Образец для настройки ультразвукового дефектоскопа
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(6) Дополнительное к авт, свид.ву 8,77 (21) 2517000/25-28 2) Заявлен 1 й 29/04 соединением заявкиГосудерствеииый коцит СССР оо делам изобретеиий и открытий(53) Опубликован 1,79,БюллетеньК 670,179, .1 6(088,8) ата опубликования описания 28,01,7(54) ОБРАЗЕЦ ДЛЯ НАСТРОЙКИ УЛЬТРАЗВУКСВОГО ДЕфЕКТОСКОП е невозможность применения оцног азличных типов во ажат Целью изобретения являетс5 ние технологичности изготовл повышения и униакладнотем самымльтатов аклацно ен я пластилиб контактиажатель,трольполнен в ника каествля Изобретение относится к неразрушаюшему контролю материалов и может быть использовано цля настройки ультразвуковых цефектоскопов.Известны образцы, предназначенные цля настройки ультразвуковых цефекто-. скопов, состоящие из бруска металла или другого материала, в котором изготовлены контрольные отражатели, вычисленные в виде зарубок, сверлений или фрезерований 111 .Недостатком таких образцов является трудоемкость и малая точность в изготовлении контрольных отражателей,Известны также образцы для настройки ультразвукового цефектоскопа, у которых контрольный отражатель контактирует с поверхностью пластины, противоположной месту ввода ультразвуковых колебаний 2 )К недостаткам такого образца следу ет отнести сложность в изготовлении идентичных накладных контрольных отражателей и тем самым невысокую повторяемость результатов настройки при ис пользовании нескольких образцов, а так версальности в использованииго контрольного отражателя иувеличения повторяемости резунастройки.Это цостигается тем, что нконтрольный отражатель выполиде полушара,Образец представляет из сену (брусок) металла или какогдругого материала, с которымрует накладной контрольный отвыполненный в вице полушара,В частном случае накладнойный отражатель может быть вьвице половинки шара от поцшипчения,Настройка цефектоскопа осуется следующим образом,643799 Составитель Н, СтрелковРедактор Л. Народная Техред Е. Гаджега Корректор В, Куприянов Заказ В 013/41 Тираяс 1089Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-ЗБ, Раушская набд. 4/5Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Искатель цефектоскопа устанавливают на образец со стороны, противоположной расположению контрольного отражателя.Искатель дефектоскопа возбужцает ультразвуковые колебания, которыб, распространяясь по пластине, цостигают накладного контрольного отражателя, отражаются от.него и возвращаются на искатель. В етом случае амплитуда отраженных ультразвуковых колеоаний служит параметром, определяющим чувствительность контроля,формула изобретенияОбразец для настройки ультразвукового дефектоскопа, состоящий из пластины и контактирующего с ней контрольногоотражателя, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью увеличения повторяемости результатов настройки, контрольный отражатель выполнен в вице полущара,Источники информации, принятые во,внимание при экспертизе10 1, Гурвич А, К, и Ермолов И, Н,Ультразвуковой контроль сварных ШВОВ,Киев, "Техника", 1972, с. 115. 2. Авторское свидетельство СССР М 1829925, кл, 801 И 29/04, 1975
СмотретьЗаявка
2517000, 22.08.1977
ВСЕСОЮЗНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ПО МОНТАЖНЫМ И СПЕЦИАЛЬНЫМ СТРОИТЕЛЬНЫМ РАБОТАМ
ВЛАСОВ ВАЛЕРИЙ ТИМОФЕЕВИЧ, ГРИГОРЬЕВ ВАДИМ МИХАЙЛОВИЧ, ВОЛКОВ СЕРГЕЙ АЛЬТАИРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектоскопа, настройки, образец, ультразвукового
Опубликовано: 25.01.1979
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-643799-obrazec-dlya-nastrojjki-ultrazvukovogo-defektoskopa.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Образец для настройки ультразвукового дефектоскопа</a>
Предыдущий патент: Импульсный электромагнитноакустический способ контроля изделий
Следующий патент: Иммерсионная ванна для ультразвукового контроля движущихся листов
Случайный патент: Рассекатель импульсной головки для выбивки форм