Способ тепловой дефектоскопии изделий

Номер патента: 546813

Авторы: Карпельсон, Попов

ZIP архив

Текст

АНЙ п 54683 ОПИС Е ИЗОБР ЕТ ЕН И Я Союз Советских Социалистических Республик) Приорите Государственнын к Совета Министров ло делам изобре(088,8) публиковано 15 02 четень6 и открытий та опубликования описания 03.03,7 2) Авторы изобретеш Ю, А. Попов и А рпельс 71) Заявитель(54) СПОСОБ ТЕПЛОВО Изобретение относится к тепловои дефектоскопии изделий,Известен способ тепловой дефектоскопии изделий, заключающийся в нагреве поверхности изделия и последующей регистрации температурного распределения нагреваемой поверхности 1). Местоположение дефекта находят по виду полученного температурного рельефа.Этот способ не позволяет исключить влияние излучательной способности поверхности изделия, что снижает точность измерений.С целью повышения точности измерений по предлагаемому способу изделие нагревают сначала с одной, а затем, после его остывания, с противоположной поверхности, причем каждый раз регистрируют распределение температуры одной и той же поверхности, после чего сравнивают полученные распределения температуры, по которой судят о местоположении дефекта,На фиг. 1 изображен процесс контроля; на фиг. 2 и 3 - температурные распределения вдоль линии сканирования.Изделие с поверхностями А и Б и с дефектом Д в виде расслоения (см, фиг. 1) нагревается источником тепловой энергии с поверхности А, а радиометр измеряет температуру поверхности А, На фиг. 2 изображено распределение температуры Т на поверхности А ФЕКТОСКОПИИ ИЗДЕЛИЙ 2вдоль линии сканирования (.Х) этой поверхности радиометром через некоторое время после начала нагрева, На фиг. 3 изображено распределение температуры Т вдоль той же 5 линии сканирования (Х), что и на фиг. 2, ноуже при нагревании образца со стороны поверхности Б, после того, как он остынет после первого нагревания. Участок а на фиг. 2 и 3 соответствует области поверхности над де фектом, участки б и в - областям поверхности с изменением коэффициента излучения как в большую, так и в меньшую сторону, На участке а (см. фпг. 2) уровень выходного сигнала радиометра выше, чем на бездефектных 15 участках, однако наличие помех из-за изменения величины коэффициента излучения на поверхности А не позволяет сразу выявить дефект по повышеншо уровня сигнала. Кривая температурного распределения на фиг. 3 пме ет тот же вид, что и на фиг. 2 на всех участках, кроме области дефекта, Температура на этом участке (а на фиг. 3) ниже, чем на бездефектных участках. Сравнение двух полученных кривых (см. фиг. 2 и 3) позволяет 25 установить, что на участке, где они не совпадают (участок а), имеет место особенность в изделии (в данном случае - расслоение), а на участках б и в - изменение коэффициента излучения поверхности. Аналогичные резуль таты дает применение данного способа прпэ 41)813 Составитель С. Беловодченко актор Т. Логинова Техред А. Галахова Корректор Н, Заказ 244 у 13ЦНИ Изд205 ПИ Государственно по делам и 113035, Москва, Тираж 1054 комитета Совета Министров С бретений и открытийПодписноР Типография, пр, Сапунова,регистрации температурного распределения поверхности изделия при помощи тепловизора. Формула изобретенияСпособ тепловой дефектоскопии изделий, заключающийся в нагреве поверхности изделия и последующей регистрации температурного распределения нагреваемой поверхности, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, изделие иагревают сначала с одной, а затем, после е 1 оостывания, с противоположной поверхности,причем каждый раз регистрируют распределение температуры одной и той же поверхно 5 сти, после чего сравнивают полученные распределения температуры, по которой судят оместоположении дефекта.Источник информации, принятый во внимание при экспертизе:10 1, Статья Н. Л. Бекешко в ж. Дефектоскопия5, 1975 г. (прототип),

Смотреть

Заявка

2059008, 11.09.1974

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6303

ПОПОВ ЮРИЙ АНАТОЛЬЕВИЧ, КАРПЕЛЬСОН АРКАДИЙ ЕФИМОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскопии, тепловой

Опубликовано: 15.02.1977

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-546813-sposob-teplovojj-defektoskopii-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ тепловой дефектоскопии изделий</a>

Похожие патенты