Способ определения толщины изделий

ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДВЛДЬСТВУ Своз Советских Социалистических Республик(22) Заявле с присоедн 12,01,77 (21) 2443134/25 28ннем аявкн1)М, Кл, 601 В 17102 Государственный комитет Совете Инниотрое СССР по девам изооретеннй и открытий. Ермолов Центральный научно исследовательский институт технологии машиностроения и Московский энергетический институт Заявители 4) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ИЗДЕЛИЙ зонансной час т толщи ко Изобретение относится к области нераэрушающего контроля иэделий и может бытьиспользовано для измерения толщины изделия ультразвуковым методом,Известен ультразвуковой резонансныйспособ измерения толщины изделий, заключающийся в том, что систему, состоящуюиз контролируемого изделия, столба контактирующей жидкости и пьезоэлемента, возбуждают на двух фиксированных частотахизменяют толшну слоя жидкости, добиваясь резонанса системы на каждой иэ частот, и по разности толшин слоя контактнойжидкости в момент резонанса определяюттолщину изделия 1.Недостатком известного способа являетъся то, что он позволяет получить высокуюточность измерений только для малых толщин, например меньших 0,5 мм,Наиболее близким техническим решениемявляется способ, заключающийся в том, чтов системе "контролируемое иэделие - слойконтактной жидкости - пьезопластина возбуждают с помошью пьезопластины ультразвуковые колебания переменной частоты и 1 регистрируют значение ре тоты, по которой определяю ну нзъролируемого изделии 2.Недостатком известного способа измере 5 ния. Толщины является наличие погрешпостГизмерений, связанной с нестабильностьютолщины слоя контактной жидкости.Цель изобретения - повышение точностиизмерений.10 Эта пель достигается тем, что увеличивают толщину контактного слоя и измеряютрезонансные частоты сястемы при различных значениях толшин слоя, анализируютамплитуды резонансных сигналов, а толщи 1 В ну рассчитывают по частоте, соответствующей минимальной амплитуде.На фиг, 1 показаны графики зависимости резонансной частотыот толщины слояконтактной жидкости Д при различной 20 толщине контролируемого изделия де, построенные для конкретного случая (кварце-вый пьезопреобразователь через слой транформаторного масла возбуждает упругиеколебания в алюминиевом иэделии); на 25 фиг. 2 показана зависимость нормирован60805 С резонансной частоты от толщины слоя контактной жидкости. формула изобретении Способ определении толщины иэделий,заключающийся в том, что возбуждают спомощью пьезопластины через контактныйслой ультразвуковые, колебания в системеконтролируемое изделие - контактныйслой-пьезопластина", измеряют резонансную частоту етой системы и по ее значениюрассчитывают толщину контролируемого иэделия, о т л и ч а ю ш и й с я тем, что,с целью повышения точности измерений,увеличивают толщину контактного слоя иизмеряют резонансные частоты системы приразличных значениях тогпцин слоя, анализируют амплитуды резонансных сигналов, атолщину рассчитывают по частоте,соответствующей минимальной амплитуде,Источники информации, принятые во внимание при акспертизеф1. Лвторское свидетельство СССРМц 176713, кл, 6 01 В 17/02, 18.01,65.2, Шрайбер Д. С. Ультразвуковая дефектоскопия, М., 1965, с. 122. СоставительТехред А. Б ки Редактор П, Старп М. И гдарректор Н. Яцемирска Подписное 1 ицнстров СССытий Тираж 872 осударствеццого комите по делам изобре осква, Ж, РаушскаяЗаказ 278 та Советеннй н оцабд. ПП фПатецтф, г. Ужгород, ул. Проектная ной амплитуды резонансного сигнала оттолщины слоя контактной жидкости.Способ заключается в следующем: всистеме "контролируемое изделие - слойконтактной жидкости пьезопластинаф приминимально допустимой толщине контактцсмго слоя возбуждают ультразвуковые колебания переменной частоты. В момент, когдав системе образуется волна, регистрируютзначение частоты и амплитуды резонансного урсигнала. После чего, увеличивая толщинуслоя контактной жидкости, путем изменениярасстояния от пьеэопластины до контролируемого изделия, регистрйруют ряд значений частот и амплитуд резонансных сигна- рлов при различных значениях толщин слоя,добиваясь минимального значения амплитудды резонансного сигнала. При атом, каквидно на фиг. 1 и фиг. 2 минимальное значение амплитуды резонансного сигнала соответствует диапазону толщин слоя контактнойжидкости, при котором зависимость резонансной частоты от толщины контактногослоя слабо выражена,Таким образом, использование предлагае- Имого способа измерения толщины позволяетповысить точность измерений эа счет уменьшения погрешности, выэваннойэавксимостью а,аа аи ааа а,аа о аю ое ииФиг. Г