Электромагнитный дефектоскоп

Номер патента: 632945

Авторы: Добнер, Жуков

ZIP архив

Текст

--,аСКЯ)Фф 41:.а, тф;-:а 1 Ба ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ632945 Союз Советскнз Соцмалкстмческк к Республик(43) Опубликонаио 15.1 Госуднрственный кнмкте Соетн Мкнкет(ттв ССС но ледм к итбретеннй н тткрыткк(45) Лата опубликования описания 20.11,7.Л.Добнер и В,К.Жуков учно-исследовательский институт электронно интроскопии 71) Заявитель(54) ВЛЕКТРОМАГНИТНЫтДВФЕКТОСКОП Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при дефектоскопии протяженных металгических изделий.Известны электромагнитные дефектоскопы для дефектоскопии протяженных металлических изделий 11 .Наиболее близким техническим решением к предлагаемому устройству является электромагнитный дефектоскоп, содержащий два последовательно установленных датчика дефектов, два измерительных канала, первый из которых состоит из формирователя и блока регулируемой задержки, датчик скорости иэ- . делия, связанный с управляющим входом блока регулируемой задержки, логическую схему и индикатор дефектов 21 и 2и 4,ых устройств ты связанная гов по амплитуд еской схеме, информации о повыщение точ что электро- снабжен ключом,ого соединен с ЗО Недостатком известявляется низкая точносс ноомированием сигати длительности н логичтО приводит к ПОТРрРпараметрах дефектов.Цель изобретенияности контроли.Это достигается тетмагнитный дефектоскопуправляющий вход кото 1 выходом первого измерительного канала, сигнальный вход - с выходом нторого измерительного канала, а выходподключен к индикатору дефектов.На чертеже представлена блок-схемапредлагаемого дефектоскопа.Дефектоскоп содержит датчики 1дефектов, измерительные каналы 3первый из которых включает н себяФормирователь 5 и блок 6 регулируемойзадержки; функциональный преобразователь 7, датчик 8 скорости иэделия,ключ 9 и индикатор 10 дефектов.Датчики 1,2 дефектов и латчик 8скорости изделия установлены пое:ледовательно относительно контролируемого иэделия 11,Устройство работает следующим образом.При прохождении дефектного участкаконтролируемого излелия через датчикидефектов сигнал от лефекта появляете:исначала на выходе первого датчика ичерез время(;-д/ч (где д - расстояниемежду датчиками, а т - скор)сть движения изделия) - на выходе второго.В формирователе 5 и блоке 6 регулируемой задержки первого иэмеритт.иьного канала сигнал преобраэовынае гс нв прямоугольный импульс, нормироваи632945 Формула изобретения амоноваК ставитель Е.А хред А.Алатыр алев ректор Н. Кписноетров СССР дактор 1,Мозжечков Тираж 1070венного комитетелам иэобретенисква, ЖРау Зака э 654 5/35ЦНИИПИ Госуд Под Совета Мини и открытий кая наб. д 5 035 илиал ППП Патент, г, Ужгород, ул. Проектна ный по амплитуде и длительности к задержанный на время 1=1Во втором канале 4 сигнал не нормируется;: проходит на сигкальный вход ключа 9, на управляющий вход которого в это время поступает прямоугольный импульс с выхода первого канала. Ключ открывается и пропускает сигнал с выхода второго канала на индикатор дефектов.Блок б и датчик 8 служат для изменения времени задержки при изменении 10 скорости изделия так, чтобы выполнялось условие С1Такое выполнение устройства позволяет повысить точность контроля за счет сохранения информации о парамет рах дефекта. Электромагнитный дефектоскоп, содержащий два последовательно установленных датчика дефектов, два измерительных канала, первый из которыхсостоит из формирователя и блока регулируемой задержки, датчик скорости,связанный с управляющим входом блокарегулируемой задержки, и индикатордефектов, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью повышения точностиконтроля, он снабжен ключом, управляющий вход которого соединен с выходомпервого измерительного канала, сигнальный вход - с выходом второго измерительного.канала, а выход подключен к индикатору дефектов. Источники информации, принятые вовнимание при экспертизе: 1. Авторское свидетельство СССР Р 336588, кл. Й 01 Й 27/86, 1972.2. Авторское свидетельство СССР Р 386330, кл. б 01 М 27/86, 1973.

Смотреть

Заявка

2486470, 10.05.1977

НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОЙ ИНТРОСКОПИИ

ДОБНЕР БОРИС АБРАМОВИЧ, ЖУКОВ ВЛАДИМИР КОНСТАНТИНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 27/86

Метки: дефектоскоп, электромагнитный

Опубликовано: 15.11.1978

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-632945-ehlektromagnitnyjj-defektoskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Электромагнитный дефектоскоп</a>

Похожие патенты