Способ определения параметров пристеночной плазмы

Номер патента: 527097

Автор: Немировский

ZIP архив

Текст

ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистичесних Реслублин527097 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ Дополни 1 ельное к т, с 2) Заявлено 16.1173 (2)1 присоединением заяв осударственный номнтеСоввта Министров СССРпо делам нэооретеннйн открытий(23) Г 1 риорит (43) Опублик (45) Дата оп вано 2) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПЛРЛМЕТРОВ ПРИСТЕНОЧНОЙ ПЛЛЗМЫ еба ассеяни функци их волн, по которым опрепеля тиочыми у з ш о15 ысометрически и оптическим уся с помощьюти аппарата, исзования и пользующего операторы прео Изобретение относится .к ракетнойтехнике, антенной технике, физике т 1 лаи может быть использовано для пиагноски радиофизических параметров пристенной плазмы на быстролетяших обьектахлабораторных установках, упарных трубИзвестен способ определения парамров пристеночной плазмы, заключаюшив зондировании плазмы электромагнитыволнами с одной частотой через апертуиз прямоугольного волновода. Измеряюткомплексный коэффициент отражения вмерительном сечении волновода с помоспециального устройства и определяютформулам функции распределения парамров плазмы из класса функций, парамеэованных двумя параметрами,Однако известный способ имеет невкую точность, поск ольку определениеций распределения производят в оченьком классе функций.Цель изобретения - повышение точн измерений параметров плазмы.Эта цель достигается тем, что в плазмевозбуждают электромагнитные волны с од 587/26.-2, (51) М, Кл,01 М 21/00 ой частотой, но разной модой к змеряют коэффициенты матрицы распределения параметров плазмы.Способ опрепеления параметров пристеночной плазмы заключается в том, что с помощью волновода уВеличенного сечения и излучающей апертуры от СВЧ-генератора подводят ряд моп одной частоты к присте- ночному слою плазмы, Отраженные от плазмы моды распространяются по волновопу в обратном направлении, В измерительном сечении волновода расположено устройство, которое измеряет коэффициенты матрицырассеяния мои, соответствующие определенным функциям распределения параметр ров плазмы. По измеренным коэффициентам расчетным путем определяют функции распределения параметров плазмы из достаточно широкого класса ограниченных функций(не задаваемых вообще пара не уповлетворяюших геометро ловиям). Указанное достигаетс специального математическогЗаказ 5011/29 Тираж 1101 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР до делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5филиал П 11 П "Патент", г. Ужгород, ул, Проектная, 4 позволяюшего интерпретировать характеристики отра;кенного поля в широком классе функций. Это важно, поскольку в ряде практических задач ограничение типа геометрической оптики является принципиальным,формула изобретенияСпособ определения параметров пристейочной плазмы, заключающийся в зондированин плазмы электромагнитными волнами, о т л и ч а ю ш и й с я тем, что, с целью повышения точности измерений, в плазме возбуждают электромагнитные волны с одной частотой, но разной модой колебаний и измеряют коэффициенты матрицы рассеяния этих волн, по которым определяют функции распределения параметров плазмы.

Смотреть

Заявка

1973587, 16.11.1973

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2645

НЕМИРОВСКИЙ В. А

МПК / Метки

МПК: G01N 21/00

Метки: параметров, плазмы, пристеночной

Опубликовано: 25.12.1977

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-527097-sposob-opredeleniya-parametrov-pristenochnojj-plazmy.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения параметров пристеночной плазмы</a>

Похожие патенты