Способ определения параметров дефекта

ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскик Социалистических . Республик(45) Дата опубликовани Геераеретееееыб кааететВееете Менеетрае ВВВРее аваев езабретееейе етерытеб 53) У(7) Заявител Физико-механический институт АН Украинской СС ПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДЕФЕКТА ния деефектапо ве- остав 10 Изобретение касается дефектоскопии методом вихревых токов и может быть использовано для определения параметров дефектов.Известно определение глубины залегания дефекта путем сравнения амплитуд сигналов на разных частотах 1 б. Этот способ предполагает наличие двух измерительных трактов, работающих на разных частотах и включающих в себя высокочастотные генераторы. Аппаратура, реализующая этот способ, сложна в изготовлении и эксплуатации.Ближайшим по технической сущности к изобретению является способ.определения параметров дефектов, заключающийся в том, что возбуждают в контролируемом объекте электромагнитное поле, измеряют в результирующем поле одну иэ ссставляющих аномального поля, представляют сигнал от этой составляющей в комплексной плоскости и определяют глубину залегания и эффективную величину дефекта соответственно по измерению угла наклона и размаха го- дографа; который получают при сканировании над дефектом т 23.Для упрощения реализации способана поверхности иэцелия определяют положение максимумов тангенцнальнои и нормальной составляющих индукции аномального поля и по расстоянию междуними определяют глубину эалегафекта, а эффективные размеры днаходят при известной глубинеличине максимальных значений сляющих аномального поля.На Фиг. 1 изображено устройство,реализующее способ определения параметров дефекта; на Фиг. 2 показаназависимость составляющих магнитнойиндукции аномального поля дефекта отрасстояния до дефекта,Устройство состоит из генераторнойкатушки 1 и двух пар измерительныхкатушек 2,3 и 45 для измерения соответственно тангенциальной и нормальной составляющих индукции магнитногополя. Измерительные катушки расположены на прямой линии, проходящей через центр генераторной катушки симметрично относительно его с целью компенсации первичного поля при встречномсоединении измерительных катушек, Генераторная катушка 1 подсоединяетсяк генератору б гармонических колебаний, а пара катушек 2.3, измеряющихтангенциальную составляющую индукциианомального магнитного поля. посрел.:твом переключателя 7 подсоединяется599201 1 НИИПИ Заказ 1400/35 . Тираж 11 одписно ППП Патент , г. Ужгород,к-.яая,к милливольтметру 8. Сканируя катушками поверхность контролируемого изделия, Фиксируют точку (см.фиг.2), вкоторой наблюдают максимум сигналаФкоивая а ), наведенного тангенииальной 5составляющей индукции магнитного поляф .Для данной конструкции датчикатаких точек две,используют одну из них.Затем пооизводят измерение нормальнойсоставляющей, и фиксируют на поверх- Юности один из максимумов сигнала, наведенного этой составляющей (криваяф ). Измеряют расстояние на поверхности между зафиксированными точками.Умножая полученное значение расстоя- )5ния )1, на коэффициент К, получаютискомое значение глубины залеганиядефекта й . Для определения коэффициента к постоянного для данного материала и частоты контроля, изготавливают прокладку иэ этого материалатолщиной И 1, кладут ее на контролируемое изделие и проделывают все описанные выше операции. для случая спрокладкой получают расстояние ,ИзФормулы 25 получают искомый коэффициент пропорциональности. При известной глубинезалегания И и сигнале Р одной из паркатушек в точке максимума эффективный размер дефекта Р определяют по упрощенной формулеР=н (ТДля построения графика Н ( и) Используется ряд прокладок известной толщины из контролируемого материала и одну прокладку единичной толщины с отверстием единичного диаметра.При реализации данного способа засчет измерения только амплитудных характеристик сигнала существенно упрощается аппаратура контроля,Формула изобретенияСпособ определения параметров дефекта, заключающийся в возбужденииэлектромагнитного поля в контролируемом объекте и измерении в результирующем поле аномального магнитного поля,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, сцелью упрощения реализации способа,на поверхности изделия определяют положение максимумов тангенциальной инормальной составляющих индукции аномального поля и по расстоянию между ними определяют глубину залегания дефекта, а эффективные размеры дефекта находят при известной глубине по величине максимальных значений составляющих аномального поля.Источники информации, принятые вовнимание при экспертизе:1. Авторское свидетельство СССРЮ 191196, кл. Я 01 Й 27/86, 1965.2. Авторское свидетельство СССРМ 179070, кл, С 01 й 27/86, 1965.