полупроводникового прибора при длительном воздействии испытательного режима. Кроме этого, для испытуемых приборов различных типов необходим разный уровень стабилизации, что вызывает необходимость настройки устройства в процессе его эксплуатации,Цель изобретения - обеспечение неразрушающего контроля пробивного напряжения полупроводниковых приборов.Поставленная цель достигается тем, что в предлагаемое устройство введен конденсатор, подключенный между выходом генератора импульсного напряжения и клеммами для подключения испытуемого элемента.Конденсатор образует с испытуемым образцом дифференцирующую цепь, постоянная времени которой зависит от сопротивления испытуемого полупроводникового прибора.На чертеже приведена схема предлагаемого устройства.Устройство состоит из гпульсного напряжения с р654917 5 где 10 Составитель И. МузановРедактор Т. Рыбалова Техред Н, Строганова Корректор О. Тюрина Заказ 318/13 Изд. ЛЪ 256 Тираж 1089 Подписное НПО Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4(5Типография, пр. Сапунова, 2 известному ф времени закону амплитудой ймпульЪа, конденсатора 2, испытуемого полупроводникового прибора 3, измерителя 4 наряжения и выходных клемм 5 и 6 для подключения испытуемого прибора.Устройство работает следующим образом.Импульсы напряжения от генератора 1 через конденсатор 2 поступают на полупроводниковый прибор 3. Измерение и контроль напряжения на приборе 3 (или тока через него) производится на измерителе 4 напряжения, Амплитуда импульсов генератора постепенно повышается до наступления пробоя испытуемого изделия. При пробое сопротивление полупроводникового прибора резко падает, столь же резко падает и постоянная времени заряда конденсатора 2. Это приводит к укорочению воздействующего импульса и снижению напряжения на приборе 3 или до величины, при которой пробой срывается. Время, в течение которого испытуемый прибор работает в режиме пробоя, зависит от постоянной времени заряда конденсатора 2 при пробое и может быть существенно меньше, чем у аналогичных устройств, использующих схемы сброса испытательного напряжения. Величина емкости выбирается из условия С(10 " - С.,Лт - длительность импульса на выходе генератора;й; С: - соответственно сопротивлениеи емкость испытуемого полупроводникового прибора при напряжении, меньшем пробивного. ф о р мул а изобретенияУстройство для измерения пробивного15 напряжения р - а-перехода, содержащее генератор импульсного напряжения и измерительное устройство, о т л и ч а ю щ е е с ятем, что, с целью обеспечения неразрушающего контроля, в него введен конденсатор,20 подключенный между выходом генератораимпульсного напряжения и клеммами дляподключения испытуемого элемента,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе25 1. Авторское свидетельство СССРМо 421959, кл. 6 01 К 31(26, 30.03.74.2. Авторское свидетельство СССРМо 401940, кл. Ст 01 К 31/26, 14.05.72.3. Авторское свидетельство СССР30 Кю 172374, кл, 6 01 К 31/26, 25,05.63.

Смотреть

Заявка

2529149, 05.10.1977

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1298

ИВАНОВ ВИКТОР МИХАЙЛОВИЧ, ПОГОДИН ВИКТОР МИХАЙЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 31/26

Метки: перехода, пробивного, р-п

Опубликовано: 30.03.1979

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-654917-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-probivnogo-napryazheniya-r-p-perekhoda.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения пробивного напряжения р-п перехода</a>

Похожие патенты