Способ измерения льдистости мерзлых грунтов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз СоветскихСоциалистическихреспублик, сеид.ву) 2454980/29 Э 02 3 1/О присоединением заявкн Я3) ПриоритетГваударствехей еинхтеВавта Мееатрвв СССРв дами азфетаейн еткатхй(45) Ката опубликования описания 28 е 08,7(72) Авторы изобретения нсгнгу еление научно-исследоввгепьсннй и подземных сооружений еверное ос71) аявитель МЕРЗЛЬ 54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛЬДИСТГРУНТОВ особам пых г Изобретение относится к сп распределения пьднс гости мерз рунтов,Известен способ распределения льдис гости мерзлых грунтов в массиве, который заключается в визуальном описании Керна пробуренной скважины 11.Наиболее близким техническим решением является способ измерения пьдисгости мерзлых грунтов путем освещения исследуемой поверхности н измерения стеПени оорнженного оееее (21.Недостатком способов является их низкая точность измерений,Цепью изобретения является повышениеточности измерений.Поставленная цепь достигается тем,что э способе измерения пьдистости мерзлых грунтов путем освещения исследуемойповерхности и измерении степени отраженного света перед освещением исследуемойповерхности, ее предварительно оттаиваюти выравнивают,Изобретение поясняется чертежом, гдепоказан один из вариантов реализации предлагаемого способа, например, дпя измерения пьдисгостн грунтов в скважине.Дпя увеличения зеркальности пьда нснижения вльбедо мерзлых грунтов дозначений, соответствующих талым грунтамперед измерением отражательной способности поверхность 1 скважины 2, пройденной в массиве 3 мерзлых грунтов, подтаивают и вырввниввют поверхность 4 доодинаковой степени шероховатости. Подтвиввние и выравнивание осуществляется,например, нагретым резцом 5, которыйустановлен на корпусе 6 оптической систеМыеОптическая. система. вкпючвег источниксвета 7, оптический приемник отраженного света (например фотоднод) 8, регистрируюшую аппаратуру 9 (напрнмер, автоматический мост с непрерывной записью).20 Источник света 7 и оптический приемник8 располоткен в контейнерах 10, имеющихкоплимнрованные щепи 11, обеспечивающие параппепьность падающего и отраженного светового пуча. "Толщина" шепи оп редепяется миннмапьнымн размерами педя6221ных прослоек, необходимыми дпя регистрации.В связи с тем, что яркость зеркальных поверхностей, к которым относится пед, увепичиваегся по направпению зеркально отраженного пуча, цепесообраэно источник света и оптический приемник расположить под одним и тем же углом аС к исследуемой поверхности 4.Оптическая система оборудована уст щ ройством, обеспечивающим постоянное расстояние от исследуемой поверхности 4. Устройство состоит иэ ножек фиксированной длины 12 с катками 13 и прижима 14 (например, пружины). 5Дпя измерения пьднсгосги в скважине оптическая система с,нагретым резцом 5 опускается в скважину 2 н перемешается в ией по указанному стрепкой направлению с помощью, например, буровой уста новки ипи другого механизма. Скорость перемещения опредепяется инерционностью оптической системы и регистрирующей аппаратуры 9, а также прочиостнымн свойствами и температурой мерзлых груп% тов, вскрытых скважиной. О характере пьднстости в скважине судят по данным,927полученным с помощью регистрирующей аппаратуры 9.Преимушеством предпагаемого способаявпяегся то, что,произведя подготовку поверхности мерзп ого массива, понижается апьбедо мерзпых грунтов, повышается зеркальность льда и это позволяет новы/сить точность измерений непосредственно в скважине Ф ормупа изобретенияСпособ измерения пьдистосги мерзпых грунтов путем освещения исспедуемой поверхности грунта и измерения степени отраженного от нее света, о т п н ч аю щ и й с я тем, что, с цепыоновышення точности измерения, перед освещением исспедуемой поверхности, ее предвари тельно оттаивают и выравнивают.Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:1, Пономарев В. Д. Об учете пьдиотости при расчете осадки оттаивающих грунтов, журнал Основания, фундаменты и механика грунтов, % 5, 1975.2. Авторское свидетельство СССР % 249738, кп, З 01 И 21/48, 1988.
СмотретьЗаявка
2454980, 23.02.1977
СЕВЕРНОЕ ОТДЕЛЕНИЕ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКОГО ИНСТИТУТА ОСНОВАНИЙ И ПОДЗЕМНЫХ СООРУЖЕНИЙ
МИРЕНБУРГ ЮРИЙ СЕМЕНОВИЧ, СОРОКИН ВЛАДИМИР АНДРЕЕВИЧ, ФЕДОСЕЕВ ЮРИЙ ГЕОРГИЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: E02D 1/02
Метки: грунтов, льдистости, мерзлых
Опубликовано: 05.09.1978
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-622927-sposob-izmereniya-ldistosti-merzlykh-gruntov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения льдистости мерзлых грунтов</a>
Станок для печатания на цилиндрических поверхностях, например, цифровых колес счетчиков
Номер патента: 83526
Опубликовано: 01.01.1950
Автор: Рякин
МПК: B41F 17/08
Метки: колес, например, печатания, поверхностях, станок, счетчиков, цилиндрических, цифровых
...втулках, запрессованных в стенках 2 и 3; так же смонтированы и оси валиков 5, 7 и 9, Монтаж остальных осей валиков 6, 8 и 10 отличается тем, что имеется возможность некоторого перекоса в подшипниках. Пружины 17 подтягивают передние концы осей, обеспечивая прижатие смежных роликов друг к другу, Степень прижатия колеса к офсету 13 регулируется винтами 18,83526Назначение валиков - подавать и равномерно распределять краску на офсетный барабан.Валики имеют облицовку из разных материалов: валики 5 и 7 покрыты кожей, валики б и 8 имеют металлическую поверхность, а валики 9 и 10 покрыты резиной. Количество зубьев шестерен подобрано таким образом, чтобы первые пять валиков 5, б, 7, 8 и 9 имели разные окружные скорости по отношению к сменным...
Способ получения отражающих поверхностей, например, в параболических отражателях
Номер патента: 83623
Опубликовано: 01.01.1950
Автор: Козловский
МПК: F21V 7/22
Метки: например, отражателях, отражающих, параболических, поверхностей
...тем, что за 1 Скзние эмз:1 еи П 1)оиско "ит ПРИ Высокои темпсРстУРС, что Осложняст изГОтОВ;1 еиис от 1)зжатс;еи, так кзк требует применения толстоО листОВОО мятсрияля. Извсстнь(с спосооы няпсссиия пленок лякя ПО мяс, 51 нОЙ Гр 1 нтОВКС сВяззны с с)шкой покрь 1 ти)1 также ири высской температуре 300 - 500).Предлагаемый способ получения отрзжаюшик иовсркностей так- ЖЕ ОСИОВЯН На НСПОЛЬЗОВЯИИ ЭМЯЛЕЙ И ЛЯКОВ, Рс 1 СПЫЛЯЕМЫХ ПОСРЕД- ством пульверизатора ня мясляно-ЛЗКОВую ГрунтоВку с последующе сушкОЙ покпыти 51, но Отличается примененис) белы.( немстагЛически., эмалей и лаков, распыление которы.( Ведется при 15 - 20 на масляно-л;ков)О Грунтовку, Вьсуиенн)1 О В песи; при 105" Г тсчсиис 2 сЯс. :-) Г 1 ОТЛИспТСЛЬНая ОСОбеННОСТЬ Прсд,1 а ГЯСМО;...
Прибор для определения коэффициента отражения поверхности диффузного света
Номер патента: 43749
Опубликовано: 31.07.1935
Автор: Вейнберг
МПК: G01N 21/47
Метки: диффузного, коэффициента, отражения, поверхности, прибор, света
...экран 15. Для возможности установки фотоэлемента около него осветители раздвинуты шире.Работа с ром производится следующим обПосле того как лампы включены при открытом отверстии 2, в темной комнате производится установка гальванометра, соединенного с фотоэлементом, на нуль. Далее вынимают экран 75 и закрывают отверстие 2 пластинкой, окрашенной той же краской, что и вся внутренняя поверхность шара, и имеющей ряд мелких отверстий, площадь которых относится к площади всего отверстия 2 как площадь отверстий осветителей относится ко всей поверхности шара 7, Показание гальванометра, со. единенного с фотоэлементом, будет соответствовать коэфициенту отражения исследуемого материала, равному единице, В этом случае нетрудно показать, что...
Способ измерения льдистости мерзлых грунтов
Номер патента: 767275
Опубликовано: 30.09.1980
МПК: E02D 1/02
Метки: грунтов, льдистости, мерзлых
...изображеноустройство для измерения льдистости по скважине, на фиг. 3 - зонд вскважине, вид сверху.Параллельно выровненной поверхности стенки скважины 1 сложенной выходами ледяных прослоев 2, мерзлогогрунта 3 и талого грунта 4, перемещают, например; спомощью лебедки 5посредством троса 6 каротажный зонд,состоящий из корпуса 7 с коллиматорами 8, обеспечивающими падение )- -квантов от источника 9 на поверхностьскважины под тремя заданными углами68, О , сходящимися в одном . 55облучаемом пятне 10 на поверхностистенки скважины. Размеры пятна подбираются в процессе подготовки "зонда в зависимости от минимальной толщины ледяных прослоев, подлежащих из-мерению. В корпусе зонда помещенисточник 9 -квантов, напримеризотоп Ге и регистратор 11...
Способ создания поверхности, обладающей свойствами направленного отражения света, на алюминиевых объектах, в частности, на больших алюминиевых экранах для проекционных телевизионных приемников
Номер патента: 121268
Опубликовано: 01.01.1959
МПК: G03B 21/60
Метки: алюминиевых, больших, направленного, обладающей, объектах, отражения, поверхности, приемников, проекционных, света, свойствами, создания, телевизионных, частности, экранах
...нах для тем, чт большиают абр нием д дающеи своиствами направлен- объектах, в частности на боль. онных телевизионных приемнию обеспечения равномерной ярзрения, поверхность алюминиежидкостью с окисью алюминия атмосфер, полируют ее в течеИзвестные алюминиевые экраны для проекционных телевизионных приемников имеют низкий уровень светотехнических параметров. В Англии фирмой Нера выпускались экраны, удовлетворяюшие тре. бованиям проекционного телевидения, но технология производства их не известна.Предлагаемый способ позволил организовать в СССР массовое производство алюминиевых экранов к отечественным проекционным телевизорам Москва, которые по своим световым параметрам не уступают экранам современных иностранных проекционных...
Предыдущий патент: Судоходный шлюз
Следующий патент: Устройство для замораживания грунта
Случайный патент: 288299