Устройство для обнаружения дефектов в изделиях из магнитного материала
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ЛЪ 55016 Класс 421, 20,НИЕ ИЗОБРЕТЕН К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ,ВЫДАННОМУ НАРОДНЫМ КОМИССАРИАТОМ ОБОРОННОИ ПРОМЫШЛЕННОСЗарегистрировано в Бюро последующей регистрацииобретений Госплана при СНК СССР С. Т, Назаров, А. К. Хр И. Васильев идефектов ватер иала,лиях аявлеио 9 января 1938 года за М 3586. Опубликовано 30 июня 1939 года, Соответственнома выполнена в впеременного токабуждения ее исполпоток рассеянияместа изделия,с этим вся систеиде ротора машиныпричем для возьзуется магнитный у поврежденного р п 1000 2060 60.2 Устройство для обнаружения мРяд известных методов магнитной дефектоскопии основан на улавливании потоков рассеяния, возникающих при наличии дефекта у поверхности исследуемого тела, при намагничи. ванин его сильным магнитным полем.Для обнаружения потоков рассеяния обычно пользуются индикаторными катушками, которые для этой цели перемещаются вдоль поверх. ности исследуемого намагниченного тела. Если катушка попадает в ма гнитное поле рассеяния, то в ней индуктируется напряжение, воздействующее на чувствительное реле или на измерительный прибор,В ряде случаев уже предлагалось для повышения чувствительности сообщать катушке дополнительное колебательное движение. При этом в последней возникает переменное напряжение.В предлагаемом, согласно изобретению, устройстве колебательноедвижение катушки заменено вращением ее или целой системы однотипных катушек у поверхности исследуемого тела. На чертеже фиг. 1 и 2 изображают две различные формы выполнения предлагаемого устройства.На вращающейся оси 1 укреплен по окружности ряд электромагнитов 2. Последние могут быть включены последовательно, На оси системы укреплены контактные кольца 3, к которым присоединены концы обмоток электромагнитов, При вращении всей системы в каждой из катушек при прохождении ее в поле рассеяния над поврежденным местом изде. лия будет возникать переменная э. д. с. Основная частота наведенной э. д. с. будет пропорциональна числу катушек и скорости их вращения. Так, например, при 20 катушках и 1000 оборотов катушек частотаПеременный ток указанной частоты может быть легко обнаружен при помощи телефона. Частота может быть легко доведена до величины порядка 1000 Нг, к которой наиболее чувствительно ухо. На фиг, 2 представлен второй вариант подобного искателя. Конструктивное выполнение отличается применением одной общей катушки 4, сердечник б которой выполнен в виде двух дисков и снабжен по окружности рядом зубцов,Предмет изобретения.Устройство для обнаружения дефектов в изделиях из магнитного материала путем намагничивания изделия постоянным магнитным полем и выявления потоков рассеяния, воз пикающих в месте повреждения, при помощи искателя по типу электромагнитной катушки, перемещаемой вдоль поверхности исследуемого предмета и связанной с каким-либо индикатором, отличающееся тем, что искатель выполнен в виде ряда укрепленных на оси электромагнитов, предназначенных для приведения их во вращение с заданной скоростью в плоскости, перпендикулярной к поверхности исследуемого изделия, с той целью, чтобы можно было произвольно менять частоту индуктируемого в них под действием потоков рассеяния напряжения, улавливаемого при помощи какого. либо индикатора, например, по типу обычного телефона.
СмотретьЗаявка
3586, 09.01.1938
Васильев А. И, Назаров С. Т, Хренов К. К
МПК / Метки
МПК: G01N 27/83
Метки: дефектов, изделиях, магнитного, обнаружения
Опубликовано: 01.01.1939
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-55046-ustrojjstvo-dlya-obnaruzheniya-defektov-v-izdeliyakh-iz-magnitnogo-materiala.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для обнаружения дефектов в изделиях из магнитного материала</a>
Способ определения излучательной способности поверхности твердых тел
Номер патента: 1141845
Опубликовано: 07.04.1988
Авторы: Куприс, Сегалович, Тамонис
МПК: G01J 5/00
Метки: излучательной, поверхности, способности, твердых, тел
....измеряется интенсивность излучения излучающей среды 2, противорасположенной поверхности 1 в окрестности точки 6 поверхности, а также отраженное излучение из точки 7 поверхности. Путем изменения глубины погружениЯ ОУУдУк Ук, Ук фУу,подвижного узкоугольного радиометра 3 измеряется интенсивностьизлучения в соответствующих точкахизлучающей среды 1. В тех же точкахизмеряется температура Тизлучающей среды 2. Отдельно измеряется температура Т поверхности 1. Так кактемпература поверхности Т, значительно превышает температуру чувствительного элемента 4, то спектральнаяинтенсивность излучения 1(у 1 с), падающего на чувствительный элемент 4,определяется по формуле1141845 Ф ч1 (ус) =Т,р, 1 а(1-1 Я)ехр(-2 -с )Г(сд,аа,Трд спектральная...
Способ определения меди на поверхности твердых тел
Номер патента: 558858
Опубликовано: 25.05.1977
Авторы: Сидоренко, Туманов, Шахверди
МПК: C01G 3/00
Метки: меди, поверхности, твердых, тел
...ртути, коба свивав и некоторых других компонен золота и ртути при взаимодействии с родюй кислотой образуют продукть ной, как и в случае меди, окраской, истинную картину,3 Составителл 8. АбрамоваТехред 3, Фанта Коррекгор А.дэкида Редактор Р. Пурнам Тираж б 58 Подписное ЦПИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Рэушская наб., д. 4/5Заказ 1298/79 Филиал ППП "Патент ", г, Ужгород, ул Проектная, 4 Продукты взаимодействия солей других металлов с рубеаловодородной кислотой дают ину о окраску, но наложение различно окрашенных слое:. маскирует окраску продуктов взаимодействия солей меди с рубеановодородной кислотой и,затрудняет анализ.Известные способы маскировки мешающихка...
Способ определения удельной поверхности твердых тел
Номер патента: 991261
Опубликовано: 23.01.1983
Авторы: Дмитриев, Дмитриева, Шефтелевич, Шмидель
МПК: G01N 7/02
Метки: поверхности, твердых, тел, удельной
...Методы анализа катализаторов нефтепереработки. М., "Химия"1973, с. 72-77,2.Киселев А.В., Древинг В.П. Экс 60 пери нт ьные метод в адсорбции имолекулярной хроматографии, Изд-воМГУ, 1973, с. 214-220. Тираж 871 Подписное филиал ППП "Патент", г.ужгород,ул,Проектная,4 ка несорбирующегося газа, а над поверхностью другой " потока смесинесорбирующегося и сорбирующегося гаэов, одновременном охлаждении и нагреве этих навесок, потоки газов перекрывают перед охлаждением и измеряют разность скоростей охлажденияи нагрева навесок, а затем абсолют"ные значения разностей складывают.Действительно, при сорбированиигаза твердым телом выделяется теплота сорбции, за счет которой нагрева"ется испытуемый образец и окружающая среда, причем при...
Способ определения дефектов на поверхности твердых тел
Номер патента: 1013830
Опубликовано: 23.04.1983
Авторы: Букин, Гуфранов, Прусакова, Розанцев, Халилов
МПК: G01N 24/10
Метки: дефектов, поверхности, твердых, тел
...поверхности, и по изменениям величинысигнала ЭПР во времени сурят о тийе дефектов. аНа Фиг, 1 представлена блок-схема установки ЭИР, на которой производят измерения типа дефектов по предлагаемому способу; на Фиг. 2 - зависимость изменения интенсивности сигнала ЭПР во времени при непрерывном удалении индикатора; на Фиг. 3 и 4 представлены калибровочные графики дпя3 1013830 ффопределения ширины и глубины дефек- скоростью. Угол наклона каждоготов, соответственно. .участка ломанной линии " 4 т 5 и 4-6;Способ осуществляется в следую- т.е. а и с 2 определяет ширину расщей последовательности операций.крытия каждой трещины. Для этого поИсследуемый образец помещаюткалибровочному графику (Фиг, 3) дляв жидкий стабильный.нитроксильный ра- каждого...
Способ определения времени жизни адсорбированных частиц на поверхности твердого тела
Номер патента: 1265547
Опубликовано: 23.10.1986
МПК: G01N 13/00
Метки: адсорбированных, времени, жизни, поверхности, твердого, тела, частиц
...а время=Т-с запирания пото.ка недостаточным для полной десорбции 50частиц, адсорбированнык в предыдущийполупериод, то поверхностная концентрация адсорбированнык частиц и соответственно ионный ток десорбирующнхся частиц будут промодулированы 55с той же частотой модуляции, при этомони от периода к периоду будут возрастать. Процесс роста будет про 47 2должаться до тех пор, пока не установится некий квазистационарныйток, колеблющийся от 1 до 1 ммакси зависящий от времени жизнииони 1зирующихся частиц, частоты Р=и скважности модуляции= (крисвые 2 и 3).установлено, что эти величины связаны следующим соотношением7ф-. (1)Р, .1 ЬИЮсмикгде- скважность модуляции;Р - частота модуляции;макс У- максимальное и минимальноезначение ионного тока...
Предыдущий патент: Очки
Следующий патент: Устройство для регулирования количества подаваемой в котел воды
Случайный патент: Способ разжижения цементно-сырьевого шлама