Способ регулирования пределов измерений абсорбционных анализаторов

Номер патента: 283400

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Гуськов, Покровский

МПК: G01R 29/08

Метки: волны, длины, оптических, сигналов

...из интерферометра Фабри-Перо 1 с пьезоэлектрическим преобразователем 2, фотодетектора 3 с нагрузочным сопротивлением 4, диодной пороговой схемы, включающей диод б, сопротивления б, 7 и источник 8 порогового напряжения Е, измерителя временного интервала 9, генератора 10 положительных импульсов и схемы пилообразной развертки 11 с анодно-сеточной связью, которая среди подобных схем имеет наилучшую линейность,Работа устройства основана на том, что резонанс в ИФП возникает тогда, когда на его длине укладывается целое число полуволн сигнала, Передаточная характеристика ИФП в функции длины показана на фиг. 2,а,Если изменять длину ИФП с помощью пьезоэлектрического преобразователя, то через интервал перестройки Ю=Х/2 можно получать максимумы...

Номер патента: 1436028

Опубликовано: 07.11.1988

Авторы: Андрианов, Киселев, Константинов, Попов, Чернов

МПК: G01J 1/20, G01N 21/59

Метки: коэффициента, оптического, пропускания, элемента

...не совпадали с радиусами дискамодулятора. Б этом случае при линейном смещении модулятора, что осуществляется с помощью привода 1, в направлении, перпендикулярном оси еговращения, изменяется скважность следования импульсов излучения каждогоиз потоков, а следовательно, и ихсредняя мощность,50Перемещением модулятора осуществляется выравнивание мощностей двухпотоков излучения, что контролируется с помощью блока 8 ,.сравнения, который может быть выполнен, например,в виде дифференциального усилителя,входы которого через Фильтры низкойчастоты подключены к выходам Фотоприемников, а его выход подключен к показывающему прибору, например цифро-, вому вольтметру, С помощью коммутатора 10 измеритель 9 длительности импульсов подключают сначала к...

Номер патента: 842496

Опубликовано: 30.06.1981

Авторы: Месропян, Ованесян

МПК: G01N 15/02

Метки: определенияразмеров, оптически, плот-ных, подсчета, средах, частиц

...и электронный блок обработки сигналов, введены два ослабителя с переменной оптической плотностью, при этом первый ослаби-. тель расположен между осветителем и 45 входным окном кюветы, а второй ослабитель - между выходным окном кюветы и фотоприемником..Кроме того, ослабители выполнены в виде светопроницаемых ячеек, имеющих Форму прямоугольных треугольных призм, и установлены так, что их гранирасположенные напротив преломляющих углОВ находятся В плоскостях Вы ходного и входного окон кюветы соответственно.Ослабитель может быть выполнен ввиде оптического клина из нейтральноЬ фго стекла, штрихового оптического клина или призматической кюветы треуголЬного сечения. Внутренняя полость кюветы-ослабителя перед проведением анализа заполняется...

Номер патента: 872973

Опубликовано: 15.10.1981

Авторы: Антропов, Карпухин, Кондратьев, Конев, Кочетов

МПК: G01J 1/04

Метки: коэффициента, оптической, отражения, поверхности, фотометр

..., 1 - коэффициенты отражения соответственносветоделителя 3,полупрозрачного оп 35тического элемента9 и контролируемоиповерхности 5;р р р - коэффициенты пропускания фокусирующей40линзы б, светоделителя 3 и полупрозрачного оптическогоэлемента 9;10 - интенсивность светового потока от источ 45ника;К - коэффициент передачиприбора,Из (1) и 2) получают:(фф" ф,1 ф) К. (З) Коэффициент К, равный 1/Я., определяют градуировкой прибора с помощьюэталонных оптических поверхностей сизвестным коэффициентом отражения.Отсчет Ф может быть выражен соотношением5 8729 где Й - суммарный коэффициент.отраже"ния полупрозрачного оптического элемента 9 и контролируемой поверхности 5, откоторого зависит чувствительность измерений.Если со стороны светоделителя 3 падает...

Номер патента: 947641

Опубликовано: 30.07.1982

Авторы: Кудрявцев, Финарев

МПК: G01B 11/06

Метки: образцов, оптических, свойств, толщины, эллипсометр

...содержащем тубус падающегосвета и тубус отраженного света,установленные под углом друг к другу, кювету для размещения образцаи оптические окна, оптические окнарасположены на торцах тубусов, обращенных к кювете.На чертеже изображена принципиаль.ная схема эллипсометра для измерения толщины и оптических свойствобразцов.Эллипсометр содержит тубус 1 падающего света и тубус 2 отрЙженногосвета, декоративные крышки 3 и 4,полые трубки 5 и 6, вставленные внаправляющие втулки 7 и 3 каждогоиз тубусов, оптические окна 9 и 10,из плавленного кварца, приклеенныек торцу каждого тубуса, кювету 11для размещения образца, выполненнуюв виде стакана и расположенную напредметном столике 12. В стакане(кювете) 11 имеется отверстие соштуцером, который...