Способ электрохимического шлифования

О А И Е Союз Советских Социалистицеских Республик(51) В вкирисоедииенне Государственный комитетСовета Министров СССРоо делам изобретений(53) УДК 621.9. ,047(088.8 5.08.78, Бюллетень29 вания описания 30.06,78 открытии Д,ата опубли Данильцева, О. М. Панов, И. С, Воробьева и Л, И, Гузенфельд Авторы зобретеи 1) Заявитель(54) СПОСОБ ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКОГО ШЛИФОВАНИЯ экс зор Изобретение относится к электрохимической обработке, и частности к электрохимическому шлифованию (ЭХШ) профильных поверхностей одинарной кривизны профилированным электродом-инструментом. 5Известен способ электрохимического шлифования, при котором деталь устанавливают на горизонтальную базовую плоскость 111, поэтому при обработке сложнопрофильных поверхностей из за неодинакового угла наклона элементов профиля относительно вектора подачи величины межэлектродных зазоров (МЭЗ) разные, что снижает точность обработки деталей и требует дополнительной коррекции профиля электрода на величину МЭЗ,Теоретически трудно определить величину МЭЗ с достаточной точностью, поэтому величину МЭЗ определяют либопериментально либо выравниванием за- роов по профилю с помошью пневматических скребковых устройств.Высокая трудоемкость, длительность экспериментальных работ, а также необходимость применения специального 25 оборудования усложняют процесс электрохимического шлифования.Цель изобретения - упрощение способа,исключение коррекции электрода-инструмента ьа величину МЭЗ при электрохимическом шлифовании поверхностей одинарной кривизны профилированным электродом-инструментом.Пля этого согласно предлагаемомуспособу перед процессом шлифования измеряют угол, определяющий наибольшуюкривизну обрабатываемой поверхности, иразворачивают базовую плоскость приопособления с деталью на половину измеренного угла относительно горизонтальной плоскости,Это дает возможность выравнить величину МЭЗ по всему профилю обрабатываемой детали,11 о чертежу детали 1 определяютуголмаксимальной кривизны ее профиляотносительно горизонтальной поверхности, Деталь 1 закрепляют в приспособлении и разворачивают базовую плоскость3 приспособления вмес,ге с деталью 1Заказ 4181/13 Тираж 1263 ПодписноеЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССРпо делам изобретений и открытий113035 Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 фипиап Г 1 ПП Патент, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 в положение 1 нв поповину замеренного угла /2, Аналогичным образом разворачивают и устройство для правки катодвинструмента 4 из попоженияп в положение 1 П.Гри горизонтальном расположении 1 Ч базовой плоскости детали 1 дпя точки А обрабатываемого прскипя 2 угол равен, например, 50, и дпя точки В - равен 0 , Разница этих углов составляето50 . Деталь с приспособпением рвзво0рачивают нв 25 в попожение 1. При разСвороте базовой ппоскости детали 1 относительно базовой плоскости 3 приспособления уголдпя точки А составит 25 и дпя точки В уголравен такжеОо25 следовательно, разница в значениях углов уменьшается в этом случае до нуля. Ввиду того, что скорость анодного растворения в данной точке зарсит от величины 05то при развороте детали 17вместе с приспособлением на половину разности максимального значения угладпя обрабатываемого профиля 2, величина со 3 3 по всему профилю 2 выравнивается, что влечет равномерность скорости анодного растворения и тем самым величины МЭЗ. Предпагвемый способ позволяет выравнить размеры межэпектродных зазоров, формирующих обрабатываемую поверх-сть, и тем самым исключить необхо димость коррекции катода-инструмента, а также уменьшить глубину припуска, который надо снять для получения требуемого профиля на детали, и увепичить скорость ее перемещения при обработке. формула изобретения Способ эпектрохимического шлифованияя профильных поверхностей одинарной кривизны профипированным электродом- инструментом о т и и ч в ю щ и йс я тем, что с цепью исключения коррекции электрода - инструмента на величину межэпектродного зазора, перед процессом шлифования измеряют угол, определяющий наибольшую кривизну обрабатываемой поверхности, и разворачивают деталь на половину измеренного угла относительно горизонтальной ппоскости.Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:1. Труды ЭНИМС, М., 1970, с.173- 180.